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MF072300 - SEMI MF723 - 붕소 도핑, 인 도핑 및 비소 도핑 실리콘에 대한 비저항과 도펀트 또는 캐리어 밀도 간 변환 실습
SEMI MF723 - 붕소 도핑, 인 도핑 및 비소 도핑 실리콘에 대한 비저항과 도펀트 또는 캐리어 밀도 간 변환 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF181000 - SEMI MF1810 - 실리콘 웨이퍼에서 우선적으로 에칭되거나 장식된 표면 결함을 계산하기 위한 테스트 방법
SEMI MF1810 - 실리콘 웨이퍼에서 우선적으로 에칭되거나 장식된 표면 결함을 계산하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G06500 - SEMI G65 - L-리드(갈매기 날개 유형) 패키지에 사용되는 리드프레임 재료 평가를 위한 테스트 방법
SEMI G65 - L-리드(갈매기 날개 유형) 패키지에 사용되는 리드프레임 재료 평가를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F11000 - SEMI F110 - 액체 필터의 단분산 폴리스티렌 라텍스(PSL) 문제에 대한 테스트 방법
SEMI F110 - 액체 필터의 단분산 폴리스티렌 라텍스(PSL) 문제에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF004200 - SEMI MF42 - 외부 반도체 재료의 전도도 유형 테스트 방법
SEMI MF42 - 외부 반도체 재료의 전도도 유형 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF161900 - SEMI MF1619 - 브루스터 각도에서 p-편광 방사 입사를 사용한 적외선 흡수 분광법에 의한 실리콘 웨이퍼의 격자간 산소 함량 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1619 - 브루스터 각도에서 p-편광 방사 입사를 사용한 적외선 흡수 분광법에 의한 실리콘 웨이퍼의 격자간 산소 함량 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F07500 - SEMI F75 - 반도체 제조에 사용되는 초순수 품질 모니터링 가이드
SEMI F75 - 반도체 제조에 사용되는 초순수 품질 모니터링 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F10100 - SEMI F101 - 가스 분배 시스템에서 압력 조절기 성능을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI F101 - 가스 분배 시스템에서 압력 조절기 성능을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF123900 - SEMI MF1239 - 침입형 산소 환원 측정에 의한 실리콘 웨이퍼의 산소 석출 특성 시험 방법
SEMI MF1239 - 침입형 산소 환원 측정에 의한 실리콘 웨이퍼의 산소 석출 특성 시험 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF002600 - SEMI MF26 - 반도체 단결정의 배향 결정을 위한 테스트 방법
SEMI MF26 - 반도체 단결정의 배향 결정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF052300 - SEMI MF523 - 연마된 실리콘 웨이퍼 표면의 육안 검사 실습
SEMI MF523 - 연마된 실리콘 웨이퍼 표면의 육안 검사 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F06300 - SEMI F63 - 반도체 공정에 사용되는 초순수 가이드
SEMI F63 - 반도체 공정에 사용되는 초순수 가이드 할인 가격Member Price: ₩252
Non-Member Price: ₩571,000
M04100 - SEMI M41 - 전력 장치/IC용 SOI(Silicon-on-Insulator) 사양
SEMI M41 - 전력 장치/IC용 SOI(Silicon-on-Insulator) 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M05800 - SEMI M58 - DMA 기반 입자 증착 시스템 및 프로세스를 평가하기 위한 테스트 방법
SEMI M58 - DMA 기반 입자 증착 시스템 및 프로세스를 평가하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF161800 - SEMI MF1618 - 실리콘 웨이퍼 상의 박막 균일도 측정 실습
SEMI MF1618 - 실리콘 웨이퍼 상의 박막 균일도 측정 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M04600 - SEMI M46 - ECV 프로파일링을 통해 에피택셜 층 구조에서 캐리어 농도를 측정하기 위한 테스트 방법
SEMI M46 - ECV 프로파일링을 통해 에피택셜 층 구조에서 캐리어 농도를 측정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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M02100 - SEMI M21 - 데카르트 배열의 직사각형 요소에 주소 할당 가이드
SEMI M21 - 데카르트 배열의 직사각형 요소에 주소 할당 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F02500 - SEMI F25 - 등급 10/0.2 산화제 특수 가스의 입자 농도 사양
SEMI F25 - 등급 10/0.2 산화제 특수 가스의 입자 농도 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M06100 - SEMI M61 - 매립층이 있는 실리콘 에피택셜 웨이퍼 사양
SEMI M61 - 매립층이 있는 실리콘 에피택셜 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M07900 - SEMI M79 - 태양 전지 응용 분야를 위한 원형 100mm 광택 단결정 게르마늄 웨이퍼 사양
SEMI M79 - 태양 전지 응용 분야를 위한 원형 100mm 광택 단결정 게르마늄 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF156900 - SEMI MF1569 - 반도체 기술에 대한 합의 참조 자료 생성 가이드
SEMI MF1569 - 반도체 기술에 대한 합의 참조 자료 생성 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G01500 - SEMI G15 - 모르딩콘파운드示差走査熱量分析の標準試験方法
SEMI G15 - 모르딩콘파운드示差走査熱量分析の標準試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
MF172500 - SEMI MF1725 - 실리콘 잉곳의 결정학적 완전성 분석 실습
SEMI MF1725 - 실리콘 잉곳의 결정학적 완전성 분석 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF067200 - SEMI MF672 - 확산 저항 프로브를 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면에 수직인 비저항 프로파일 측정 가이드
SEMI MF672 - 확산 저항 프로브를 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면에 수직인 비저항 프로파일 측정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
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