SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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1625 製品

C10200 - SEMI C102 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) 研磨パッドの密度と空隙率を報告するためのガイド
PV09100 - SEMI PV91 - ポリシリコン製造に使用されるトリクロロシランの仕様
SEMI PV91 - ポリシリコン製造に使用されるトリクロロシランの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
3D02100 - SEMI 3D21 - 3DS-IC プロセスで使用するガラスベースの材料を記述するためのガイド
HB01100 - SEMI HB11 - HB-LED ウェーハの製造に使用するためのサファイア単結晶インゴットの仕様
C10300 - SEMI C103 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) コンディショニング ディスクの性能パラメータを報告するためのガイド
PV09800 - SEMI PV98 - 太陽光発電 (PV) モジュールのバック レール固定具用のシリコーン接着剤の仕様
3D02200 - SEMI 3D22 - ガラスの開口部とビアの測定に関するガイド
SEMI 3D22 - ガラスの開口部とビアの測定に関するガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E18400 - SEMI E184 - 300 mm テープ フレーム FOUP ロード ポートの仕様
SEMI E184 - 300 mm テープ フレーム FOUP ロード ポートの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E18600 - SEMI E186 - マスフローコントローラーおよびマスフローメーターの電源コネクタおよびEthercatポートの位置と寸法の仕様
E18000 - SEMI E180 - 半導体ウェーハ処理に使用される重要なチャンバーコンポーネントの ICP-MS による表面金属汚染測定の試験方法
HB01200 - SEMI HB12 - ドライエッチングパターン付きサファイア基板 (DPSS) の仕様
SEMI HB12 - ドライエッチングパターン付きサファイア基板 (DPSS) の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV09800 - SEMI PV99 - 建物一体型太陽光発電 (BIPV) の分類
SEMI PV99 - 建物一体型太陽光発電 (BIPV) の分類 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
A00200 - SEMI A5 - SEMI A2 SMASH (SMASH-FOX) の工場出荷時動作拡張の仕様
AUX00500 - SEMI AUX005 - SEMI S2-93A と S2-0200 の比較表
SEMI AUX005 - SEMI S2-93A と S2-0200 の比較表 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥28,100
PV09400 - SEMI PV94 - エレクトロルミネッセンス (EL) イメージングによる結晶シリコン太陽電池 (PV) モジュールのセル欠陥の特定に関するガイド
PV09600 - SEMI PV96 - 結晶シリコン太陽電池の試験および選別装置の設計ガイド
SEMI PV96 - 結晶シリコン太陽電池の試験および選別装置の設計ガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E18700 - SEMI E187 - 製造装置のサイバーセキュリティ仕様
SEMI E187 - 製造装置のサイバーセキュリティ仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥62,700
E18500 - SEMI E185 - 300 mm テープ フレーム FOUP の仕様
SEMI E185 - 300 mm テープ フレーム FOUP の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV09300 - SEMI PV93 - 太陽電池の光および高温誘発劣化 (LeTID) 感受性の加速セルレベル試験の試験方法
M04900 - SEMI M49 - 130 nmから65 nmへの技術世代のシリコンウェーハ用ジオメトリ測定システム規定のためのガイド
3D02000 - SEMI 3D20 - パネル レベル パッケージング (PLP) アプリケーションのパネル特性の仕様
M00100 - SEMI M1 - 鏡面単結晶シリコンウェーハの仕様
SEMI M1 - 鏡面単結晶シリコンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥75,400
3D01900 - SEMI 3D19 - 薄いチップのハンドリングに使用される粘着トレイの粘着強度の試験方法
MS00800 - SEMI MS8 - 微小電気機械システム (MEMS) パッケージの気密性評価ガイド
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