SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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1625 製品

E17900 - SEMI E179 - プロトコルバッファの共通コンポーネントの仕様
SEMI E179 - プロトコルバッファの共通コンポーネントの仕様 セール価格 Member Price : ¥113
3D02200 - SEMI 3D23 - パネルレベルパッケージング (PLP) アプリケーションのガラスキャリア特性の仕様
SEMI 3D23 - パネルレベルパッケージング (PLP) アプリケーションのガラスキャリア特性の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D08000 - SEMI D80 - 高ガスバリア性プラスチックフィルムの水蒸気透過率を短時間で測定するための試験方法
SEMI D80 - 高ガスバリア性プラスチックフィルムの水蒸気透過率を短時間で測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D07900 - SEMI D79 - フレキシブル ディスプレイの局所的および全体的なちらつきのテスト方法
SEMI D79 - フレキシブル ディスプレイの局所的および全体的なちらつきのテスト方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV08800 - SEMI PV88 - 不活性ガス溶融外部吸収法による光伏多結晶硅中の酸素含有量の測定方法
SEMI PV88 - 不活性ガス溶融外部吸収法による光伏多結晶硅中の酸素含有量の測定方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥24,800
A00400 - SEMI A4 - 半導体向け自動テスト装置テスターイベントメッセージング (TEMS) の仕様
SEMI A4 - 半導体向け自動テスト装置テスターイベントメッセージング (TEMS) の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MS01300 - SEMI MS13 - ディープ反応性イオン エッチング (DRIE) プロセスの特性評価のためのテスト パターンの使用に関するガイド
SEMI MS13 - ディープ反応性イオン エッチング (DRIE) プロセスの特性評価のためのテスト パターンの使用に関するガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F11500 - SEMI F115 - 超高純度化学物質供給システムおよびコンポーネントの接液面に存在する金属元素を測定するための試験方法
SEMI F115 - 超高純度化学物質供給システムおよびコンポーネントの接液面に存在する金属元素を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
HB01300 - SEMI HB13 - HB-LED MOCVD 装置通信インターフェース用サセプタの仕様
SEMI HB13 - HB-LED MOCVD 装置通信インターフェース用サセプタの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C09900 - SEMI C99 - 化学機械平坦化 (CMP) スラリーおよび関連化学薬品の導電率を測定するための試験方法
SEMI C99 - 化学機械平坦化 (CMP) スラリーおよび関連化学薬品の導電率を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C09800 - SEMI C98 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) 粒度分布 (PSD) 測定およびレポートのガイド
SEMI C98 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) 粒度分布 (PSD) 測定およびレポートのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F11600 - SEMI F116 - 現場での水の再利用をサポートする半導体製造ツールの排水分離ガイド
SEMI F116 - 現場での水の再利用をサポートする半導体製造ツールの排水分離ガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E17700 - SEMI E177 - 電子顕微鏡ワークフローで使用される透過型電子顕微鏡 (TEM) ラメラキャリアの仕様
SEMI E177 - 電子顕微鏡ワークフローで使用される透過型電子顕微鏡 (TEM) ラメラキャリアの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E18300 - SEMI E183 - リッチ インタラクティブ テスト データベース (RITdb) の仕様
SEMI E183 - リッチ インタラクティブ テスト データベース (RITdb) の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C10000 - SEMI C100 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) 研磨パッドの硬度を報告するためのガイド
SEMI C100 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) 研磨パッドの硬度を報告するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E18100 - SEMI E181 - パネルレベルパッケージング用のパネルFOUPの仕様
SEMI E181 - パネルレベルパッケージング用のパネルFOUPの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M09000 - SEMI M90 - 優先エッチング後の光学顕微鏡によるアニールされたシリコンウェーハのバルク微小欠陥密度と無欠陥ゾーン幅の試験方法
SEMI M90 - 優先エッチング後の光学顕微鏡によるアニールされたシリコンウェーハのバルク微小欠陥密度と無欠陥ゾーン幅の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C10100 - SEMI C101 - 化学機械平坦化 (CMP) スラリーおよび関連化学薬品の pH を測定するための試験方法
SEMI C101 - 化学機械平坦化 (CMP) スラリーおよび関連化学薬品の pH を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV09500 - SEMI PV95 - 抵抗を介した太陽電池の金属ラップの試験方法
SEMI PV95 - 抵抗を介した太陽電池の金属ラップの試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F11900 - SEMI F119 - 塩化第二鉄溶液を使用した腐食性ガスシステムで使用されるステンレス鋼表面の臨界孔食温度を決定するための試験方法
SEMI F119 - 塩化第二鉄溶液を使用した腐食性ガスシステムで使用されるステンレス鋼表面の臨界孔食温度を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D08100 - SEMI D81 - フラットパネルディスプレイの調光特性の試験方法
SEMI D81 - フラットパネルディスプレイの調光特性の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
A00300 - SEMI A3 - プリント基板機器通信インターフェース仕様 (PCBECI)
SEMI A3 - プリント基板機器通信インターフェース仕様 (PCBECI) セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
S00600 - SEMI S6 - 半導体製造装置の排気に関する環境，健康，安全のガイドライン
SEMI S6 - 半導体製造装置の排気に関する環境，健康，安全のガイドライン セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥75,400
D08200 - SEMI D82 - フラットパネルディスプレイの視野角の試験方法
SEMI D82 - フラットパネルディスプレイの視野角の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
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