SEMI E183 - リッチ インタラクティブ テスト データベース (RITdb) の仕様 -

Abstract

この仕様では、半導体テストおよび関連操作のためのデータおよびイベントの共有およびストリーミング方法論について説明します。

このスキームはレガシー機器を完全にサポートしており、機器ベンダーは拡張機能を介して追加のデータ項目を柔軟に提供できます。リアルタイム、履歴、および広範囲に分散されたデータが完全にサポートされています。すべてのデータの出所は、暗号化ハッシュと署名とともにカスタマイズ可能なメタデータによってサポートされます。双方向のデータとメッセージがサポートされており、スマート製造が可能になります。

この仕様は、半導体テストセル/フロアへの、または半導体テストセル/フロア内でのデータおよびイベント通信について説明します。

この仕様では、リレーショナル データベース テクノロジに基づいた幅広いレガシー データ、最新の拡張機能、およびユーザー定義の拡張機能を保持できるデータ コンテナである RITdb について説明します。この標準は、カスタマイズ可能なメタデータとマシン検証による来歴をサポートします。

この仕様は、半導体製造用に最適化され、拡張が容易で効率的なマシン接続であるマシンツーマシン モノのインターネット (M2M-IoT) プロトコルに基づいたリアルタイム パブリッシュ サブスクライブ イベント メッセージング システムについて説明します。

参照SEMI規格（別途購入）
なし。

改訂履歴
SEMI E183-0123 (技術改訂)
SEMI E183-1121 (初公開)

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