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MF172400 - SEMI MF1724 - 酸抽出原子吸光分光法による多結晶シリコンの表面金属汚染を測定するための試験方法
SEMI MF1724 - 酸抽出原子吸光分光法による多結晶シリコンの表面金属汚染を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P02400 - SEMI P24 - CD 計測手順
SEMI P24 - CD 計測手順 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F07100 - SEMI F71 - ガス供給システムの温度サイクル試験方法
SEMI F71 - ガス供給システムの温度サイクル試験方法 通常価格¥49,500 JPY セール価格¥38,100 JPY
P01200 - SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、及びニッケルの測定
SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、及びニッケルの測定 セール価格Member Price: ¥135
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C0700 - SEMI C70 - 六フッ化タングステン（WF6）の仕様
SEMI C70 - 六フッ化タングステン（WF6）の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
F02300 - SEMI F23 - グレード10/0.2　引火性特殊ガスの粒子に関する仕様
SEMI F23 - グレード10/0.2　引火性特殊ガスの粒子に関する仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
D03000 - SEMI D30 - FPDカラーフィルタの耐光性試験方法
SEMI D30 - FPDカラーフィルタの耐光性試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P01300 - SEMI P13 - 原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト中のナトリウムとカリウムの測定
SEMI P13 - 原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト中のナトリウムとカリウムの測定 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C00358 - SEMI C3.58 - 八フッ化シクロブタン（C4F8）、電子グレード、メモリー充填、品質99.999%の仕様
SEMI C3.58 - 八フッ化シクロブタン（C4F8）、電子グレード、メモリー充填、品質99.999%の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M01000 - SEMI M10 - ガリウムヒ素ウェーハに見られる構造及び特徴の確認のための標準名
SEMI M10 - ガリウムヒ素ウェーハに見られる構造及び特徴の確認のための標準名 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G03200 - SEMI G32 - カプセル化されていない熱試験チップのガイドライン
SEMI G32 - カプセル化されていない熱試験チップのガイドライン セール価格Member Price: ¥113
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M00100 - SEMI M1 - 鏡面単結晶シリコンウェーハの仕様
SEMI M1 - 鏡面単結晶シリコンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥75,400
P01600 - SEMI P16 - 黒鉛炉原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト・金属イオンフリー（MIF）留保液中の錫の測定
SEMI P16 - 黒鉛炉原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト・金属イオンフリー（MIF）留保液中の錫の測定 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P01600 - SEMI P16 - グラファイト炉原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト金属イオンフリー (MIF) 現像液中のスズの定量
SEMI P16 - グラファイト炉原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト金属イオンフリー (MIF) 現像液中のスズの定量 セール価格Member Price: ¥113
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P02400 - SEMI P24 - CD測長手順
SEMI P24 - CD測長手順 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G02300 - SEMI G23 - 半導体パッケージの内部導体路のインダクタンスのための試験方法
SEMI G23 - 半導体パッケージの内部導体路のインダクタンスのための試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M01900 - SEMI M19 - バルク・ガリウムヒ素単結晶基板の電気的性質（仕様）
SEMI M19 - バルク・ガリウムヒ素単結晶基板の電気的性質（仕様） セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
MS00600 - SEMI MS6 - マイクロ流体システムを接続するための設計と材料のガイド
SEMI MS6 - マイクロ流体システムを接続するための設計と材料のガイド 通常価格¥49,500 JPY セール価格¥31,900 JPY
G09000 - SEMI G90 - テスト・パッケージング工程用300mmウェーハコインスタック型出荷容器の仕様
SEMI G90 - テスト・パッケージング工程用300mmウェーハコインスタック型出荷容器の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M07400 - SEMI M74 - 直径450mmメカニカルハンドリング鏡面ウェーハの仕様
SEMI M74 - 直径450mmメカニカルハンドリング鏡面ウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
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D04600 - SEMI D46 - 平面表示器偏光膜の專用術語
SEMI D46 - 平面表示器偏光膜の專用術語 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F07900 - SEMI F79 - ガス配送コンポーネントに使用されるガスのシリコンとの適合性に関するガイド
SEMI F79 - ガス配送コンポーネントに使用されるガスのシリコンとの適合性に関するガイド セール価格Member Price: ¥135
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G06400 - SEMI G64 - 全面めっきIC用リードフレーム（金、銀、銅、ニッケル、パラジウム/ニッケル、およびパラジウム）の仕様
SEMI G64 - 全面めっきIC用リードフレーム（金、銀、銅、ニッケル、パラジウム/ニッケル、およびパラジウム）の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
F05600 - SEMI F56 - マスフローコンソールの定常供給電圧の影響を測定するための試験方法
SEMI F56 - マスフローコンソールの定常供給電圧の影響を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥135
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