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D04500 - SEMI D45 - 平面表示器彩色濾光片使用、高抵抗値を含む樹脂型黑色陣電抵抗の量測定方法
SEMI D45 - 平面表示器彩色濾光片使用、高抵抗値を含む樹脂型黑色陣電抵抗の量測定方法 セール価格Member Price: ¥113
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F03000 - SEMI F30 - 据付現場における微量ガス不純物およびパーティクルに関する精製器性能テストの起動および検証
SEMI F30 - 据付現場における微量ガス不純物およびパーティクルに関する精製器性能テストの起動および検証 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03900 - SEMI M39 - 半絶縁性 GaAs 単結晶の抵抗率とホール係数を測定し、ホール移動度を決定するための試験方法
SEMI M39 - 半絶縁性 GaAs 単結晶の抵抗率とホール係数を測定し、ホール移動度を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P00200 - SEMI P2 - ハードサーフェス・フォトマスク用クロムブランク
SEMI P2 - ハードサーフェス・フォトマスク用クロムブランク セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G08100 - SEMI G81 - マップデータ・アイテムの仕様
SEMI G81 - マップデータ・アイテムの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P01500 - SEMI P15 - 原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト金属イオンフリー (MIF) 現像液中のナトリウムとカリウムの定量
SEMI P15 - 原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト金属イオンフリー (MIF) 現像液中のナトリウムとカリウムの定量 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01200 - SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法 (ICP) によるポジ型フォトレジスト中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、ニッケルの定量
SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法 (ICP) によるポジ型フォトレジスト中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、ニッケルの定量 セール価格Member Price: ¥113
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M02200 - SEMI M22 - 誘電体絶縁 (DI) ウェーハの仕様
SEMI M22 - 誘電体絶縁 (DI) ウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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P01500 - SEMI P15 - 原子光分光法によるポジティブフォトレジスト・金属イオンフリー（MIF）漸減液中の吸湿とカリウムの測定
SEMI P15 - 原子光分光法によるポジティブフォトレジスト・金属イオンフリー（MIF）漸減液中の吸湿とカリウムの測定 セール価格Member Price: ¥135
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M03600 - SEMI M36 - 低転位密度GaAs基板のエッチピット密度（EPD）の測定方法
SEMI M36 - 低転位密度GaAs基板のエッチピット密度（EPD）の測定方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P00200 - SEMI P2 - 硬質表面フォトマスク用クロム薄膜の仕様
SEMI P2 - 硬質表面フォトマスク用クロム薄膜の仕様 セール価格Member Price: ¥113
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G07100 - SEMI G71 - パッケージング材料の中間容器のバーコードマーキングの仕様
SEMI G71 - パッケージング材料の中間容器のバーコードマーキングの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04200 - SEMI P42 - ウエハ露光システムへの自動レシピ転送のためのレチクルデータの仕様
SEMI P42 - ウエハ露光システムへの自動レシピ転送のためのレチクルデータの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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G08800 - SEMI G88 - 450mmウェーハ用テープフレームの仕様
SEMI G88 - 450mmウェーハ用テープフレームの仕様 セール価格Member Price: ¥135
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C00347 - SEMI C3.47 - 臭化水素（HBr）、品質99.98%の仕様
SEMI C3.47 - 臭化水素（HBr）、品質99.98%の仕様 セール価格Member Price: ¥135
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G07600 - SEMI G76 - テープキャリアパッケージ (TCP) で使用されるポリイミドベースの粘着テープの仕様
SEMI G76 - テープキャリアパッケージ (TCP) で使用されるポリイミドベースの粘着テープの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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P03400 - SEMI P34 - 230 mm角フォトマスク基板の仕様
SEMI P34 - 230 mm角フォトマスク基板の仕様 セール価格Member Price: ¥113
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C00327 - SEMI C3.27 - 三フッ化ホウ素（BF3）、シリンダー充填、99.0%品質の仕様
SEMI C3.27 - 三フッ化ホウ素（BF3）、シリンダー充填、99.0%品質の仕様 セール価格Member Price: ¥135
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C00355 - SEMI C3.55 - シラン（SiH4）、バルク、品質99.994%の仕様
SEMI C3.55 - シラン（SiH4）、バルク、品質99.994%の仕様 セール価格Member Price: ¥135
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G07800 - SEMI G78 - プロセス固有の測定を利用した自動ウェーハプローブシステムを比較するための試験方法
SEMI G78 - プロセス固有の測定を利用した自動ウェーハプローブシステムを比較するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C00300 - SEMI C3 - ガスの仕様
SEMI C3 - ガスの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
C02900 - SEMI C29 - 4.9%フッ化ケイジン酸（10:1 V/V）の仕様とガイドライン
SEMI C29 - 4.9%フッ化ケイジン酸（10:1 V/V）の仕様とガイドライン セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P01400 - SEMI P14 - グラファイト炉原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト中のスズの測定
SEMI P14 - グラファイト炉原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト中のスズの測定 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P02300 - SEMI P23 - プログラム欠陥マスクおよびマスク欠陥検査システムの感覚分析ベンチマーク手順についてのガイドライン
SEMI P23 - プログラム欠陥マスクおよびマスク欠陥検査システムの感覚分析ベンチマーク手順についてのガイドライン セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
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