人気の規格

フィルター

並び替え:

1638 製品

P03000 - SEMI P30 - 寸法測定用走査型電子顕微鏡（CD-SEM）の目録発行の実施要領
SEMI P30 - 寸法測定用走査型電子顕微鏡（CD-SEM）の目録発行の実施要領 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G08500 - SEMI G85 - マップデータ・フォーマット用仕様
SEMI G85 - マップデータ・フォーマット用仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M06700 - SEMI M67 - 測定した厚さデータ配列からESFQR、ESFQD、ESBIR METRICS法を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法
SEMI M67 - 測定した厚さデータ配列からESFQR、ESFQD、ESBIR METRICS法を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M04300 - SEMI M43 - ウェーハナノポトグラフィーを報告するためのガイド
SEMI M43 - ウェーハナノポトグラフィーを報告するためのガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M02900 - SEMI M29 - 300 mm 配送ボックスの仕様
SEMI M29 - 300 mm 配送ボックスの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D01700 - SEMI D17 - FPDガラス基板搬送用カセットの機械的仕様
SEMI D17 - FPDガラス基板搬送用カセットの機械的仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G06600 - SEMI G66 - 半導体用プラスチックモールディングコンパウンドの吸湿特性の測定方法
SEMI G66 - 半導体用プラスチックモールディングコンパウンドの吸湿特性の測定方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G04200 - SEMI G42 - 半導体パッケージの中継部と周囲の熱抵抗測定用標準熱抵抗測定基板の仕様
SEMI G42 - 半導体パッケージの中継部と周囲の熱抵抗測定用標準熱抵抗測定基板の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03700 - SEMI M37 - 低転位密度リン化インジウムウェーハのエッチピット密度 (EPD) を測定するための試験方法
SEMI M37 - 低転位密度リン化インジウムウェーハのエッチピット密度 (EPD) を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M03300 - SEMI M33 - 全反射蛍光 X 線分光法 (TXRF) によるシリコンウェーハ上の残留表面汚染の測定のための試験方法
SEMI M33 - 全反射蛍光 X 線分光法 (TXRF) によるシリコンウェーハ上の残留表面汚染の測定のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF039900 - SEMI MF399 - ヘテロエピタキシャル層またはポリシリコン層の厚さの試験方法
SEMI MF399 - ヘテロエピタキシャル層またはポリシリコン層の厚さの試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D03100 - SEMI D31 - FPD検査における輝度ムラの計量単位（DSEMU）の定義
SEMI D31 - FPD検査における輝度ムラの計量単位（DSEMU）の定義 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
MF053400 - SEMI MF534 - シリコンウェーハの反りの試験方法
SEMI MF534 - シリコンウェーハの反りの試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C00339 - SEMI C3.39 - 三フッ化窒素（NF3）99.98%品質の仕様
SEMI C3.39 - 三フッ化窒素（NF3）99.98%品質の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03900 - SEMI M39 - 半絶縁GaAs単結晶の抵抗率及びホール係数を測定しホール移動度を決定する方法
SEMI M39 - 半絶縁GaAs単結晶の抵抗率及びホール係数を測定しホール移動度を決定する方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03000 - SEMI M30 - フーリエ変換赤外吸収分光法による GaAs の置換原子炭素濃度の標準試験法
SEMI M30 - フーリエ変換赤外吸収分光法による GaAs の置換原子炭素濃度の標準試験法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P00600 - SEMI P6 - フォトマスクのレジストレーションマークの仕様
SEMI P6 - フォトマスクのレジストレーションマークの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G06700 - SEMI G67 - シート材料から発生する粒子の測定の試験方法
SEMI G67 - シート材料から発生する粒子の測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G07900 - SEMI G79 - 全体的なデジタル タイミング精度の仕様
SEMI G79 - 全体的なデジタル タイミング精度の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C04000 - SEMI C40 - 水酸化カリウム45%溶液の仕様
SEMI C40 - 水酸化カリウム45%溶液の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P00600 - SEMI P6 - フォトマスク用レジストレーションマーク
SEMI P6 - フォトマスク用レジストレーションマーク セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P01900 - SEMI P19 - 蓄積回路製造用メトロロジパターンセル
SEMI P19 - 蓄積回路製造用メトロロジパターンセル セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04200 - SEMI P42 - ウェーハ露光システムへの自動レシピ配信のためのレチクルデータの仕様
SEMI P42 - ウェーハ露光システムへの自動レシピ配信のためのレチクルデータの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P03700 - SEMI P37 - 極端紫外リソグラフィー基板およびブランクの仕様
SEMI P37 - 極端紫外リソグラフィー基板およびブランクの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
View All