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MF053300 - SEMI MF533 - 실리콘 웨이퍼의 두께 및 두께 편차에 대한 테스트 방법
SEMI MF533 - 실리콘 웨이퍼의 두께 및 두께 편차에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF145100 - SEMI MF1451 - 자동화된 비접촉 스캐닝에 의한 실리콘 웨이퍼 상의 소리 측정을 위한 테스트 방법
M01000 - SEMI M10 - 갈륨 비소 웨이퍼에서 볼 수 있는 구조 및 특징 식별을 위한 용어
M05800 - SEMI M58 - DMA 기반 입자 증착 시스템 및 프로세스를 평가하기 위한 테스트 방법
G06000 - SEMI G60 - 반도체 리드프레임 인터리핑 재료의 정전기 특성 측정을 위한 테스트 방법
M04100 - SEMI M41 - 전력 장치/IC용 SOI(Silicon-on-Insulator) 사양
SEMI M41 - 전력 장치/IC용 SOI(Silicon-on-Insulator) 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06300 - SEMI M63 - 고분해능 X선 회절에 의해 GaAs 기판에서 AlGaAs의 Al 비율을 측정하기 위한 테스트 방법
G06200 - SEMI G62 - 은도금 품질 테스트 방법
SEMI G62 - 은도금 품질 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M07700 - SEMI M77 - 로르오후량(ROA)(ROA)を使ってウェーハの엣지近傍形状を決定するための作業方法
M02100 - SEMI M21 - 데카르트 배열의 직사각형 요소에 주소 할당 가이드
SEMI M21 - 데카르트 배열의 직사각형 요소에 주소 할당 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF161800 - SEMI MF1618 - 실리콘 웨이퍼 상의 박막 균일도 측정 실습
SEMI MF1618 - 실리콘 웨이퍼 상의 박막 균일도 측정 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M04600 - SEMI M46 - ECV 프로파일링을 통해 에피택셜 층 구조에서 캐리어 농도를 측정하기 위한 테스트 방법
MF104900 - SEMI MF1049 - 실리콘 웨이퍼의 Shallow Etch Pit 검출 실습
SEMI MF1049 - 실리콘 웨이퍼의 Shallow Etch Pit 검출 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M08100 - SEMI M81 - 단결정 실리콘 카바이드 기판에서 발견된 결함에 대한 안내
SEMI M81 - 단결정 실리콘 카바이드 기판에서 발견된 결함에 대한 안내 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G00400 - SEMI G4 - 스탬핑 리드프레임 생산에 사용되는 집적 회로 리드프레임 재료 사양
M07900 - SEMI M79 - 태양 전지 응용 분야를 위한 원형 100mm 광택 단결정 게르마늄 웨이퍼 사양
M06100 - SEMI M61 - 매립층이 있는 실리콘 에피택셜 웨이퍼 사양
SEMI M61 - 매립층이 있는 실리콘 에피택셜 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
F02500 - SEMI F25 - 등급 10/0.2 산화제 특수 가스의 입자 농도 사양
SEMI F25 - 등급 10/0.2 산화제 특수 가스의 입자 농도 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G01300 - SEMI G13 - 몰딩콘파운드의 난독특성노조전파법
SEMI G13 - 몰딩콘파운드의 난독특성노조전파법 할인 가격Member Price: ₩135
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MF092800 - SEMI MF928 - 원형 반도체 웨이퍼 및 경질 디스크 기판의 에지 윤곽에 대한 테스트 방법
F03700 - SEMI F37 - 가스 분배 시스템 구성요소의 표면 거칠기 매개변수 결정을 위한 테스트 방법
M02000 - SEMI M20 - 웨이퍼 좌표계 설정 실습
SEMI M20 - 웨이퍼 좌표계 설정 실습 할인 가격Member Price: ₩113
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M02300 - SEMI M23 - 연마된 단결정 인듐 인화물 웨이퍼 사양
SEMI M23 - 연마된 단결정 인듐 인화물 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF156900 - SEMI MF1569 - 반도체 기술에 대한 합의 참조 자료 생성 가이드
SEMI MF1569 - 반도체 기술에 대한 합의 참조 자료 생성 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
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