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F09800 - SEMI F98 - 반도체 공정에서 재사용수 처리 가이드
SEMI F98 - 반도체 공정에서 재사용수 처리 가이드 할인 가격 Member Price : ₩113
MF067400 - SEMI MF674 - 확산 저항 측정을 위한 실리콘 준비 실습
SEMI MF674 - 확산 저항 측정을 위한 실리콘 준비 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G07400 - SEMI G74 - 300mm 웨이퍼용 테이프 프레임 사양
SEMI G74 - 300mm 웨이퍼용 테이프 프레임 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G06900 - SEMI G69 - 리드프레임과 몰딩 컴파운드 간의 접착 강도 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G69 - 리드프레임과 몰딩 컴파운드 간의 접착 강도 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G01500 - SEMI G15 - 모르딩콘파운드示差走査熱量分析の標準試験方法
SEMI G15 - 모르딩콘파운드示差走査熱量分析の標準試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
HB01000 - SEMI HB10 - HB-LED 웨이퍼 제조용 단결정 사파이어 사양
SEMI HB10 - HB-LED 웨이퍼 제조용 단결정 사파이어 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF172500 - SEMI MF1725 - 실리콘 잉곳의 결정학적 완전성 분석 실습
SEMI MF1725 - 실리콘 잉곳의 결정학적 완전성 분석 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF067200 - SEMI MF672 - 확산 저항 프로브를 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면에 수직인 비저항 프로파일 측정 가이드
SEMI MF672 - 확산 저항 프로브를 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면에 수직인 비저항 프로파일 측정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06500 - SEMI M65 - 복합 반도체 에피택셜 웨이퍼에 사용할 사파이어 기판 사양
SEMI M65 - 복합 반도체 에피택셜 웨이퍼에 사용할 사파이어 기판 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G06300 - SEMI G63 - 다이 전단 강도 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G63 - 다이 전단 강도 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06000 - SEMI M60 - Si 웨이퍼 평가를 위한 SiO2 필름의 시간 종속 유전체 파괴 특성에 대한 테스트 방법
SEMI M60 - Si 웨이퍼 평가를 위한 SiO2 필름의 시간 종속 유전체 파괴 특성에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M08300 - SEMI M83 - III-V 화합물 반도체의 단결정에서 전위 에칭 피트 밀도 측정을 위한 테스트 방법
SEMI M83 - III-V 화합물 반도체의 단결정에서 전위 에칭 피트 밀도 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격 Member Price : ₩113
MF198200 - SEMI MF1982 - 열 탈착 가스 크로마토그래피에 의한 실리콘 웨이퍼 표면의 유기 오염 물질 분석을 위한 테스트 방법
SEMI MF1982 - 열 탈착 가스 크로마토그래피에 의한 실리콘 웨이퍼 표면의 유기 오염 물질 분석을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M07100 - SEMI M71 - CMOS LSI용 시리콘・온・인슈레이타(SOI) 웨하노타메 사양
SEMI M71 - CMOS LSI용 시리콘・온・인슈레이타(SOI) 웨하노타메 사양 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
MF067100 - SEMI MF671 - 실리콘 및 기타 전자 재료의 웨이퍼에서 평면 길이 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF671 - 실리콘 및 기타 전자 재료의 웨이퍼에서 평면 길이 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M08400 - SEMI M84 - 갈륨 질화물-온-실리콘 애플리케이션용 연마 단결정 실리콘 웨이퍼 사양
SEMI M84 - 갈륨 질화물-온-실리콘 애플리케이션용 연마 단결정 실리콘 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G02500 - SEMI G25 - 패키지 리드의 저항 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G25 - 패키지 리드의 저항 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M07400 - SEMI M74 - 450mm 직경의 기계적 취급 광택 웨이퍼 사양
SEMI M74 - 450mm 직경의 기계적 취급 광택 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G06600 - SEMI G66 - 반도체 플라스틱 몰딩 컴파운드의 수분 흡수 특성 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G66 - 반도체 플라스틱 몰딩 컴파운드의 수분 흡수 특성 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G07000 - SEMI G70 - 플라스틱 패키지 리드프레임 측정을 위한 장비 및 리드프레임 고정 장치용 표준
SEMI G70 - 플라스틱 패키지 리드프레임 측정을 위한 장비 및 리드프레임 고정 장치용 표준 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G02500 - SEMI G25 - 팍케이지・리드抵抗の測定のための試験方法
SEMI G25 - 팍케이지・리드抵抗の測定のための試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
G04300 - SEMI G43 - 성형 플라스틱 패키지의 접합부-케이스 열 저항 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G43 - 성형 플라스틱 패키지의 접합부-케이스 열 저항 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF138900 - SEMI MF1389 - III-V 불순물에 대한 단결정 실리콘의 광발광 분석을 위한 테스트 방법
SEMI MF1389 - III-V 불순물에 대한 단결정 실리콘의 광발광 분석을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M04200 - SEMI M42 - 화합물화합물체 에피타키샤르웨하노사
SEMI M42 - 화합물화합물체 에피타키샤르웨하노사 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
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