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G09600 - SEMI G96 - 캔틸레버 벤딩을 통한 칩(다이) 강도 측정 테스트 방법
SEMI G96 - 캔틸레버 벤딩을 통한 칩(다이) 강도 측정 테스트 방법 할인 가격 Member Price : ₩113
MF139100 - SEMI MF1391 - 적외선 흡수에 의한 실리콘의 치환원자탄소 함량 시험방법
SEMI MF1391 - 적외선 흡수에 의한 실리콘의 치환원자탄소 함량 시험방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G08900 - SEMI G89 - 리드프레임 스트립 크기 사양
SEMI G89 - 리드프레임 스트립 크기 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF138800 - SEMI MF1388 - MOS(Metal-Oxide-Silicon) 커패시터의 커패시턴스-시간 측정에 의한 실리콘 재료의 생성 수명 및 생성 속도에 대한 테스트 방법
SEMI MF1388 - MOS(Metal-Oxide-Silicon) 커패시터의 커패시턴스-시간 측정에 의한 실리콘 재료의 생성 수명 및 생성 속도에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M00600 - SEMI M6 - 太陽光電池用 シリコンウェーハの仕様
SEMI M6 - 太陽光電池用 シリコンウェーハの仕様 할인 가격Member Price: ₩135
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M03800 - SEMI M38 - 광택 재생 실리콘 웨이퍼 사양
SEMI M38 - 광택 재생 실리콘 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G02400 - SEMI G24 - 패키지 리드의 리드 간 및 로딩 커패시턴스 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G24 - 패키지 리드의 리드 간 및 로딩 커패시턴스 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06200 - SEMI M62 - 실리콘 에피택시 웨이퍼 사양
SEMI M62 - 실리콘 에피택시 웨이퍼 사양 할인 가격 Member Price : ₩113
MF161700 - SEMI MF1617 - 2차 이온 질량 분석법으로 실리콘 및 EPI 기판의 표면 나트륨, 알루미늄, 칼륨 및 철 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1617 - 2차 이온 질량 분석법으로 실리콘 및 EPI 기판의 표면 나트륨, 알루미늄, 칼륨 및 철 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M05100 - SEMI M51 - 게이트 산화물 무결성으로 실리콘 웨이퍼를 특성화하기 위한 테스트 방법
SEMI M51 - 게이트 산화물 무결성으로 실리콘 웨이퍼를 특성화하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF039100 - SEMI MF391 - 정상 상태 표면 광전압 측정에 의한 외부 반도체의 소수 캐리어 확산 길이 테스트 방법
SEMI MF391 - 정상 상태 표면 광전압 측정에 의한 외부 반도체의 소수 캐리어 확산 길이 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF152800 - SEMI MF1528 - 2차 이온 질량 분석법으로 고농도 도핑된 N형 실리콘 기판의 붕소 오염을 측정하는 테스트 방법
SEMI MF1528 - 2차 이온 질량 분석법으로 고농도 도핑된 N형 실리콘 기판의 붕소 오염을 측정하는 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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HB00800 - SEMI HB8 - 사파이어 단결정의 방향 결정을 위한 테스트 방법
SEMI HB8 - 사파이어 단결정의 방향 결정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
F07000 - SEMI F70 - 가스 전달 시스템의 입자 기여 결정을 위한 테스트 방법
SEMI F70 - 가스 전달 시스템의 입자 기여 결정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G05100 - SEMI G51 - 플라스틱 성형(미터법) 쿼드 플랫 팩 리드프레임 사양
SEMI G51 - 플라스틱 성형(미터법) 쿼드 플랫 팩 리드프레임 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF207400 - SEMI MF2074 - 실리콘 및 기타 반도체 웨이퍼의 직경 측정 가이드
SEMI MF2074 - 실리콘 및 기타 반도체 웨이퍼의 직경 측정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
F02000 - SEMI F20 - 범용, 고순도 및 초고순도 반도체 제조 응용 분야에 사용되는 부품용 316L 스테인리스 스틸 바, 단조품, 압출 성형품, 플레이트 및 튜브 사양
SEMI F20 - 범용, 고순도 및 초고순도 반도체 제조 응용 분야에 사용되는 부품용 316L 스테인리스 스틸 바, 단조품, 압출 성형품, 플레이트 및 튜브 사양 할인 가격Member Price: ₩225
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MF177100 - SEMI MF1771 - 전압 램프 기술에 의한 게이트 산화물 무결성 평가를 위한 테스트 방법
SEMI MF1771 - 전압 램프 기술에 의한 게이트 산화물 무결성 평가를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF172600 - SEMI MF1726 - 실리콘 웨이퍼의 결정학적 완전성 분석 실습
SEMI MF1726 - 실리콘 웨이퍼의 결정학적 완전성 분석 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G09300 - SEMI G93 - 보르・그릿드・아레이(BGA)팍케이지용 はんだボールの測定方法
SEMI G93 - 보르・그릿드・아레이(BGA)팍케이지용 はんだボールの測定方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
G04100 - SEMI G41 - 듀얼 스트립 SOIC 리드프레임 사양
SEMI G41 - 듀얼 스트립 SOIC 리드프레임 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G06700 - SEMI G67 - 시트 재료의 입자 생성 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G67 - 시트 재료의 입자 생성 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06500 - SEMI M65 - 화합물 半導체 에피타키샤르웨하에 사용하는 사파이아기모의 仕様
SEMI M65 - 화합물 半導체 에피타키샤르웨하에 사용하는 사파이아기모의 仕様 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
G09400 - SEMI G94 - 300mm 웨이퍼용 코인 스택형 테이프 프레임 운송 컨테이너 사양
SEMI G94 - 300mm 웨이퍼용 코인 스택형 테이프 프레임 운송 컨테이너 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
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