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M06200 - SEMI M62 - 시리콘에피타키샤르웨하나 사양
SEMI M62 - 시리콘에피타키샤르웨하나 사양 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M06300 - SEMI M63 - 고분해능 X선 회절에 의해 GaAs 기판에서 AlGaAs의 Al 비율을 측정하기 위한 테스트 방법
SEMI M63 - 고분해능 X선 회절에 의해 GaAs 기판에서 AlGaAs의 Al 비율을 측정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06300 - SEMI M63 - 화합물 半導체 에피타키샤르웨하 에 사용하는 사파이아기 板 の 仕様
SEMI M63 - 화합물 半導체 에피타키샤르웨하 에 사용하는 사파이아기 板 の 仕様 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M06400 - SEMI M64 - 적외선 흡수 분광법에 의한 반절연(SI) 갈륨 비소 단결정의 EL2 딥 도너 농도에 대한 테스트 방법
SEMI M64 - 적외선 흡수 분광법에 의한 반절연(SI) 갈륨 비소 단결정의 EL2 딥 도너 농도에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06400 - SEMI M64 - 赤外線吸収スペクトル法による絶縁(SI)가리움히素単結晶内のEL2深いドナー濃度の試験方法
SEMI M64 - 赤外線吸収スペクトル法による絶縁(SI)가리움히素単結晶内のEL2深いドナー濃度の試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M06500 - SEMI M65 - 복합 반도체 에피택셜 웨이퍼에 사용할 사파이어 기판 사양
SEMI M65 - 복합 반도체 에피택셜 웨이퍼에 사용할 사파이어 기판 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06500 - SEMI M65 - 화합물 半導체 에피타키샤르웨하에 사용하는 사파이아기모의 仕様
SEMI M65 - 화합물 半導체 에피타키샤르웨하에 사용하는 사파이아기모의 仕様 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M06600 - SEMI M66 - MISFlattband 電圧―絶縁膜厚法を使った，酸化膜，およびhigh-κゲートスタックの有効仕事関数の算出法
SEMI M66 - MISFlattband 電圧―絶縁膜厚法を使った，酸化膜，およびhigh-κゲートスタックの有効仕事関数の算出法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M06600 - SEMI M66 - MIS 플랫 밴드 전압 절연체 두께 기법을 사용하여 산화물 및 고유전율 게이트 스택에서 유효 일함수를 추출하는 테스트 방법
SEMI M66 - MIS 플랫 밴드 전압 절연체 두께 기법을 사용하여 산화물 및 고유전율 게이트 스택에서 유효 일함수를 추출하는 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06700 - SEMI M67 - ESFQR, ESFQD 및 ESBIR 메트릭을 사용하여 측정된 두께 데이터 어레이에서 웨이퍼 니어 에지 형상을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI M67 - ESFQR, ESFQD 및 ESBIR 메트릭을 사용하여 측정된 두께 데이터 어레이에서 웨이퍼 니어 에지 형상을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06700 - SEMI M67 - 測定した厚さデータ配列からESFQR,ESFQD,ESBIR METRICS法を使ってウェーハの엣지근접형상状を決定するため의 作業方法
SEMI M67 - 測定した厚さデータ配列からESFQR,ESFQD,ESBIR METRICS法を使ってウェーハの엣지근접형상状を決定するため의 作業方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M06800 - SEMI M68 - 곡률 메트릭(ZDD)을 사용하여 측정된 높이 데이터 어레이에서 웨이퍼 니어 에지 형상을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI M68 - 곡률 메트릭(ZDD)을 사용하여 측정된 높이 데이터 어레이에서 웨이퍼 니어 에지 형상을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06800 - SEMI M68 - 測定した高さデータ配列から曲率法ZDDを使ってウェーハのedge近傍形状を決定するため의 作業方法
SEMI M68 - 測定した高さデータ配列から曲率法ZDDを使ってウェーハのedge近傍形状を決定するため의 作業方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M07000 - SEMI M70 - 부분 웨이퍼 부위 평탄도를 사용하여 웨이퍼에 가까운 가장자리 형상을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI M70 - 부분 웨이퍼 부위 평탄도를 사용하여 웨이퍼에 가까운 가장자리 형상을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M07000 - SEMI M70 - 파샤르사이트평화도를 사용하는 웨이하노엣지근처형형상을 확정할 수 있는 작업방식
SEMI M70 - 파샤르사이트평화도를 사용하는 웨이하노엣지근처형형상을 확정할 수 있는 작업방식 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M07100 - SEMI M71 - CMOS LSI용 시리콘・온・인슈레이타(SOI) 웨하노타메 사양
SEMI M71 - CMOS LSI용 시리콘・온・인슈레이타(SOI) 웨하노타메 사양 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M07100 - SEMI M71 - CMOS LSI용 SOI(Silicon-on-Insulator) 웨이퍼 사양
SEMI M71 - CMOS LSI용 SOI(Silicon-on-Insulator) 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M07300 - SEMI M73 - 측정된 웨이퍼 에지 프로파일에서 관련 특성을 추출하기 위한 테스트 방법
SEMI M73 - 측정된 웨이퍼 에지 프로파일에서 관련 특성을 추출하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M07300 - SEMI M73 - 확정된 웨이하엣지프로파일로부터 정보를 얻을 수 있는 특수성을 가진 테스트 방법
SEMI M73 - 확정된 웨이하엣지프로파일로부터 정보를 얻을 수 있는 특수성을 가진 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M07400 - SEMI M74 - 450mm 직경의 기계적 취급 광택 웨이퍼 사양
SEMI M74 - 450mm 직경의 기계적 취급 광택 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M07400 - SEMI M74 - 세로 450mm 메카니카르한드링 鏡面 ウェーハの仕様
SEMI M74 - 세로 450mm 메카니카르한드링 鏡面 ウェーハの仕様 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M07500 - SEMI M75 - 연마된 단결정 갈륨 안티몬화물 웨이퍼 사양
SEMI M75 - 연마된 단결정 갈륨 안티몬화물 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M07500 - SEMI M75 - 鏡面単結晶gariumanchimonsraisの仕様
SEMI M75 - 鏡面単結晶gariumanchimonsraisの仕様 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M07600 - SEMI M76 - 개발용 450mm 직경 연마 단결정 실리콘 웨이퍼용 사양
SEMI M76 - 개발용 450mm 직경 연마 단결정 실리콘 웨이퍼용 사양 정상 가격₩451,000 KRW 할인 가격₩291,000 KRW