SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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G03800 - SEMI G38 - 静止空気および強制風冷によるICパッケージのジャンクション部周囲熱抵抗の測定法
SEMI G38 - 静止空気および強制風冷によるICパッケージのジャンクション部周囲熱抵抗の測定法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
D02900 - SEMI D29 - 平面表示螢幕(FPD)彩色濾光片耐熱性計算之測試法
SEMI D29 - 平面表示螢幕(FPD)彩色濾光片耐熱性計算之測試法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G06500 - SEMI G65 - Lリード（ガルウイング型）パッケージ用リードフレーム材料の評価の試験方法
SEMI G65 - Lリード（ガルウイング型）パッケージ用リードフレーム材料の評価の試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
C02100 - SEMI C21 - 水酸化アンモニウムの仕様とガイドライン
SEMI C21 - 水酸化アンモニウムの仕様とガイドライン セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
PV00100 - SEMI PV1 - 高分解能グロー放電質量分析を用いたシリコン太陽電池用シリコン原料中の微量元素測定に関する試験方法
SEMI PV1 - 高分解能グロー放電質量分析を用いたシリコン太陽電池用シリコン原料中の微量元素測定に関する試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
C03900 - SEMI C39 - 水酸化カリウムペレットの仕様
SEMI C39 - 水酸化カリウムペレットの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F02000 - SEMI F20 - 高純度および超高純度の半導体製造アプリケーションで使用される汎用コンポーネント用の316Lステンレス鋼の棒鋼、鍛造品、押出成形品、鋼板、鋼管の仕様
SEMI F20 - 高純度および超高純度の半導体製造アプリケーションで使用される汎用コンポーネント用の316Lステンレス鋼の棒鋼、鍛造品、押出成形品、鋼板、鋼管の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
MF172300 - SEMI MF1723 - フロートゾーン結晶成長と分光法による多結晶シリコンロッドの評価の実践
SEMI MF1723 - フロートゾーン結晶成長と分光法による多結晶シリコンロッドの評価の実践 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M03100 - SEMI M31 - 300 mmウェーハの搬送および出荷用フロントオープニング・シッピングボックスの機械仕様
SEMI M31 - 300 mmウェーハの搬送および出荷用フロントオープニング・シッピングボックスの機械仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M08000 - SEMI M80 - 450 mmウェーハの搬送および出荷用フロントオープニング・シッピングボックスの機械仕様
SEMI M80 - 450 mmウェーハの搬送および出荷用フロントオープニング・シッピングボックスの機械仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M01800 - SEMI M18 - オーダーエントリー用シリコンウェーハ仕様書フォーマット
SEMI M18 - オーダーエントリー用シリコンウェーハ仕様書フォーマット セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M02900 - SEMI M29 - 300mmシッピングボックスの仕様
SEMI M29 - 300mmシッピングボックスの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
C00356 - SEMI C3.56 - ジボラン混合ガスの仕様
SEMI C3.56 - ジボラン混合ガスの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03200 - SEMI M32 - 統計的仕様のガイド
SEMI M32 - 統計的仕様のガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M06700 - SEMI M67 - 測定した厚さデータ配列からESFQR、ESFQD、ESBIR METRICS法を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法
SEMI M67 - 測定した厚さデータ配列からESFQR、ESFQD、ESBIR METRICS法を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M04300 - SEMI M43 - ウェーハナノポトグラフィーを報告するためのガイド
SEMI M43 - ウェーハナノポトグラフィーを報告するためのガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M02900 - SEMI M29 - 300 mm 配送ボックスの仕様
SEMI M29 - 300 mm 配送ボックスの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D01700 - SEMI D17 - FPDガラス基板搬送用カセットの機械的仕様
SEMI D17 - FPDガラス基板搬送用カセットの機械的仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G06600 - SEMI G66 - 半導体用プラスチックモールディングコンパウンドの吸湿特性の測定方法
SEMI G66 - 半導体用プラスチックモールディングコンパウンドの吸湿特性の測定方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G04200 - SEMI G42 - 半導体パッケージの中継部と周囲の熱抵抗測定用標準熱抵抗測定基板の仕様
SEMI G42 - 半導体パッケージの中継部と周囲の熱抵抗測定用標準熱抵抗測定基板の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
D03100 - SEMI D31 - FPD検査における輝度ムラの計量単位（DSEMU）の定義
SEMI D31 - FPD検査における輝度ムラの計量単位（DSEMU）の定義 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
C00339 - SEMI C3.39 - 三フッ化窒素（NF3）99.98%品質の仕様
SEMI C3.39 - 三フッ化窒素（NF3）99.98%品質の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G06700 - SEMI G67 - シート材料から発生する粒子の測定の試験方法
SEMI G67 - シート材料から発生する粒子の測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
C04000 - SEMI C40 - 水酸化カリウム45%溶液の仕様
SEMI C40 - 水酸化カリウム45%溶液の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
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