SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

フィルター

並び替え:

1625 製品

T01700 - SEMI T17 - 基板トレーサビリティの仕様
SEMI T17 - 基板トレーサビリティの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV08500 - SEMI PV85 - メタルラップスルー (MWT) バックコンタクト太陽光発電 (PV) モジュールアセンブリの練習
SEMI PV85 - メタルラップスルー (MWT) バックコンタクト太陽光発電 (PV) モジュールアセンブリの練習 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV05800 - SEMI PV58 - 結晶シリコン太陽電池の裏面分野に使用されるアルミニウムペーストの仕様
SEMI PV58 - 結晶シリコン太陽電池の裏面分野に使用されるアルミニウムペーストの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV05000 - SEMI PV50 - ポリシリコン原料用のポリエチレン包装材料中の不純物に関する仕様
SEMI PV50 - ポリシリコン原料用のポリエチレン包装材料中の不純物に関する仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
S02500 - SEMI S25 - 過氧化氫貯蓄及び搬送運系統の安全基準
SEMI S25 - 過氧化氫貯蓄及び搬送運系統の安全基準 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV08800 - SEMI PV88 - 不活性ガス融解赤外線吸収法による太陽光発電 (PV) ポリシリコン中の水素定量の試験方法
SEMI PV88 - 不活性ガス融解赤外線吸収法による太陽光発電 (PV) ポリシリコン中の水素定量の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV02100 - SEMI PV21 - 太陽光発電アプリケーションで使用されるシラン (SiH4) のガイドPV02100 - SEMI PV21 - 太陽光発電アプリケーションで使用されるシラン (SiH4) のガイド
SEMI PV21 - 太陽光発電アプリケーションで使用されるシラン (SiH4) のガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV05400 - SEMI PV54 - 結晶シリコン太陽電池の N+ 拡散層との接触に使用される銀ペーストの仕様
SEMI PV54 - 結晶シリコン太陽電池の N+ 拡散層との接触に使用される銀ペーストの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV08700 - SEMI PV87 - 電極とリボン/バックシート間の剥離力試験方法
SEMI PV87 - 電極とリボン/バックシート間の剥離力試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M00100 - SEMI M1 - 研磨単結晶シリコンウェーハの仕様
SEMI M1 - 研磨単結晶シリコンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
M04900 - SEMI M49 - 130 nm ～ 16 nm テクノロジー世代のシリコンウェーハの形状測定システムを指定するためのガイド
SEMI M49 - 130 nm ～ 16 nm テクノロジー世代のシリコンウェーハの形状測定システムを指定するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M05300 - SEMI M53 - パターンのない半導体ウェーハ表面上の単分散基準球の認定された堆積を使用した走査表面検査システムの校正の実践
SEMI M53 - パターンのない半導体ウェーハ表面上の単分散基準球の認定された堆積を使用した走査表面検査システムの校正の実践 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF067300 - SEMI MF673 - 非接触渦電流計を使用した半導体ウェハの抵抗率または半導体膜のシート抵抗を測定するための試験方法
SEMI MF673 - 非接触渦電流計を使用した半導体ウェハの抵抗率または半導体膜のシート抵抗を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M00900 - SEMI M9 - 研磨単結晶ガリウムヒ素ウェハの仕様
SEMI M9 - 研磨単結晶ガリウムヒ素ウェハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F05600 - SEMI F56 - マスフローコントローラーの定常状態電源電圧の影響を測定するための試験方法
SEMI F56 - マスフローコントローラーの定常状態電源電圧の影響を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M07100 - SEMI M71 - CMOS LSI用シリコン・オン・インシュレータ(SOI)ウェーハの仕様
SEMI M71 - CMOS LSI用シリコン・オン・インシュレータ(SOI)ウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF139000 - SEMI MF1390 - 自動非接触スキャンによるシリコンウェーハの反りおよび反りを測定するための試験方法
SEMI MF1390 - 自動非接触スキャンによるシリコンウェーハの反りおよび反りを測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF052500 - SEMI MF525 - 広がり抵抗プローブを使用したシリコンウェーハの抵抗率測定の試験方法
SEMI MF525 - 広がり抵抗プローブを使用したシリコンウェーハの抵抗率測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF008100 - SEMI MF81 - シリコンウェーハの半径方向抵抗率変化を測定するための試験方法
SEMI MF81 - シリコンウェーハの半径方向抵抗率変化を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF118800 - SEMI MF1188 - 短いベースラインでの赤外線吸収によるシリコンの格子間酸素含有量の試験方法
SEMI MF1188 - 短いベースラインでの赤外線吸収によるシリコンの格子間酸素含有量の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G07700 - SEMI G77 - 300 mm ウェーハ用フレームカセットの仕様
SEMI G77 - 300 mm ウェーハ用フレームカセットの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
HB00400 - SEMI HB4 - 高輝度 LED 製造装置用通信インターフェースの仕様 (HB-LED ECI)
SEMI HB4 - 高輝度 LED 製造装置用通信インターフェースの仕様 (HB-LED ECI) セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF153000 - SEMI MF1530 - 自動非接触スキャンによるシリコンウェーハの平坦度、厚さ、総厚さの変動を測定する試験方法
SEMI MF1530 - 自動非接触スキャンによるシリコンウェーハの平坦度、厚さ、総厚さの変動を測定する試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M07800 - SEMI M78 - 大量生産における 130 nm ～ 22 nm 世代のパターン化されていないシリコン ウェーハのナノトポグラフィーを決定するためのガイド
SEMI M78 - 大量生産における 130 nm ～ 22 nm 世代のパターン化されていないシリコン ウェーハのナノトポグラフィーを決定するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
View All