SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

フィルター

並び替え:

1625 製品

M01300 - SEMI M13 - シリコンウェーハの英数字マーキングの仕様
SEMI M13 - シリコンウェーハの英数字マーキングの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF039700 - SEMI MF397 - 2 点プローブを使用したシリコンバーの抵抗率の試験方法
SEMI MF397 - 2 点プローブを使用したシリコンバーの抵抗率の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF072300 - SEMI MF723 - ホウ素ドープ、リンドープ、およびヒ素ドープのシリコンの抵抗率とドーパントまたはキャリア密度の間の変換の実践
SEMI MF723 - ホウ素ドープ、リンドープ、およびヒ素ドープのシリコンの抵抗率とドーパントまたはキャリア密度の間の変換の実践 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M05500 - SEMI M55 - 研磨単結晶炭化ケイ素ウェハの仕様
SEMI M55 - 研磨単結晶炭化ケイ素ウェハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M03500 - SEMI M35 - 自動検査によって検出されるシリコンウェーハ表面特徴の仕様開発ガイド
SEMI M35 - 自動検査によって検出されるシリコンウェーハ表面特徴の仕様開発ガイド セール価格 Member Price : ¥113
MF037400 - SEMI MF374 - シングル構成手順によるインライン 4 点プローブを使用したシリコンエピタキシャル層、拡散層、ポリシリコン層、およびイオン注入層のシート抵抗の試験方法
SEMI MF374 - シングル構成手順によるインライン 4 点プローブを使用したシリコンエピタキシャル層、拡散層、ポリシリコン層、およびイオン注入層のシート抵抗の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G08300 - SEMI G83 - 製品パッケージのバーコードマーキングの仕様
SEMI G83 - 製品パッケージのバーコードマーキングの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF139200 - SEMI MF1392 - 水銀プローブを使用した容量電圧測定によるシリコンウェーハの正味キャリア密度プロファイルを決定するための試験方法
SEMI MF1392 - 水銀プローブを使用した容量電圧測定によるシリコンウェーハの正味キャリア密度プロファイルを決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M06400 - SEMI M64 - 赤外吸収分光法による半絶縁性 (SI) ガリウムヒ素単結晶中の EL2 ディープドナー濃度の試験方法
SEMI M64 - 赤外吸収分光法による半絶縁性 (SI) ガリウムヒ素単結晶中の EL2 ディープドナー濃度の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M05200 - SEMI M52 - 130 nm ～ 5 nm テクノロジー世代のシリコンウェーハ用走査表面検査システムの仕様ガイド
SEMI M52 - 130 nm ～ 5 nm テクノロジー世代のシリコンウェーハ用走査表面検査システムの仕様ガイド セール価格 Member Price : ¥113
MF181000 - SEMI MF1810 - シリコンウェーハの優先的にエッチングまたは装飾された表面欠陥を数える試験方法
SEMI MF1810 - シリコンウェーハの優先的にエッチングまたは装飾された表面欠陥を数える試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M00800 - SEMI M8 - 研磨単結晶シリコンテストウェハの仕様
SEMI M8 - 研磨単結晶シリコンテストウェハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G09000 - SEMI G90 - テストおよび包装プロセスに使用される 300 mm ウェーハコインスタック型輸送コンテナの仕様
SEMI G90 - テストおよび包装プロセスに使用される 300 mm ウェーハコインスタック型輸送コンテナの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F11000 - SEMI F110 - 単分散ポリスチレンラテックス (PSL) の試験方法 液体フィルターの課題
SEMI F110 - 単分散ポリスチレンラテックス (PSL) の試験方法 液体フィルターの課題 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G06400 - SEMI G64 - フルメッキ集積回路リードフレームの仕様 (Au、Ag、Cu、Ni、Pd/Ni、Pd)
SEMI G64 - フルメッキ集積回路リードフレームの仕様 (Au、Ag、Cu、Ni、Pd/Ni、Pd) セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F02400 - SEMI F24 - グレード 10/0.2 不活性特殊ガスの粒子濃度の仕様
SEMI F24 - グレード 10/0.2 不活性特殊ガスの粒子濃度の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF004200 - SEMI MF42 - 外部半導体材料の導電型の試験方法
SEMI MF42 - 外部半導体材料の導電型の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF004300 - SEMI MF43 - 半導体材料の抵抗率の試験方法
SEMI MF43 - 半導体材料の抵抗率の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF084700 - SEMI MF847 - X線技術による単結晶シリコンウェーハ上の平坦部の結晶方位を測定するための試験方法
SEMI MF847 - X線技術による単結晶シリコンウェーハ上の平坦部の結晶方位を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF161900 - SEMI MF1619 - ブリュースター角でのp偏光放射線入射による赤外吸収分光法によるシリコンウェーハの格子間酸素含有量の測定のための試験方法
SEMI MF1619 - ブリュースター角でのp偏光放射線入射による赤外吸収分光法によるシリコンウェーハの格子間酸素含有量の測定のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F10100 - SEMI F101 - ガス供給システムにおける圧力調整器の性能を決定するための試験方法
SEMI F101 - ガス供給システムにおける圧力調整器の性能を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F07500 - SEMI F75 - 半導体製造で使用される超純水の品質監視ガイド
SEMI F75 - 半導体製造で使用される超純水の品質監視ガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
HB00900 - SEMI HB9 - HB-LED の製造に使用される GaN エピタキシャル ウェーハの表面欠陥の目視検査の試験方法と合格基準
SEMI HB9 - HB-LED の製造に使用される GaN エピタキシャル ウェーハの表面欠陥の目視検査の試験方法と合格基準 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F08100 - SEMI F81 - 半導体製造アプリケーションの流体分配システムにおけるガスタングステンアーク (GTA) 溶接の外観検査および合格に関する仕様
SEMI F81 - 半導体製造アプリケーションの流体分配システムにおけるガスタングステンアーク (GTA) 溶接の外観検査および合格に関する仕様 セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
View All