SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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F04000 - SEMI F42 - 半導体処理装置の瞬低耐性の試験方法
SEMI F42 - 半導体処理装置の瞬低耐性の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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PV01500 - SEMI PV15 - 太陽電池材料の表面ラフネスおよびテクスチャを監視するための角度分解光散乱測定条件に関する定義ガイド
SEMI PV15 - 太陽電池材料の表面ラフネスおよびテクスチャを監視するための角度分解光散乱測定条件に関する定義ガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
S01700 - SEMI S17 - 無人搬送運車（UTV）系統の安全基準
SEMI S17 - 無人搬送運車（UTV）系統の安全基準 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
S01300 - SEMI S13 - 製造装置とともに使用することが意図された装置ユーザーへの提供文書のための環境、健康、安全ガイドライン
SEMI S13 - 製造装置とともに使用することが意図された装置ユーザーへの提供文書のための環境、健康、安全ガイドライン セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
PV05400 - SEMI PV54 - 結晶硅太阳電気池N型層接触用银浆技術规范
SEMI PV54 - 結晶硅太阳電気池N型層接触用银浆技術规范 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M05800 - SEMI M58 - DMAを基にしたパーティクル積システムとプロセス評価のためのテスト方法
SEMI M58 - DMAを基にしたパーティクル積システムとプロセス評価のためのテスト方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M01700 - SEMI M17 - 一般的なウェーハグリッドのガイド
SEMI M17 - 一般的なウェーハグリッドのガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G04300 - SEMI G43 - プラスチックモールドパッケージの接合部とケース間の熱抵抗のための試験方法
SEMI G43 - プラスチックモールドパッケージの接合部とケース間の熱抵抗のための試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M05900 - SEMI M59 - シリコン技術の用語集
SEMI M59 - シリコン技術の用語集 セール価格Member Price: ¥135
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M06600 - SEMI M66 - MISフラットバンド電圧―絶縁膜厚法を使った、酸化膜、およびhigh-κゲートスタックの有効な仕事関数の計算方法
SEMI M66 - MISフラットバンド電圧―絶縁膜厚法を使った、酸化膜、およびhigh-κゲートスタックの有効な仕事関数の計算方法 セール価格Member Price: ¥135
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M07700 - SEMI M77 - ロールオフ量（ROA）を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法
SEMI M77 - ロールオフ量（ROA）を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M07100 - SEMI M71 - CMOS LSI用シリコン・オン・インシュレーター（SOI）ウェーハのための仕様
SEMI M71 - CMOS LSI用シリコン・オン・インシュレーター（SOI）ウェーハのための仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M04200 - SEMI M42 - 化合物半導体エピタキシャルウェーハの仕様
SEMI M42 - 化合物半導体エピタキシャルウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
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M06500 - SEMI M65 - 化合物半導体エピタキシャルウェーハに使用するサファイア基板の仕様
SEMI M65 - 化合物半導体エピタキシャルウェーハに使用するサファイア基板の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G05500 - SEMI G55 - リードフレーム銀めっき光沢度の測定方法
SEMI G55 - リードフレーム銀めっき光沢度の測定方法 セール価格Member Price: ¥135
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M04000 - SEMI M40 - シリコンウェーハ表面のラフネス測定のガイド
SEMI M40 - シリコンウェーハ表面のラフネス測定のガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M06000 - SEMI M60 - シリコンウェーハ評価のためのSiO2の経時絶縁破壊特性の試験方法
SEMI M60 - シリコンウェーハ評価のためのSiO2の経時絶縁破壊特性の試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M04600 - SEMI M46 - ECV法によりエピタキシァル層内のキャリア密度を測定するための試験方法
SEMI M46 - ECV法によりエピタキシァル層内のキャリア密度を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥135
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M06800 - SEMI M68 - 測定した高さデータ配列から曲率法ZDDを使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法
SEMI M68 - 測定した高さデータ配列から曲率法ZDDを使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法 セール価格Member Price: ¥135
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M06400 - SEMI M64 - 赤外線吸収スペクトルによる絶縁（SI）ガリウムヒ素単結晶内のEL2深いドナー濃度の試験方法
SEMI M64 - 赤外線吸収スペクトルによる絶縁（SI）ガリウムヒ素単結晶内のEL2深いドナー濃度の試験方法 セール価格Member Price: ¥135
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M03500 - SEMI M35 - 自動検査により検出されるシリコンウェーハ表面特性の仕様を開発するためのガイド
SEMI M35 - 自動検査により検出されるシリコンウェーハ表面特性の仕様を開発するためのガイド セール価格Member Price: ¥135
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M06100 - SEMI M61 - 埋め込み層付きシリコンエピタキシャルウェーハの仕様
SEMI M61 - 埋め込み層付きシリコンエピタキシャルウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
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M05400 - SEMI M54 - 半絶縁性（SI）GaAs材料のパラメータのガイド
SEMI M54 - 半絶縁性（SI）GaAs材料のパラメータのガイド セール価格Member Price: ¥135
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M01600 - SEMI M16 - 多結晶シリコンの仕様
SEMI M16 - 多結晶シリコンの仕様 セール価格Member Price: ¥135
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