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M07000 - SEMI M70 - 部分的なウェーハサイトの平坦度を使用してウェーハのニアエッジ形状を決定するための試験方法
SEMI M70 - 部分的なウェーハサイトの平坦度を使用してウェーハのニアエッジ形状を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G07300 - SEMI G73 - ワイヤーボンディングに関するプル強度のための試験方法
SEMI G73 - ワイヤーボンディングに関するプル強度のための試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G02900 - SEMI G29 - モールディングコンパウンド中の微量肥満検査のための試験方法
SEMI G29 - モールディングコンパウンド中の微量肥満検査のための試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M01600 - SEMI M16 - 多結晶シリコンの仕様
SEMI M16 - 多結晶シリコンの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF115300 - SEMI MF1153 - 容量電圧測定による金属酸化シリコン (MOS) 構造の特性評価のための試験方法
SEMI MF1153 - 容量電圧測定による金属酸化シリコン (MOS) 構造の特性評価のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G01100 - SEMI G11 - 熱硬化性モールディングコンパウンドのラムフォロワー装置によるゲル化時間およびスパイラルフローの推奨作業方法
SEMI G11 - 熱硬化性モールディングコンパウンドのラムフォロワー装置によるゲル化時間およびスパイラルフローの推奨作業方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G02000 - SEMI G20 - プラスチックパッケージのリード仕上げの仕様 (アクティブデバイスのみ)
SEMI G20 - プラスチックパッケージのリード仕上げの仕様 (アクティブデバイスのみ) セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M08200 - SEMI M82 - 赤外吸収分光法による半絶縁性ガリウムヒ素単結晶中の炭素アクセプター濃度の試験方法
SEMI M82 - 赤外吸収分光法による半絶縁性ガリウムヒ素単結晶中の炭素アクセプター濃度の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G07100 - SEMI G71 - 包装材料用中間容器のバーコードマーキングの仕様
SEMI G71 - 包装材料用中間容器のバーコードマーキングの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M06300 - SEMI M63 - 化合物半導体エピタキシャルウェーハに使用するサファイア基板の仕様
SEMI M63 - 化合物半導体エピタキシャルウェーハに使用するサファイア基板の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G05200 - SEMI G52 - 半導体リードフレームのイオン汚染の測定のための標準測定法（提案）
SEMI G52 - 半導体リードフレームのイオン汚染の測定のための標準測定法（提案） セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G01500 - SEMI G15 - 成形材料の示差走査熱量測定の標準試験方法
SEMI G15 - 成形材料の示差走査熱量測定の標準試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G09500 - SEMI G95 - 後工程における450mmウェーハ用テープフレームカセットのためのロードポートの機械的インターフェースの仕様
SEMI G95 - 後工程における450mmウェーハ用テープフレームカセットのためのロードポートの機械的インターフェースの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M06700 - SEMI M67 - ESFQR、ESFQD、およびESBIRメトリクスを使用して、測定された厚さのデータ配列からウェーハのニアエッジ形状を決定するためのテスト方法
SEMI M67 - ESFQR、ESFQD、およびESBIRメトリクスを使用して、測定された厚さのデータ配列からウェーハのニアエッジ形状を決定するためのテスト方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G09200 - SEMI G92 - 450 mm ウェーハ用テープフレームカセットの仕様
SEMI G92 - 450 mm ウェーハ用テープフレームカセットの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F05400 - SEMI F54 - 凝縮核計数器の計数効率を測定するための試験方法
SEMI F54 - 凝縮核計数器の計数効率を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G00400 - SEMI G4 - スタンピングリードフレーム製品で使用されるICリードフレーム材料の仕様
SEMI G4 - スタンピングリードフレーム製品で使用されるICリードフレーム材料の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G01300 - SEMI G13 - 成形材料の熱膨張特性の試験方法
SEMI G13 - 成形材料の熱膨張特性の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E00500 - SEMI E5 - SEMI 機器通信規格 2 メッセージ内容の仕様 (SECS-II)
SEMI E5 - SEMI 機器通信規格 2 メッセージ内容の仕様 (SECS-II) セール価格 Member Price : ¥225
E08400 - SEMI E84 - 拡張キャリア ハンドオフ パラレル I/O インターフェイスの仕様
SEMI E84 - 拡張キャリア ハンドオフ パラレル I/O インターフェイスの仕様 セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
E03000 - SEMI E30 - 製造装置の通信および制御用の汎用モデル (GEM) の仕様
SEMI E30 - 製造装置の通信および制御用の汎用モデル (GEM) の仕様 セール価格 Member Price : ¥225
E04000 - SEMI E40 - 処理管理の仕様
SEMI E40 - 処理管理の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E00400 - SEMI E4 - SEMI 機器通信規格 1 メッセージ転送仕様 (SECS-I)
SEMI E4 - SEMI 機器通信規格 1 メッセージ転送仕様 (SECS-I) セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E03700 - SEMI E37 - 高速 SECS メッセージ サービス (HSMS) 汎用サービスの仕様
SEMI E37 - 高速 SECS メッセージ サービス (HSMS) 汎用サービスの仕様 セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
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