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SEMI G52 - 半導体リードフレームのイオン汚染の測定のための標準測定法（提案） -
Volume(s):
Packaging
Language:
Japanese
Type: Single Standards Download (.pdf)
Abstract
本測定法は、Global Assembly and Packaging Committeeで技術的に承認されたもので、Japanese Packaging Committeeが直接責任を負うものである。現版は2004年7月23日Japanese Regional Standards Committeeにて承認されている2004 年9月にまずwww.semi.orgで入手可能となり、 2004年11月発行に続く。初版は1990年。
本基準は、抽出水分法を用いた、リードフレーム上のイオン汚染を測定する手順について行っています。 この方法は（ Na+ 、 NH 4 + 、 K+ 、 Cl- 、 NO 3 - 、 Br- 、 SO 4 2- 、 PO 4 3- ）に対して感情を持つ。
注意： この基準および安全ガイドラインはその使用に関連した全ての安全問題を進めることを意図していない。 ，また使用前に法規制やその他の制限への適用性を判断するものである。
参照されるSEMI規格なし。
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