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SEMI E185 - 300 mm テープ フレーム FOUP の仕様
セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
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SEMI G36 - プラスチック成形高密度タブクワッド半導体パッケージツーリングの製造に使用される寸法および公差の仕様
セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥24,800
Non-Member Price: ¥24,800
SEMI PV93 - 太陽電池の光および高温誘発劣化 (LeTID) 感受性の加速セルレベル試験の試験方法
セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
Non-Member Price: ¥31,900
SEMI F77 - 腐食性のガスシステムに使用される合金表面の電気化学の臨界孔食温度の試験方法
セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
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SEMI P20 - EBレジストパラメーターのカタログ公開のガイドライン（提案）
セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
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SEMI P3 - 硬質表面フォトプレート用フォトレジスト/電子ビームレジストの仕様
セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
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SEMI G44 - ガラス・メタル・シール・セラミック・パッケージのリード仕上げの仕様 (アクティブ・デバイスのみ)
セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
Non-Member Price: ¥31,900
SEMI P11 - アルカリ揮発性溶液に対する全規定度の測定のテスト方法
セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
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SEMI M38 - 鏡面リクレイムシリコンウェーハの仕様
セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
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SEMI M76 - 開発中の直径 450 mm 研磨単結晶シリコン ウェーハの仕様
通常価格¥49,500 JPY
セール価格¥31,900 JPY
SEMI M56 - 計量装置の測定変動と偏りに立つ費用成分の作業法
セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
Non-Member Price: ¥38,100
SEMI M23 - 鏡面単結晶インジウムリンウェーハの仕様
セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
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SEMI P13 - 吸原子光分光法によるポジティブフォトレジスト中における最大とカリウムの測定
セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
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SEMI G69 - リードフレームとモールディングコンパウンド間のその後強度の測定の試験方法
セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
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SEMI M79 - 太陽電池用円盤状100mm鏡面研磨単結晶ゲルマニウムウェーハの仕様
セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
Non-Member Price: ¥38,100