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G02700 - SEMI G27 - プラスチックリード付きチップキャリア (PLCC) パッケージ用リードフレームの仕様
SEMI G27 - プラスチックリード付きチップキャリア (PLCC) パッケージ用リードフレームの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥24,800
P01400 - SEMI P14 - 黒鉛炉原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト中の錫の測定
SEMI P14 - 黒鉛炉原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト中の錫の測定 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P01900 - SEMI P19 - 集積回路製造用の計測パターンセルの仕様
SEMI P19 - 集積回路製造用の計測パターンセルの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01400 - SEMI P14 - グラファイト炉原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト中のスズの測定
SEMI P14 - グラファイト炉原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト中のスズの測定 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
3D01900 - SEMI 3D19 - 薄いチップのハンドリングに使用される粘着トレイの粘着強度の試験方法
SEMI 3D19 - 薄いチップのハンドリングに使用される粘着トレイの粘着強度の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P02300 - SEMI P23 - プログラム欠陥マスクおよびマスク欠陥検査システムの感覚分析ベンチマーク手順についてのガイドライン
SEMI P23 - プログラム欠陥マスクおよびマスク欠陥検査システムの感覚分析ベンチマーク手順についてのガイドライン セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
MS00800 - SEMI MS8 - 微小電気機械システム (MEMS) パッケージの気密性評価ガイド
SEMI MS8 - 微小電気機械システム (MEMS) パッケージの気密性評価ガイド 通常価格¥49,500 JPY セール価格¥31,900 JPY
M03700 - SEMI M37 - 低転位密度Inp基板のエッチピット密度（EPD）の測定方法
SEMI M37 - 低転位密度Inp基板のエッチピット密度（EPD）の測定方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04700 - SEMI P47 - ラインエッジ粗さおよび線幅粗さの評価のための試験方法
SEMI P47 - ラインエッジ粗さおよび線幅粗さの評価のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G02600 - SEMI G26 - 密閉型スラムチップキャリア蓋の仕様
SEMI G26 - 密閉型スラムチップキャリア蓋の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥24,800
G08500 - SEMI G85 - マップデータ・フォーマット用仕様
SEMI G85 - マップデータ・フォーマット用仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P03000 - SEMI P30 - 寸法測定用走査型電子顕微鏡（CD-SEM）の目録発行の実施要領
SEMI P30 - 寸法測定用走査型電子顕微鏡（CD-SEM）の目録発行の実施要領 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03700 - SEMI M37 - 低転位密度リン化インジウムウェーハのエッチピット密度 (EPD) を測定するための試験方法
SEMI M37 - 低転位密度リン化インジウムウェーハのエッチピット密度 (EPD) を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G00500 - SEMI G5 - 仕様セラミックチップキャリア（CCC）
SEMI G5 - 仕様セラミックチップキャリア（CCC） セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥31,900
P03700 - SEMI P37 - 極端紫外リソグラフィー基板およびブランクの仕様
SEMI P37 - 極端紫外リソグラフィー基板およびブランクの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C10300 - SEMI C103 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) コンディショニング ディスクの性能パラメータを報告するためのガイド
SEMI C103 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) コンディショニング ディスクの性能パラメータを報告するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P00600 - SEMI P6 - フォトマスク用レジストレーションマーク
SEMI P6 - フォトマスク用レジストレーションマーク セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P01700 - SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法 (ICP) によるポジ型フォトレジスト金属イオンフリー (MIF) 現像液中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、ニッケルの定量
SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法 (ICP) によるポジ型フォトレジスト金属イオンフリー (MIF) 現像液中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、ニッケルの定量 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P00600 - SEMI P6 - フォトマスクのレジストレーションマークの仕様
SEMI P6 - フォトマスクのレジストレーションマークの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P04200 - SEMI P42 - ウェーハ露光システムへの自動レシピ配信のためのレチクルデータの仕様
SEMI P42 - ウェーハ露光システムへの自動レシピ配信のためのレチクルデータの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03900 - SEMI M39 - 半絶縁GaAs単結晶の抵抗率及びホール係数を測定しホール移動度を決定する方法
SEMI M39 - 半絶縁GaAs単結晶の抵抗率及びホール係数を測定しホール移動度を決定する方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M01400 - SEMI M14 - 半絶縁性ガリウムヒ素単結晶のイオン注入および活性化プロセスの仕様
SEMI M14 - 半絶縁性ガリウムヒ素単結晶のイオン注入および活性化プロセスの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P02700 - SEMI P27 - 基板上のレジスト厚さ測定のためのパラメータチェックリスト
SEMI P27 - 基板上のレジスト厚さ測定のためのパラメータチェックリスト セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M02600 - SEMI M26 - ウェーハの運搬に使用される100 mm，125 mm，150 mm，200 mmウェーハシッピングボックスの再利用ガイド
SEMI M26 - ウェーハの運搬に使用される100 mm，125 mm，150 mm，200 mmウェーハシッピングボックスの再利用ガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
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