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G00800 - SEMI G8 - 金めっきの試験方法
SEMI G8 - 金めっきの試験方法 セール価格Member Price: ¥135
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M04900 - SEMI M49 - 130 nmから65 nmへの技術世代のシリコンウェーハ用ジオメトリ測定システム規定のためのガイド
SEMI M49 - 130 nmから65 nmへの技術世代のシリコンウェーハ用ジオメトリ測定システム規定のためのガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04600 - SEMI P46 - XMLによるフォトマスク上の限界寸法（CD）測定情報データの仕様
SEMI P46 - XMLによるフォトマスク上の限界寸法（CD）測定情報データの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P02800 - SEMI P28 - 集積回路製造用オーバーレイ計測テストパターン
SEMI P28 - 集積回路製造用オーバーレイ計測テストパターン セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P02600 - SEMI P26 - フォトレジストの感情測定用パラメーターチェックリスト
SEMI P26 - フォトレジストの感情測定用パラメーターチェックリスト セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G08000 - SEMI G80 - 自動テスト装置の全体的なデジタル タイミング精度を分析するためのテスト方法
SEMI G80 - 自動テスト装置の全体的なデジタル タイミング精度を分析するためのテスト方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P02300 - SEMI P23 - プログラムされた欠陥マスクのガイドラインとマスク欠陥検査システムの感度分析のベンチマーク手順
SEMI P23 - プログラムされた欠陥マスクのガイドラインとマスク欠陥検査システムの感度分析のベンチマーク手順 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P04100 - SEMI P41 - 欠陥検査ツール、修復ツール、レビューツール間でのXMLによるマスク欠陥データ処理の仕様
SEMI P41 - 欠陥検査ツール、修復ツール、レビューツール間でのXMLによるマスク欠陥データ処理の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G03200 - SEMI G32 - カプセルなし熱抵抗測定用チップのガイドライン
SEMI G32 - カプセルなし熱抵抗測定用チップのガイドライン セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥29,700
E17900 - SEMI E179 - プロトコルバッファの共通コンポーネントの仕様
SEMI E179 - プロトコルバッファの共通コンポーネントの仕様 セール価格 Member Price : ¥113
M08900 - SEMI M89 - 短波長励起マイクロ波光導電減衰法によるシリコンエピタキシャルウェーハ（p/p+、n/n+）のエピ層の再結合寿命の試験方法
SEMI M89 - 短波長励起マイクロ波光導電減衰法によるシリコンエピタキシャルウェーハ（p/p+、n/n+）のエピ層の再結合寿命の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G00600 - SEMI G6 - シールリングの平坦度の試験方法
SEMI G6 - シールリングの平坦度の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV09200 - SEMI PV92 - フレキシブル薄膜太陽光発電 (PV) モジュールの延長試験方法
SEMI PV92 - フレキシブル薄膜太陽光発電 (PV) モジュールの延長試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M01500 - SEMI M15 - 半絶縁リウムヒ素ウェーハ用の鏡面ウェーハの屋外表面欠陥表
SEMI M15 - 半絶縁リウムヒ素ウェーハ用の鏡面ウェーハの屋外表面欠陥表 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
3D02000 - SEMI 3D20 - パネル レベル パッケージング (PLP) アプリケーションのパネル特性の仕様
SEMI 3D20 - パネル レベル パッケージング (PLP) アプリケーションのパネル特性の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P02500 - SEMI P25 - 焦点深度とベストフォーカスの測定仕様
SEMI P25 - 焦点深度とベストフォーカスの測定仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01700 - SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト・金属イオンフリー（MIF）における鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、およびニッケルの測定
SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト・金属イオンフリー（MIF）における鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、およびニッケルの測定 セール価格Member Price: ¥135
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G05800 - SEMI G58 - Cerquad パッケージ構造の仕様
SEMI G58 - Cerquad パッケージ構造の仕様 セール価格Member Price: ¥113
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F07100 - SEMI F71 - ガス供給システムの温度サイクル試験方法
SEMI F71 - ガス供給システムの温度サイクル試験方法 通常価格¥49,500 JPY セール価格¥38,100 JPY
P01300 - SEMI P13 - 原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト中のナトリウムとカリウムの測定
SEMI P13 - 原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト中のナトリウムとカリウムの測定 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G03200 - SEMI G32 - カプセル化されていない熱試験チップのガイドライン
SEMI G32 - カプセル化されていない熱試験チップのガイドライン セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P02400 - SEMI P24 - CD 計測手順
SEMI P24 - CD 計測手順 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01200 - SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、及びニッケルの測定
SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、及びニッケルの測定 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P02100 - SEMI P21 - マスク描画装置の精度表示のガイドライン
SEMI P21 - マスク描画装置の精度表示のガイドライン セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
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