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D07900 - SEMI D79 - フレキシブル ディスプレイの局所的および全体的なちらつきのテスト方法
SEMI D79 - フレキシブル ディスプレイの局所的および全体的なちらつきのテスト方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D08000 - SEMI D80 - 高ガスバリア性プラスチックフィルムの水蒸気透過率を短時間で測定するための試験方法
SEMI D80 - 高ガスバリア性プラスチックフィルムの水蒸気透過率を短時間で測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G00300 - SEMI G3 - サイドブレージング積層板の仕様
SEMI G3 - サイドブレージング積層板の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F11500 - SEMI F115 - 超高純度化学物質供給システムおよびコンポーネントの接液面に存在する金属元素を測定するための試験方法
SEMI F115 - 超高純度化学物質供給システムおよびコンポーネントの接液面に存在する金属元素を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G05300 - SEMI G53 - 金属蓋/プリフォームアセンブリの仕様
SEMI G53 - 金属蓋/プリフォームアセンブリの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01600 - SEMI P16 - 黒鉛炉原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト・金属イオンフリー（MIF）留保液中の錫の測定
SEMI P16 - 黒鉛炉原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト・金属イオンフリー（MIF）留保液中の錫の測定 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P01600 - SEMI P16 - グラファイト炉原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト金属イオンフリー (MIF) 現像液中のスズの定量
SEMI P16 - グラファイト炉原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト金属イオンフリー (MIF) 現像液中のスズの定量 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M01900 - SEMI M19 - バルク・ガリウムヒ素単結晶基板の電気的性質（仕様）
SEMI M19 - バルク・ガリウムヒ素単結晶基板の電気的性質（仕様） セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
C09800 - SEMI C98 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) 粒度分布 (PSD) 測定およびレポートのガイド
SEMI C98 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) 粒度分布 (PSD) 測定およびレポートのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M01900 - SEMI M19 - バルクガリウムヒ素単結晶基板の電気的特性の仕様
SEMI M19 - バルクガリウムヒ素単結晶基板の電気的特性の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P00800 - SEMI P8 - フォトレジスト中の水分を測定するための試験方法
SEMI P8 - フォトレジスト中の水分を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G04800 - SEMI G48 - 成形プラスチックパッケージツーリングの測定方法の仕様
SEMI G48 - 成形プラスチックパッケージツーリングの測定方法の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥24,800
T01400 - SEMI T14 - 300 mm シリコン ウェーハ上のマイクロ ID の仕様
SEMI T14 - 300 mm シリコン ウェーハ上のマイクロ ID の仕様 セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
C10000 - SEMI C100 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) 研磨パッドの硬度を報告するためのガイド
SEMI C100 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) 研磨パッドの硬度を報告するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01500 - SEMI P15 - 原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト金属イオンフリー (MIF) 現像液中のナトリウムとカリウムの定量
SEMI P15 - 原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト金属イオンフリー (MIF) 現像液中のナトリウムとカリウムの定量 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P03400 - SEMI P34 - 230 mm角フォトマスク基板の仕様
SEMI P34 - 230 mm角フォトマスク基板の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C10100 - SEMI C101 - 化学機械平坦化 (CMP) スラリーおよび関連化学薬品の pH を測定するための試験方法
SEMI C101 - 化学機械平坦化 (CMP) スラリーおよび関連化学薬品の pH を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P00200 - SEMI P2 - 硬質表面フォトマスク用クロム薄膜の仕様
SEMI P2 - 硬質表面フォトマスク用クロム薄膜の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01200 - SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法 (ICP) によるポジ型フォトレジスト中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、ニッケルの定量
SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法 (ICP) によるポジ型フォトレジスト中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、ニッケルの定量 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01500 - SEMI P15 - 原子光分光法によるポジティブフォトレジスト・金属イオンフリー（MIF）漸減液中の吸湿とカリウムの測定
SEMI P15 - 原子光分光法によるポジティブフォトレジスト・金属イオンフリー（MIF）漸減液中の吸湿とカリウムの測定 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04200 - SEMI P42 - ウエハ露光システムへの自動レシピ転送のためのレチクルデータの仕様
SEMI P42 - ウエハ露光システムへの自動レシピ転送のためのレチクルデータの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M03600 - SEMI M36 - 低転位密度GaAs基板のエッチピット密度（EPD）の測定方法
SEMI M36 - 低転位密度GaAs基板のエッチピット密度（EPD）の測定方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G07600 - SEMI G76 - テープキャリアパッケージ (TCP) で使用されるポリイミドベースの粘着テープの仕様
SEMI G76 - テープキャリアパッケージ (TCP) で使用されるポリイミドベースの粘着テープの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
T01300 - SEMI T13 - デバイス追跡の仕様: 概念、動作、およびサービス
SEMI T13 - デバイス追跡の仕様: 概念、動作、およびサービス セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
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