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P03400 - SEMI P34 - 230 mm角フォトマスク基板の仕様
SEMI P34 - 230 mm角フォトマスク基板の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P03500 - SEMI P35 - マイクロリソグラフィー計測の用語
SEMI P35 - マイクロリソグラフィー計測の用語 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P03500 - SEMI P35 - マイクロリソグラフィーメトロロジの用語法
SEMI P35 - マイクロリソグラフィーメトロロジの用語法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P03600 - SEMI P36 - 限界寸法測定走査型電子顕微鏡 (CD-SEM) の倍率基準ガイド
SEMI P36 - 限界寸法測定走査型電子顕微鏡 (CD-SEM) の倍率基準ガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P03600 - SEMI P36 - 測長走査型電子顕微鏡（CD-SEM）用倍率標準試料のガイド
SEMI P36 - 測長走査型電子顕微鏡（CD-SEM）用倍率標準試料のガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P03700 - SEMI P37 - 極端紫外リソグラフィー基板およびブランクの仕様
SEMI P37 - 極端紫外リソグラフィー基板およびブランクの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P03700 - SEMI P37 - 極紫外線リソグラフィマスク基板の仕様
SEMI P37 - 極紫外線リソグラフィマスク基板の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P03800 - SEMI P39 - Specification for OASIS® – Open Artwork System Interchange Standard - SEMI Dev 2
SEMI P39 - OASIS® の仕様 – Open Artwork System Interchange Standard セール価格 Member Price : ¥225
P03900 - SEMI P39 - OASISTM – オープン・アートワーク・システム・インターチェンジ・スタンダード（OPEN ARTWORK SYSTEM INTERCHANGE STANDARD）
SEMI P39 - OASISTM – オープン・アートワーク・システム・インターチェンジ・スタンダード（OPEN ARTWORK SYSTEM INTERCHANGE STANDARD） セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P03900 - SEMI P39 - Specification for OASIS® – Open Artwork System Interchange Standard
SEMI P39 - Specification for OASIS® – Open Artwork System Interchange Standard セール価格Member Price:
Non-Member Price: ¥62,700
P04000 - SEMI P40 - 極端紫外線リソグラフィーマスクの取り付け要件の仕様
SEMI P40 - 極端紫外線リソグラフィーマスクの取り付け要件の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P04000 - SEMI P40 - 極紫外線リソグラフィマスクの取り付けに関する要求条件およびアライメント基準位置の仕様
SEMI P40 - 極紫外線リソグラフィマスクの取り付けに関する要求条件およびアライメント基準位置の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04100 - SEMI P41 - 欠陥検査ツール、修復ツール、レビューツール間でのXMLによるマスク欠陥データ処理の仕様
SEMI P41 - 欠陥検査ツール、修復ツール、レビューツール間でのXMLによるマスク欠陥データ処理の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P04100 - SEMI P41 - XMLによる，検査装置，修正装置およびレビュー装置間で取扱うマスク欠陥データ仕様
SEMI P41 - XMLによる，検査装置，修正装置およびレビュー装置間で取扱うマスク欠陥データ仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04200 - SEMI P42 - ウエハ露光システムへの自動レシピ転送のためのレチクルデータの仕様
SEMI P42 - ウエハ露光システムへの自動レシピ転送のためのレチクルデータの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P04200 - SEMI P42 - ウェーハ露光システムへの自動レシピ配信のためのレチクルデータの仕様
SEMI P42 - ウェーハ露光システムへの自動レシピ配信のためのレチクルデータの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04300 - SEMI P43 - フォトマスク認定用語
SEMI P43 - フォトマスク認定用語 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P04400 - SEMI P44 - マスク ツールに固有の Open Artwork System Interchange Standard (OASIS ®) の仕様
SEMI P44 - マスク ツールに固有の Open Artwork System Interchange Standard (OASIS ®) の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P04400 - SEMI P44 - マスク装置向けオープン・アートワーク・システム・インターチェンジ・標準（OASIS®）の仕様
SEMI P44 - マスク装置向けオープン・アートワーク・システム・インターチェンジ・標準（OASIS®）の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04500 - SEMI P45 - マスク ツールのジョブ デック データ形式の仕様
SEMI P45 - マスク ツールのジョブ デック データ形式の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P04500 - SEMI P45 - マスク装置向けジョブデック・データフォーマットの仕様
SEMI P45 - マスク装置向けジョブデック・データフォーマットの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04600 - SEMI P46 - XMLによるフォトマスク上の限界寸法（CD）測定情報データの仕様
SEMI P46 - XMLによるフォトマスク上の限界寸法（CD）測定情報データの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P04600 - SEMI P46 - XMLによるフォトマスクのCD計測情報データの仕様
SEMI P46 - XMLによるフォトマスクのCD計測情報データの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04700 - SEMI P47 - ラインエッジ粗さおよび線幅粗さの評価のための試験方法
SEMI P47 - ラインエッジ粗さおよび線幅粗さの評価のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900