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C08400 - SEMI C84 - シクロペンタノンのガイド
SEMI C84 - シクロペンタノンのガイド セール価格Member Price: ¥113
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C08500 - SEMI C85 - メチルイソブチルカルビノール (MIBC) のガイド
SEMI C85 - メチルイソブチルカルビノール (MIBC) のガイド セール価格Member Price: ¥113
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C08600 - SEMI C86 - エチレングリコールのガイド
SEMI C86 - エチレングリコールのガイド セール価格Member Price: ¥113
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C08700 - SEMI C87 - 接触式形状測定による超純水および液体化学薬品分配システムで使用されるポリマー表面の粗さを測定するための試験方法
SEMI C87 - 接触式形状測定による超純水および液体化学薬品分配システムで使用されるポリマー表面の粗さを測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C08800 - SEMI C88 - 1.125 インチ タイプの表面実装ガス分配システムのサンドイッチ コンポーネントの寸法の仕様
SEMI C88 - 1.125 インチ タイプの表面実装ガス分配システムのサンドイッチ コンポーネントの寸法の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C08900 - SEMI C89 - 誘導結合プラズマ - 質量分析法 (ICP-MS) による定格 30 nm 未満の液体フィルターの粒子除去性能の試験方法
SEMI C89 - 誘導結合プラズマ - 質量分析法 (ICP-MS) による定格 30 nm 未満の液体フィルターの粒子除去性能の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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C09000 - SEMI C90 - 液体化学薬品供給システムで使用されるパーフルオロアルコキシ (PFA) 材料の試験方法および仕様
SEMI C90 - 液体化学薬品供給システムで使用されるパーフルオロアルコキシ (PFA) 材料の試験方法および仕様 セール価格Member Price: ¥113
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C09100 - SEMI C91 - ガス供給コンポーネントの水分ドライダウン特性を測定するための試験方法
SEMI C91 - ガス供給コンポーネントの水分ドライダウン特性を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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C09200 - SEMI C92 - 塩化第二鉄溶液を使用した腐食性ガスシステムで使用されるステンレス鋼表面の臨界孔食温度を決定するための試験方法
SEMI C92 - 塩化第二鉄溶液を使用した腐食性ガスシステムで使用されるステンレス鋼表面の臨界孔食温度を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C09300 - SEMI C93 - ポーランドの超純水システム用途で使用されるイオン交換樹脂の品質を決定するためのガイド
SEMI C93 - ポーランドの超純水システム用途で使用されるイオン交換樹脂の品質を決定するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
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C09400 - SEMI C94 - シクロヘキサノンのガイド
SEMI C94 - シクロヘキサノンのガイド セール価格Member Price: ¥113
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C09500 - SEMI C95 - ペンタキス ジメチルアミノ タンタルのガイド
SEMI C95 - ペンタキス ジメチルアミノ タンタルのガイド セール価格Member Price: ¥113
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C09600 - SEMI C96 - 化学機械平坦化 (CMP) スラリーの密度を測定するための試験方法
SEMI C96 - 化学機械平坦化 (CMP) スラリーの密度を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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C09700 - SEMI C97 - パイプラインガスまたは加圧ガスシリンダーによって供給されるガスの粒子レベルの測定に関する仕様
SEMI C97 - パイプラインガスまたは加圧ガスシリンダーによって供給されるガスの粒子レベルの測定に関する仕様 セール価格Member Price: ¥113
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C09800 - SEMI C98 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) 粒度分布 (PSD) 測定およびレポートのガイド
SEMI C98 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) 粒度分布 (PSD) 測定およびレポートのガイド セール価格Member Price: ¥113
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C09900 - SEMI C99 - 化学機械平坦化 (CMP) スラリーおよび関連化学薬品の導電率を測定するための試験方法
SEMI C99 - 化学機械平坦化 (CMP) スラリーおよび関連化学薬品の導電率を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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C10000 - SEMI C100 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) 研磨パッドの硬度を報告するためのガイド
SEMI C100 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) 研磨パッドの硬度を報告するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
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C10100 - SEMI C101 - 化学機械平坦化 (CMP) スラリーおよび関連化学薬品の pH を測定するための試験方法
SEMI C101 - 化学機械平坦化 (CMP) スラリーおよび関連化学薬品の pH を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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C10200 - SEMI C102 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) 研磨パッドの密度と空隙率を報告するためのガイド
SEMI C102 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) 研磨パッドの密度と空隙率を報告するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
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C10300 - SEMI C103 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) コンディショニング ディスクの性能パラメータを報告するためのガイド
SEMI C103 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) コンディショニング ディスクの性能パラメータを報告するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
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C10400 - SEMI C104 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) パッドのポリマー ウィンドウの性能パラメータを報告するためのガイド
SEMI C104 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) パッドのポリマー ウィンドウの性能パラメータを報告するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
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C10500 - SEMI C105 - Guide for Trace Iron Analysis in High Purity 2-Propanol (IPA)
SEMI C105 - Guide for Trace Iron Analysis in High Purity 2-Propanol (IPA) セール価格Member Price:
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Chiplet and Heterogenous Integration for Microelectronics Packaging 6/30/26
Chiplet and Heterogenous Integration for Microelectronics Packaging 6/30/26 セール価格Member Price:
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Circularity Strategies and Waste Regulations
Circularity Strategies and Waste Regulations セール価格Member Price:
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