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MS00900 - SEMI MS9 - 미세 유체 장치 간의 고밀도 영구 연결 사양
SEMI MS9 - 미세 유체 장치 간의 고밀도 영구 연결 사양 정상 가격₩451,000 KRW 할인 가격₩290,000 KRW
M05000 - SEMI M50 - 오버레이법에 による走査型表面検査system用捕獲率および偽計数率を決定するための試験方法
P04600 - SEMI P46 - XML에 의한 포토마스크의 CD(Critical Dimension) 측정 정보 데이터 사양
G06800 - SEMI G68 - 空気環境における半導体팍케이지노잘크션부토케이스間の熱抵抗測定の試験方法
F06200 - SEMI F62 - 周囲 およびgas 温度の影響에서 masfro-contro-ra性能特性を決定する試験方法
M07900 - SEMI M79 - 太陽電池用円盤状100mm鏡面研磨単結晶ゲルマニウムウェーハの仕様
M07500 - SEMI M75 - 鏡面単結晶gariumanchimonsraisの仕様
SEMI M75 - 鏡面単結晶gariumanchimonsraisの仕様 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M01500 - SEMI M15 - 반 절연 갈륨 비소 웨이퍼에 대한 광택 웨이퍼 결함 한계 표
SEMI M15 - 반 절연 갈륨 비소 웨이퍼에 대한 광택 웨이퍼 결함 한계 표 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G09400 - SEMI G94 - 300mm 웨하용 코인스탁크형 테이프 프레임 출력기
SEMI G94 - 300mm 웨하용 코인스탁크형 테이프 프레임 출력기 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M05700 - SEMI M57 - 시리콘 아니르웨하노 사양
SEMI M57 - 시리콘 아니르웨하노 사양 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M04900 - SEMI M49 - 130nm에서 65nm까지의 최신 시리콘 웨하용 지오메트리 정정 시스템 정정의 가이드
P02300 - SEMI P23 - 프로그래밍된 결함 마스크에 대한 지침 및 마스크 결함 검사 시스템의 감도 분석을 위한 벤치마크 절차
M04500 - SEMI M45 - 300 mm웨하십핑 시스템
SEMI M45 - 300 mm웨하십핑 시스템 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
C07100 - SEMI C71 - 三塩化ホウウ素(BCI3) 仕様 およびgaid
SEMI C71 - 三塩化ホウウ素(BCI3) 仕様 およびgaid 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
PV00400 - SEMI PV4 - 박막 광전지 응용 분야를 위한 5세대 기판 크기 범위 사양
SEMI PV4 - 박막 광전지 응용 분야를 위한 5세대 기판 크기 범위 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P03200 - SEMI P32 - 포토레지스트에서 미량 금속 측정을 위한 테스트 방법
SEMI P32 - 포토레지스트에서 미량 금속 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
C03800 - SEMI C38 - 옥시염화인에 대한 지침
SEMI C38 - 옥시염화인에 대한 지침 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M03600 - SEMI M36 - 낮은 전위 밀도 갈륨 비소 웨이퍼에서 에칭 피트 밀도(EPD)를 측정하기 위한 테스트 방법
M03400 - SEMI M34 - SIMOX 웨하를 한정하는 방법
SEMI M34 - SIMOX 웨하를 한정하는 방법 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩271,000
F09800 - SEMI F98 - 半導体프로세스에 관한 정보
SEMI F98 - 半導体프로세스에 관한 정보 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
P04100 - SEMI P41 - 결함 검사 도구, 복구 도구 및 검토 도구 간 XML을 사용한 마스크 결함 데이터 처리 사양
G08600 - SEMI G86 - 시리콘칩(다이)의 3차 테스트 방법
SEMI G86 - 시리콘칩(다이)의 3차 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
G08000 - SEMI G80 - 자동 테스트 장비의 전체 ​​디지털 타이밍 정확도 분석을 위한 테스트 방법
M04800 - SEMI M48 - 패턴이 없는 실리콘 기판의 필름에 대한 화학-기계적 연마 공정 평가 가이드
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