SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

フィルター

並び替え:

1625 製品

PV04700 - SEMI PV47 - 結晶体光伏アセンブリ用减反射镀膜ガラス技術规范
SEMI PV47 - 結晶体光伏アセンブリ用减反射镀膜ガラス技術规范 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
T00200 - SEMI T2 - 二次元ドットマトリクスによるウェーハのマーキング仕様
SEMI T2 - 二次元ドットマトリクスによるウェーハのマーキング仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01000 - SEMI P10 - フォトマスクオーダーのデータ構造の仕様
SEMI P10 - フォトマスクオーダーのデータ構造の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P00800 - SEMI P8 - フォトレジスト中の水分の測定方法
SEMI P8 - フォトレジスト中の水分の測定方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04600 - SEMI P46 - XMLによるフォトマスクのCD計測情報データの仕様
SEMI P46 - XMLによるフォトマスクのCD計測情報データの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
T01000 - SEMI T10 - 二次元データマトリクス直接マーク品質を評価する試験方法
SEMI T10 - 二次元データマトリクス直接マーク品質を評価する試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P03500 - SEMI P35 - マイクロリソグラフィーメトロロジの用語法
SEMI P35 - マイクロリソグラフィーメトロロジの用語法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
T00600 - SEMI T6 - 電子データ交換 (EDI) によるテスト結果報告の手順と形式
SEMI T6 - 電子データ交換 (EDI) によるテスト結果報告の手順と形式 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P03700 - SEMI P37 - 極紫外線リソグラフィマスク基板の仕様
SEMI P37 - 極紫外線リソグラフィマスク基板の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P00500 - SEMI P5 - ペリクルの仕様
SEMI P5 - ペリクルの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04700 - SEMI P47 - ラインエッジラフネス（Line Edge Roughness）およびライン幅ラフネス（Line Width Roughness）測定の試験方法
SEMI P47 - ラインエッジラフネス（Line Edge Roughness）およびライン幅ラフネス（Line Width Roughness）測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
F07700 - SEMI F77 - 腐食性のガスシステムに使用される合金表面の電気化学の臨界孔食温度の試験方法
SEMI F77 - 腐食性のガスシステムに使用される合金表面の電気化学の臨界孔食温度の試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M05600 - SEMI M56 - 計量装置の測定変動と偏りに立つ費用成分の作業法
SEMI M56 - 計量装置の測定変動と偏りに立つ費用成分の作業法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G06900 - SEMI G69 - リードフレームとモールディングコンパウンド間のその後強度の測定の試験方法
SEMI G69 - リードフレームとモールディングコンパウンド間のその後強度の測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03800 - SEMI M38 - 鏡面リクレイムシリコンウェーハの仕様
SEMI M38 - 鏡面リクレイムシリコンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M02300 - SEMI M23 - 鏡面単結晶インジウムリンウェーハの仕様
SEMI M23 - 鏡面単結晶インジウムリンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M00900 - SEMI M9 - 鏡面単結晶ガリウムヒ素スライスの仕様
SEMI M9 - 鏡面単結晶ガリウムヒ素スライスの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M02400 - SEMI M24 - 鏡面単結晶プレミアムシリコンウェーハの仕様
SEMI M24 - 鏡面単結晶プレミアムシリコンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
C00357 - SEMI C3.57 - 内部電子的グレード二酸化炭素，CO2の仕様
SEMI C3.57 - 内部電子的グレード二酸化炭素，CO2の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M07300 - SEMI M73 - 測定したウェーハ刃エッジから直接的関連性のある特性を抽出するテスト方法
SEMI M73 - 測定したウェーハ刃エッジから直接的関連性のある特性を抽出するテスト方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M05200 - SEMI M52 - 130 nm、90nm、65nmおよび45nm技術世代シリコンウェーハ用走査型表面検査装置仕様のためのガイド
SEMI M52 - 130 nm、90nm、65nmおよび45nm技術世代シリコンウェーハ用走査型表面検査装置仕様のためのガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03400 - SEMI M34 - SIMOX ウェーハ指定ガイド
SEMI M34 - SIMOX ウェーハ指定ガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M01200 - SEMI M12 - ウェーハ表面の連続英数字マーキングの仕様
SEMI M12 - ウェーハ表面の連続英数字マーキングの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
C04500 - SEMI C45 - テトラエトキシシラン (TEOS) ガイドラインと仕様
SEMI C45 - テトラエトキシシラン (TEOS) ガイドラインと仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
View All