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D08000 - SEMI D80 - 高ガスバリア性プラスチックフィルムの水蒸気透過率を短時間で測定するための試験方法
SEMI D80 - 高ガスバリア性プラスチックフィルムの水蒸気透過率を短時間で測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D07900 - SEMI D79 - フレキシブル ディスプレイの局所的および全体的なちらつきのテスト方法
SEMI D79 - フレキシブル ディスプレイの局所的および全体的なちらつきのテスト方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV05000 - SEMI PV50 - ポリシリコン原料用のポリエチレン包装材料中の不純物に関する仕様
SEMI PV50 - ポリシリコン原料用のポリエチレン包装材料中の不純物に関する仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV08800 - SEMI PV88 - 不活性ガス溶融外部吸収法による光伏多結晶硅中の酸素含有量の測定方法
SEMI PV88 - 不活性ガス溶融外部吸収法による光伏多結晶硅中の酸素含有量の測定方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥24,800
A00400 - SEMI A4 - 半導体向け自動テスト装置テスターイベントメッセージング (TEMS) の仕様
SEMI A4 - 半導体向け自動テスト装置テスターイベントメッセージング (TEMS) の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MS01300 - SEMI MS13 - ディープ反応性イオン エッチング (DRIE) プロセスの特性評価のためのテスト パターンの使用に関するガイド
SEMI MS13 - ディープ反応性イオン エッチング (DRIE) プロセスの特性評価のためのテスト パターンの使用に関するガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G00300 - SEMI G3 - サイドブレージング積層板の仕様
SEMI G3 - サイドブレージング積層板の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G05300 - SEMI G53 - 金属蓋/プリフォームアセンブリの仕様
SEMI G53 - 金属蓋/プリフォームアセンブリの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F11500 - SEMI F115 - 超高純度化学物質供給システムおよびコンポーネントの接液面に存在する金属元素を測定するための試験方法
SEMI F115 - 超高純度化学物質供給システムおよびコンポーネントの接液面に存在する金属元素を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G03900 - SEMI G39 - 自動組立に適した、リードフレームを含むろう付けリードフラットパック構造の仕様
SEMI G39 - 自動組立に適した、リードフレームを含むろう付けリードフラットパック構造の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥24,800
HB01300 - SEMI HB13 - HB-LED MOCVD 装置通信インターフェース用サセプタの仕様
SEMI HB13 - HB-LED MOCVD 装置通信インターフェース用サセプタの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P03600 - SEMI P36 - 測長走査型電子顕微鏡（CD-SEM）用倍率標準試料のガイド
SEMI P36 - 測長走査型電子顕微鏡（CD-SEM）用倍率標準試料のガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
C09900 - SEMI C99 - 化学機械平坦化 (CMP) スラリーおよび関連化学薬品の導電率を測定するための試験方法
SEMI C99 - 化学機械平坦化 (CMP) スラリーおよび関連化学薬品の導電率を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G06100 - SEMI G61 - 同時焼成セラミックパッケージの仕様
SEMI G61 - 同時焼成セラミックパッケージの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥24,800
C09800 - SEMI C98 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) 粒度分布 (PSD) 測定およびレポートのガイド
SEMI C98 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) 粒度分布 (PSD) 測定およびレポートのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P04000 - SEMI P40 - 極紫外線リソグラフィマスクの取り付けに関する要求条件およびアライメント基準位置の仕様
SEMI P40 - 極紫外線リソグラフィマスクの取り付けに関する要求条件およびアライメント基準位置の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
F11600 - SEMI F116 - 現場での水の再利用をサポートする半導体製造ツールの排水分離ガイド
SEMI F116 - 現場での水の再利用をサポートする半導体製造ツールの排水分離ガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
T01600 - SEMI T16 - 極紫外線マスク自動識別用データマトリクス記号法適用の仕様
SEMI T16 - 極紫外線マスク自動識別用データマトリクス記号法適用の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G00300 - SEMI G3 - 仕様側面ろう付け積層板
SEMI G3 - 仕様側面ろう付け積層板 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
PV02200 - SEMI PV22 - 太陽光電池用シリコンウェーハの仕様
SEMI PV22 - 太陽光電池用シリコンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
E17700 - SEMI E177 - 電子顕微鏡ワークフローで使用される透過型電子顕微鏡 (TEM) ラメラキャリアの仕様
SEMI E177 - 電子顕微鏡ワークフローで使用される透過型電子顕微鏡 (TEM) ラメラキャリアの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E18300 - SEMI E183 - リッチ インタラクティブ テスト データベース (RITdb) の仕様
SEMI E183 - リッチ インタラクティブ テスト データベース (RITdb) の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
T01200 - SEMI T12 - トレース治具および器具の仕様
SEMI T12 - トレース治具および器具の仕様 セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
P04500 - SEMI P45 - マスク装置向けジョブデック・データフォーマットの仕様
SEMI P45 - マスク装置向けジョブデック・データフォーマットの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
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