SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

Historical Individual Standards

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936 製品

M03600 - SEMI M36 - 低転位密度ガリウムヒ素ウェーハのエッチピット密度 (EPD) を測定するための試験方法
SEMI M36 - 低転位密度ガリウムヒ素ウェーハのエッチピット密度 (EPD) を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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C07100 - SEMI C71 - 三塩化ホウ素（BCI3）の仕様およびガイド
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G08600 - SEMI G86 - シリコンチップ（ダイ）の三点曲げ試験方法
SEMI G86 - シリコンチップ（ダイ）の三点曲げ試験方法 セール価格Member Price: ¥135
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P03200 - SEMI P32 - フォトレジスト中の微量金属を測定するための試験方法
SEMI P32 - フォトレジスト中の微量金属を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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F04000 - SEMI F40 - 化学試験のための薬液分配部品の準備についての作業方法
SEMI F40 - 化学試験のための薬液分配部品の準備についての作業方法 セール価格Member Price: ¥135
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G01900 - SEMI G19 - エッチングにより製造されたディップリードフレームの仕様
SEMI G19 - エッチングにより製造されたディップリードフレームの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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G07200 - SEMI G72 - ボール グリッド アレイ設計ライブラリの仕様
SEMI G72 - ボール グリッド アレイ設計ライブラリの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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C05200 - SEMI C52 - 特殊ガスの保存寿命に関する仕様
SEMI C52 - 特殊ガスの保存寿命に関する仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
C02800 - SEMI C28 - フッ化ケイ素酸の仕様
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P02800 - SEMI P28 - 集積回路製造用オーバーレイ計測テストパターンの仕様
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3D00300 - SEMI 3D3 - テープフレーム上の 300 mm 薄型シリコンウェーハ用マルチウェーハ輸送および保管コンテナのガイド
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3D00400 - SEMI 3D4 - 貼り合わせたウェーハスタックの厚さ、総厚さ変動（TTV）、反り、反り/反り、および平坦度を測定するための計測ガイド
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3D00100 - SEMI 3D1 - スルーシリコンビア（TSV）の幾何学的計測のための用語
SEMI 3D1 - スルーシリコンビア（TSV）の幾何学的計測のための用語 通常価格¥49,500 JPY セール価格¥38,100 JPY
FH00600 - SEMI FH6 - Terminology for Flexible Hybrid Electronics (FHE)
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A00100 - SEMI A1 - Specification for Production Equipment Smart Connection Interface (PESCI)
SEMI A1 - Specification for Production Equipment Smart Connection Interface (PESCI) セール価格 Member Price :