SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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상품 1625개

P02400 - SEMI P24 - CD 계측 절차
SEMI P24 - CD 계측 절차 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
F07100 - SEMI F71 - 가스 시스템의 온도 사이크루 방식
SEMI F71 - 가스 시스템의 온도 사이크루 방식 정상 가격₩451,000 KRW 할인 가격₩348,000 KRW
P01200 - SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法(ICP)による포지티브・포트레지스트中の鉄，亜鉛，카르시움，magnesium，銅，ホウ素，아르미니움，크롬，만간，及비닉케르의 결정
SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法(ICP)による포지티브・포트레지스트中の鉄，亜鉛，카르시움，magnesium，銅，ホウ素，아르미니움，크롬，만간，及비닉케르의 결정 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P01300 - SEMI P13 - 원자 흡수 분광법에 의한 포지티브 포토레지스트의 나트륨 및 칼륨 측정
SEMI P13 - 원자 흡수 분광법에 의한 포지티브 포토레지스트의 나트륨 및 칼륨 측정 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G03200 - SEMI G32 - 캡슐화되지 않은 열 테스트 칩에 대한 지침
SEMI G32 - 캡슐화되지 않은 열 테스트 칩에 대한 지침 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P01600 - SEMI P16 - 黒鉛炉原子吸光分光法による포지티비브포트레지스트・메타루이온후리(MIF)現像液中の錫の測定
SEMI P16 - 黒鉛炉原子吸光分光法による포지티비브포트레지스트・메타루이온후리(MIF)現像液中の錫の測定 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P01600 - SEMI P16 - Graphite Furnace Atomic Absorption Spectroscopy에 의한 포지티브 포토레지스트 MIF(Metal Ion Free) 현상액의 주석 측정
SEMI P16 - Graphite Furnace Atomic Absorption Spectroscopy에 의한 포지티브 포토레지스트 MIF(Metal Ion Free) 현상액의 주석 측정 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P02400 - SEMI P24 - CD 보관함
SEMI P24 - CD 보관함 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M01900 - SEMI M19 - 바르크・가리움히素単結晶基板の電気的性質(仕様)
SEMI M19 - 바르크・가리움히素単結晶基板の電気的性質(仕様) 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
MS00600 - SEMI MS6 - 미세 유체 시스템 인터페이스용 설계 및 재료 가이드
SEMI MS6 - 미세 유체 시스템 인터페이스용 설계 및 재료 가이드 정상 가격₩451,000 KRW 할인 가격₩291,000 KRW
M01900 - SEMI M19 - 벌크 갈륨 비소 단결정 기판의 전기적 특성 사양
SEMI M19 - 벌크 갈륨 비소 단결정 기판의 전기적 특성 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P00800 - SEMI P8 - 포토레지스트의 수분 측정을 위한 테스트 방법
SEMI P8 - 포토레지스트의 수분 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P02000 - SEMI P20 - EB Resist 매개변수의 카탈로그 게시 지침(제안)
SEMI P20 - EB Resist 매개변수의 카탈로그 게시 지침(제안) 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P03000 - SEMI P30 - 임계 치수 측정 주사 전자 현미경(CD-SEM)의 카탈로그 발행 실습
SEMI P30 - 임계 치수 측정 주사 전자 현미경(CD-SEM)의 카탈로그 발행 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P04100 - SEMI P41 - XML에 による，検査装置，修正装置 およびレviewー装置間で取扱うマスク欠陥データ仕様
SEMI P41 - XML에 による，検査装置，修正装置 およびレviewー装置間で取扱うマスク欠陥データ仕様 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P03100 - SEMI P31 - 화학 증폭(CA) 포토레지스트 매개변수에 대한 카탈로그 발행 실습
SEMI P31 - 화학 증폭(CA) 포토레지스트 매개변수에 대한 카탈로그 발행 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M03900 - SEMI M39 - 반절연 GaAs 단결정의 비저항 및 홀 계수 측정 및 홀 이동성 결정을 위한 테스트 방법
SEMI M39 - 반절연 GaAs 단결정의 비저항 및 홀 계수 측정 및 홀 이동성 결정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P00200 - SEMI P2 - 하드서페이스・포트마스크용 크롬블랑크
SEMI P2 - 하드서페이스・포트마스크용 크롬블랑크 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P01500 - SEMI P15 - 원자 흡수 분광법에 의한 포지티브 포토레지스트 금속 이온 프리(MIF) 현상액의 나트륨 및 칼륨 측정
SEMI P15 - 원자 흡수 분광법에 의한 포지티브 포토레지스트 금속 이온 프리(MIF) 현상액의 나트륨 및 칼륨 측정 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P01200 - SEMI P12 - 유도 결합 플라즈마 방출 분광법(ICP)에 의한 포지티브 포토레지스트의 철, 아연, 칼슘, 마그네슘, 구리, 붕소, 알루미늄, 크롬, 망간 및 니켈 측정
SEMI P12 - 유도 결합 플라즈마 방출 분광법(ICP)에 의한 포지티브 포토레지스트의 철, 아연, 칼슘, 마그네슘, 구리, 붕소, 알루미늄, 크롬, 망간 및 니켈 측정 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P01500 - SEMI P15 - 原子吸光分光法によるよるポジティブフォトレジスト・메타루이온후리（MIF）現像液中のナトリウムとカリウムの測定
SEMI P15 - 原子吸光分光法によるよるポジティブフォトレジスト・메타루이온후리（MIF）現像液中のナトリウムとカリウムの測定 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M03600 - SEMI M36 - 低転位密度GaAs基板のetchpitt密度(EPD)測定方法
SEMI M36 - 低転位密度GaAs基板のetchpitt密度(EPD)測定方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P00200 - SEMI P2 - 경질 표면 포토마스크용 크롬 박막 사양
SEMI P2 - 경질 표면 포토마스크용 크롬 박막 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P04200 - SEMI P42 - 웨이퍼 노출 시스템으로의 자동 레시피 전송을 위한 레티클 데이터 사양
SEMI P42 - 웨이퍼 노출 시스템으로의 자동 레시피 전송을 위한 레티클 데이터 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
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