SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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상품 1625개

P01100 - SEMI P11 - アルカリ現像溶液に対する全規定度の測定のtest方法
SEMI P11 - アルカリ現像溶液に対する全規定度の測定のtest方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P02600 - SEMI P26 - 포토레지스트의 감성 밀도 측정용 파라메타 체크리스트
SEMI P26 - 포토레지스트의 감성 밀도 측정용 파라메타 체크리스트 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P03400 - SEMI P34 - 230mm 각형 포트마스크기판 부품
SEMI P34 - 230mm 각형 포트마스크기판 부품 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P02800 - SEMI P28 - 集積回路製造用 오바레이 테스트파탄
SEMI P28 - 集積回路製造用 오바레이 테스트파탄 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
MS00900 - SEMI MS9 - 미세 유체 장치 간의 고밀도 영구 연결 사양
SEMI MS9 - 미세 유체 장치 간의 고밀도 영구 연결 사양 정상 가격₩451,000 KRW 할인 가격₩291,000 KRW
P04600 - SEMI P46 - XML에 의한 포토마스크의 CD(Critical Dimension) 측정 정보 데이터 사양
SEMI P46 - XML에 의한 포토마스크의 CD(Critical Dimension) 측정 정보 데이터 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M01500 - SEMI M15 - 반 절연 갈륨 비소 웨이퍼에 대한 광택 웨이퍼 결함 한계 표
SEMI M15 - 반 절연 갈륨 비소 웨이퍼에 대한 광택 웨이퍼 결함 한계 표 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P02300 - SEMI P23 - 프로그래밍된 결함 마스크에 대한 지침 및 마스크 결함 검사 시스템의 감도 분석을 위한 벤치마크 절차
SEMI P23 - 프로그래밍된 결함 마스크에 대한 지침 및 마스크 결함 검사 시스템의 감도 분석을 위한 벤치마크 절차 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
PV00400 - SEMI PV4 - 박막 광전지 응용 분야를 위한 5세대 기판 크기 범위 사양
SEMI PV4 - 박막 광전지 응용 분야를 위한 5세대 기판 크기 범위 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P03200 - SEMI P32 - 포토레지스트에서 미량 금속 측정을 위한 테스트 방법
SEMI P32 - 포토레지스트에서 미량 금속 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M03600 - SEMI M36 - 낮은 전위 밀도 갈륨 비소 웨이퍼에서 에칭 피트 밀도(EPD)를 측정하기 위한 테스트 방법
SEMI M36 - 낮은 전위 밀도 갈륨 비소 웨이퍼에서 에칭 피트 밀도(EPD)를 측정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P04100 - SEMI P41 - 결함 검사 도구, 복구 도구 및 검토 도구 간 XML을 사용한 마스크 결함 데이터 처리 사양
SEMI P41 - 결함 검사 도구, 복구 도구 및 검토 도구 간 XML을 사용한 마스크 결함 데이터 처리 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G08000 - SEMI G80 - 자동 테스트 장비의 전체 ​​디지털 타이밍 정확도 분석을 위한 테스트 방법
SEMI G80 - 자동 테스트 장비의 전체 ​​디지털 타이밍 정확도 분석을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G01900 - SEMI G19 - 에칭으로 생성된 딥 리드프레임 사양
SEMI G19 - 에칭으로 생성된 딥 리드프레임 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G07200 - SEMI G72 - 볼 그리드 어레이 설계 라이브러리 사양
SEMI G72 - 볼 그리드 어레이 설계 라이브러리 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P02500 - SEMI P25 - 초점 심도 및 최적 초점 측정 사양
SEMI P25 - 초점 심도 및 최적 초점 측정 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M01500 - SEMI M15 - 半絶縁gariumヒ素ウェーハ用 の鏡面 ウェーハの許容表面 欠陥表
SEMI M15 - 半絶縁gariumヒ素ウェーハ用 の鏡面 ウェーハの許容表面 欠陥表 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P02800 - SEMI P28 - 집적 회로 제조용 오버레이 계측 테스트 패턴 사양
SEMI P28 - 집적 회로 제조용 오버레이 계측 테스트 패턴 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MS00700 - SEMI MS7 - 전자 장치 패키지에 대한 미세유체 인터페이스 사양
SEMI MS7 - 전자 장치 패키지에 대한 미세유체 인터페이스 사양 정상 가격₩451,000 KRW 할인 가격₩291,000 KRW
G05800 - SEMI G58 - Cerquad 패키지 구조 사양
SEMI G58 - Cerquad 패키지 구조 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P00100 - SEMI P1 - 경질 표면 포토마스크 기판 사양
SEMI P1 - 경질 표면 포토마스크 기판 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P01800 - SEMI P18 - 웨이퍼 스테퍼의 오버레이 기능 사양
SEMI P18 - 웨이퍼 스테퍼의 오버레이 기능 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P02100 - SEMI P21 - 마스크 보호 필름의 가이드 라인
SEMI P21 - 마스크 보호 필름의 가이드 라인 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P01700 - SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法(ICP)による포지티브・포지티브・포트레지스트・메타루이온후리(MIF)現像液における鉄，亜鉛，카르시움，마그네시움，銅， 호우, 아르미니움, 크롬, 만간, 오야비닉케르노測定
SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法(ICP)による포지티브・포지티브・포트레지스트・메타루이온후리(MIF)現像液における鉄，亜鉛，카르시움，마그네시움，銅， 호우, 아르미니움, 크롬, 만간, 오야비닉케르노測定 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
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