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G04200 - SEMI G42 - 반도체 패키지의 Junction-to-Ambient 열 저항 측정을 위한 열 테스트 보드 표준화 사양
SEMI G42 - 반도체 패키지의 Junction-to-Ambient 열 저항 측정을 위한 열 테스트 보드 표준화 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F02400 - SEMI F24 - 등급 10/0.2 불활성 특수 가스의 입자 농도 사양
SEMI F24 - 등급 10/0.2 불활성 특수 가스의 입자 농도 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF004200 - SEMI MF42 - 외부 반도체 재료의 전도도 유형 테스트 방법
SEMI MF42 - 외부 반도체 재료의 전도도 유형 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF004300 - SEMI MF43 - 반도체 재료의 비저항 시험 방법
SEMI MF43 - 반도체 재료의 비저항 시험 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF084700 - SEMI MF847 - X-Ray 기법으로 단결정 실리콘 웨이퍼에서 플랫의 결정학적 방향을 측정하기 위한 테스트 방법
SEMI MF847 - X-Ray 기법으로 단결정 실리콘 웨이퍼에서 플랫의 결정학적 방향을 측정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF161900 - SEMI MF1619 - 브루스터 각도에서 p-편광 방사 입사를 사용한 적외선 흡수 분광법에 의한 실리콘 웨이퍼의 격자간 산소 함량 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1619 - 브루스터 각도에서 p-편광 방사 입사를 사용한 적외선 흡수 분광법에 의한 실리콘 웨이퍼의 격자간 산소 함량 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F10100 - SEMI F101 - 가스 분배 시스템에서 압력 조절기 성능을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI F101 - 가스 분배 시스템에서 압력 조절기 성능을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F07500 - SEMI F75 - 반도체 제조에 사용되는 초순수 품질 모니터링 가이드
SEMI F75 - 반도체 제조에 사용되는 초순수 품질 모니터링 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
HB00900 - SEMI HB9 - HB-LED 제조에 사용되는 GaN 에피택셜 웨이퍼의 표면 결함 육안 검사를 위한 테스트 방법 및 허용 기준
SEMI HB9 - HB-LED 제조에 사용되는 GaN 에피택셜 웨이퍼의 표면 결함 육안 검사를 위한 테스트 방법 및 허용 기준 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M08000 - SEMI M80 - 450mm 웨이퍼 운송 및 배송에 사용되는 전면 개봉 배송 상자 사양
SEMI M80 - 450mm 웨이퍼 운송 및 배송에 사용되는 전면 개봉 배송 상자 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G04300 - SEMI G43 - 프라스틱크모르드팍케이지노잘크션부와 케이스스노의 열전사노타메노조리법
SEMI G43 - 프라스틱크모르드팍케이지노잘크션부와 케이스스노의 열전사노타메노조리법 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
F08100 - SEMI F81 - 반도체 제조 응용 분야의 유체 분배 시스템에서 가스 텅스텐 아크(GTA) 용접의 육안 검사 및 승인에 대한 사양
SEMI F81 - 반도체 제조 응용 분야의 유체 분배 시스템에서 가스 텅스텐 아크(GTA) 용접의 육안 검사 및 승인에 대한 사양 할인 가격Member Price: ₩225
Non-Member Price: ₩571,000
MF123900 - SEMI MF1239 - 침입형 산소 환원 측정에 의한 실리콘 웨이퍼의 산소 석출 특성 시험 방법
SEMI MF1239 - 침입형 산소 환원 측정에 의한 실리콘 웨이퍼의 산소 석출 특성 시험 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF052300 - SEMI MF523 - 연마된 실리콘 웨이퍼 표면의 육안 검사 실습
SEMI MF523 - 연마된 실리콘 웨이퍼 표면의 육안 검사 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M07700 - SEMI M77 - Roll-Off Amount, ROA를 사용하여 Wafer Near-Edge 형상을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI M77 - Roll-Off Amount, ROA를 사용하여 Wafer Near-Edge 형상을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF002600 - SEMI MF26 - 반도체 단결정의 배향 결정을 위한 테스트 방법
SEMI MF26 - 반도체 단결정의 배향 결정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M08600 - SEMI M86 - 연마된 단결정질 c-평면 갈륨 질화물 웨이퍼 사양
SEMI M86 - 연마된 단결정질 c-평면 갈륨 질화물 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F04000 - SEMI F40 - 화학 테스트를 위한 액체 화학 분배 구성 요소 및 순수 폴리머 준비 실습
SEMI F40 - 화학 테스트를 위한 액체 화학 분배 구성 요소 및 순수 폴리머 준비 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M05900 - SEMI M59 - 시리콘 기술의 用語集
SEMI M59 - 시리콘 기술의 用語集 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
F06400 - SEMI F64 - 질량 흐름 컨트롤러의 지시 및 실제 흐름에 대한 압력 영향을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI F64 - 질량 흐름 컨트롤러의 지시 및 실제 흐름에 대한 압력 영향을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF057600 - SEMI MF576 - 엘립소메트리에 의한 실리콘 기판의 절연체 두께 및 굴절률 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF576 - 엘립소메트리에 의한 실리콘 기판의 절연체 두께 및 굴절률 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G02800 - SEMI G28 - 프라스틱크모르드SO팍케이지의 리드후레임 관련 사양
SEMI G28 - 프라스틱크모르드SO팍케이지의 리드후레임 관련 사양 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M06600 - SEMI M66 - MISFlattband 電圧―絶縁膜厚法を使った，酸化膜，およびhigh-κゲートスタックの有効仕事関数の算出法
SEMI M66 - MISFlattband 電圧―絶縁膜厚法を使った，酸化膜，およびhigh-κゲートスタックの有効仕事関数の算出法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
F06300 - SEMI F63 - 반도체 공정에 사용되는 초순수 가이드
SEMI F63 - 반도체 공정에 사용되는 초순수 가이드 할인 가격Member Price: ₩252
Non-Member Price: ₩571,000
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