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M05300 - SEMI M53 - 패턴이 없는 반도체 웨이퍼 표면에 단분산성 기준 구체의 인증 증착을 사용하여 스캐닝 표면 검사 시스템을 교정하기 위한 실습
SEMI M53 - 패턴이 없는 반도체 웨이퍼 표면에 단분산성 기준 구체의 인증 증착을 사용하여 스캐닝 표면 검사 시스템을 교정하기 위한 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M04900 - SEMI M49 - 130nm ~ 16nm 기술 세대를 위한 실리콘 웨이퍼용 형상 측정 시스템 지정 가이드
SEMI M49 - 130nm ~ 16nm 기술 세대를 위한 실리콘 웨이퍼용 형상 측정 시스템 지정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
PV01300 - SEMI PV13 - 와전류 센서를 사용하여 실리콘 웨이퍼, 잉곳 및 브릭에서 비접촉식 과잉 전하 캐리어 재결합 수명 측정을 위한 테스트 방법
SEMI PV13 - 와전류 센서를 사용하여 실리콘 웨이퍼, 잉곳 및 브릭에서 비접촉식 과잉 전하 캐리어 재결합 수명 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
PV05200 - SEMI PV52 - 결정립 크기에 관한 광전지 실리콘 웨이퍼의 인라인 특성화를 위한 테스트 방법
SEMI PV52 - 결정립 크기에 관한 광전지 실리콘 웨이퍼의 인라인 특성화를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
E05800 - SEMI E58 - 自動化による信頼性，有用性，および整備性に関するstandadeard(ARAMS): コンセプト，挙動，およびサーbis
SEMI E58 - 自動化による信頼性，有用性，および整備性に関するstandadeard(ARAMS): コンセプト，挙動，およびサーbis 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
E10100 - SEMI E101 - EFEM 모델 가이드
SEMI E101 - EFEM 모델 가이드 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M05900 - SEMI M59 - 실리콘 기술 용어
SEMI M59 - 실리콘 기술 용어 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF067300 - SEMI MF673 - 비접촉 와전류 게이지로 반도체 웨이퍼의 비저항 또는 반도체 필름의 시트 저항을 측정하기 위한 테스트 방법
SEMI MF673 - 비접촉 와전류 게이지로 반도체 웨이퍼의 비저항 또는 반도체 필름의 시트 저항을 측정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF039700 - SEMI MF397 - 2점 프로브를 사용한 실리콘 바의 비저항 테스트 방법
SEMI MF397 - 2점 프로브를 사용한 실리콘 바의 비저항 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
F05600 - SEMI F56 - 질량 흐름 컨트롤러에 대한 정상 상태 공급 전압 효과를 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI F56 - 질량 흐름 컨트롤러에 대한 정상 상태 공급 전압 효과를 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M00900 - SEMI M9 - 연마된 단결정 갈륨 비소 웨이퍼 사양
SEMI M9 - 연마된 단결정 갈륨 비소 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
E11900 - SEMI E119 - 300mm 웨이퍼의 공장 간 운송을 위한 감소된 피치 전면 개방 박스의 기계적 사양
SEMI E119 - 300mm 웨이퍼의 공장 간 운송을 위한 감소된 피치 전면 개방 박스의 기계적 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
E01501 - SEMI E15.1 - 300mm 소형 로드포트 전용 부품
SEMI E15.1 - 300mm 소형 로드포트 전용 부품 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
PV07000 - SEMI PV70 - 레이저 삼각측량 센서로 광전지(PV) 실리콘 웨이퍼의 톱니 자국을 인라인 측정하기 위한 테스트 방법
SEMI PV70 - 레이저 삼각측량 센서로 광전지(PV) 실리콘 웨이퍼의 톱니 자국을 인라인 측정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
E16100 - SEMI E161 - 교육 계층 식별 및 분류 가이드
SEMI E161 - 교육 계층 식별 및 분류 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF052500 - SEMI MF525 - 확산 저항 프로브를 사용하여 실리콘 웨이퍼의 비저항 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF525 - 확산 저항 프로브를 사용하여 실리콘 웨이퍼의 비저항 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G07700 - SEMI G77 - 300mm 웨이퍼용 프레임 카세트 사양
SEMI G77 - 300mm 웨이퍼용 프레임 카세트 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G01000 - SEMI G10 - 플라스틱 패키지 리드프레임의 기계적 측정을 위한 표준 방법
SEMI G10 - 플라스틱 패키지 리드프레임의 기계적 측정을 위한 표준 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M01300 - SEMI M13 - 실리콘 웨이퍼의 영숫자 마킹 사양
SEMI M13 - 실리콘 웨이퍼의 영숫자 마킹 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF118800 - SEMI MF1188 - 짧은 기준선으로 적외선 흡수에 의한 실리콘의 격자간 산소 함량 테스트 방법
SEMI MF1188 - 짧은 기준선으로 적외선 흡수에 의한 실리콘의 격자간 산소 함량 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
HB00400 - SEMI HB4 - 고휘도 LED 제조 장비용 통신 인터페이스 사양(HB-LED ECI)
SEMI HB4 - 고휘도 LED 제조 장비용 통신 인터페이스 사양(HB-LED ECI) 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF008100 - SEMI MF81 - 실리콘 웨이퍼의 방사형 비저항 변화 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF81 - 실리콘 웨이퍼의 방사형 비저항 변화 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06400 - SEMI M64 - 적외선 흡수 분광법에 의한 반절연(SI) 갈륨 비소 단결정의 EL2 딥 도너 농도에 대한 테스트 방법
SEMI M64 - 적외선 흡수 분광법에 의한 반절연(SI) 갈륨 비소 단결정의 EL2 딥 도너 농도에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF153000 - SEMI MF1530 - 자동화된 비접촉 스캐닝에 의한 실리콘 웨이퍼의 편평도, 두께 및 전체 두께 편차 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1530 - 자동화된 비접촉 스캐닝에 의한 실리콘 웨이퍼의 편평도, 두께 및 전체 두께 편차 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
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