SEMI 3D16 - 반도체 패키징용 유리 기본 재료 사양

필터

정렬 기준::

상품 1910개

G02600 - SEMI G26 - Specification for Hermetic Slam Chip Carrier Lids
SEMI G26 - Specification for Hermetic Slam Chip Carrier Lids 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩226,000
G08500 - SEMI G85 - 맵데이타・포매트용 제품
SEMI G85 - 맵데이타・포매트용 제품 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P03000 - SEMI P30 - 寸法測定用走査型電子顕微鏡（CD-SEM）の目録発行の実施要領
SEMI P30 - 寸法測定用走査型電子顕微鏡（CD-SEM）の目録発行の実施要領 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
D03100 - SEMI D31 - FPD 사양 정의
SEMI D31 - FPD 사양 정의 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M03200 - SEMI M32 - 최신 가이드
SEMI M32 - 최신 가이드 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M03700 - SEMI M37 - 낮은 전위 밀도 인듐 인화물 웨이퍼에서 에칭 피트 밀도(EPD)를 측정하기 위한 테스트 방법
SEMI M37 - 낮은 전위 밀도 인듐 인화물 웨이퍼에서 에칭 피트 밀도(EPD)를 측정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
PV03500 - SEMI PV35 - 광전지 제조 시스템용 장비 간 수평 통신 사양
SEMI PV35 - 광전지 제조 시스템용 장비 간 수평 통신 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P01000 - SEMI P10 - 포트마스크오더의 데이터 사양
SEMI P10 - 포트마스크오더의 데이터 사양 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M02900 - SEMI M29 - 300mm 배송 상자 사양
SEMI M29 - 300mm 배송 상자 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF053400 - SEMI MF534 - 실리콘 웨이퍼의 휨에 대한 테스트 방법
SEMI MF534 - 실리콘 웨이퍼의 휨에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
D01700 - SEMI D17 - FPD갤러스 기반 장비용 카셋트 사양
SEMI D17 - FPD갤러스 기반 장비용 카셋트 사양 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
MF039900 - SEMI MF399 - 헤테로피택셜 또는 폴리실리콘 층의 두께에 대한 테스트 방법
SEMI MF399 - 헤테로피택셜 또는 폴리실리콘 층의 두께에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G00500 - SEMI G5 - 仕様 세라믹크칩캐리아(CCC)
SEMI G5 - 仕様 세라믹크칩캐리아(CCC) 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩291,000
M03300 - SEMI M33 - TXRF(Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectroscopy)에 의한 실리콘 웨이퍼의 잔류 표면 오염 측정을 위한 테스트 방법
SEMI M33 - TXRF(Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectroscopy)에 의한 실리콘 웨이퍼의 잔류 표면 오염 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P03700 - SEMI P37 - 극자외선 리소그래피 기판 및 블랭크 사양
SEMI P37 - 극자외선 리소그래피 기판 및 블랭크 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
C10300 - SEMI C103 - 반도체 제조에 사용되는 화학적 기계적 평탄화(CMP) 컨디셔닝 디스크의 성능 매개변수 보고 가이드
SEMI C103 - 반도체 제조에 사용되는 화학적 기계적 평탄화(CMP) 컨디셔닝 디스크의 성능 매개변수 보고 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Flex Electronics 웨비나 마스터 클래스: 2021년 5월(주문형)
Flex Electronics 웨비나 마스터 클래스: 2021년 5월(주문형) 할인 가격Member Price: ₩49
Non-Member Price: ₩149,000
G06700 - SEMI G67 - シート材料から発生する粒子の測定の試験方法
SEMI G67 - シート材料から発生する粒子の測定の試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P00600 - SEMI P6 - 포토마스크용 레지스트레이션마크
SEMI P6 - 포토마스크용 레지스트레이션마크 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P01700 - SEMI P17 - 유도 결합 플라즈마 방출 분광법(ICP)에 의한 포지티브 포토레지스트 금속 이온 프리(MIF) 현상액의 철, 아연, 칼슘, 마그네슘, 구리, 붕소, 알루미늄, 크롬, 망간 및 니켈 측정
SEMI P17 - 유도 결합 플라즈마 방출 분광법(ICP)에 의한 포지티브 포토레지스트 금속 이온 프리(MIF) 현상액의 철, 아연, 칼슘, 마그네슘, 구리, 붕소, 알루미늄, 크롬, 망간 및 니켈 측정 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P00600 - SEMI P6 - 포토마스크 등록 표시 사양
SEMI P6 - 포토마스크 등록 표시 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P04200 - SEMI P42 - 웨하 빛광 시스템의 자동 레시피보타메 레치크루데이타의 교체
SEMI P42 - 웨하 빛광 시스템의 자동 레시피보타메 레치크루데이타의 교체 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M03900 - SEMI M39 - 半絶縁GaAs単結晶の抵抗率及びホール係数を測定しホーール移動度を決定する方法
SEMI M39 - 半絶縁GaAs単結晶の抵抗率及びホール係数を測定しホーール移動度を決定する方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M03000 - SEMI M30 - 푸리에 변환 적외선 흡수 분광법에 의한 GaAs의 치환 원자 탄소 농도에 대한 표준 테스트 방법
SEMI M30 - 푸리에 변환 적외선 흡수 분광법에 의한 GaAs의 치환 원자 탄소 농도에 대한 표준 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000