SEMI 3D16 - 반도체 패키징용 유리 기본 재료 사양

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상품 1910개

M00300 - SEMI M3 - 광택 처리된 단결정 사파이어 기판 사양
SEMI M3 - 광택 처리된 단결정 사파이어 기판 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M00400 - SEMI M4 - SOS 에피택시 웨이퍼 사양
SEMI M4 - SOS 에피택시 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F01700 - SEMI F17 ​​- 고순도 품질의 전해 연마된 316L 스테인리스 스틸 튜빙, 구성 요소 튜브 스터브 및 튜빙으로 만든 피팅에 대한 사양
SEMI F17 ​​- 고순도 품질의 전해 연마된 316L 스테인리스 스틸 튜빙, 구성 요소 튜브 스터브 및 튜빙으로 만든 피팅에 대한 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
C04100 - SEMI C41 - 2-프로파노르 사양과 가이드라인
SEMI C41 - 2-프로파노르 사양과 가이드라인 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
G04800 - SEMI G48 - Specification for Measurement Method for Molded Plastic Package Tooling
SEMI G48 - Specification for Measurement Method for Molded Plastic Package Tooling 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩226,000
PV02200 - SEMI PV22 - 太陽光電池用시리콘웨하노사
SEMI PV22 - 太陽光電池用시리콘웨하노사 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M01300 - SEMI M13 - 시리콘웨하의 영어 표기의 표기
SEMI M13 - 시리콘웨하의 영어 표기의 표기 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
F03000 - SEMI F30 - 据付現場における微量gas不純物 およびpartycrumに関する精製器性能testの始動および検証
SEMI F30 - 据付現場における微量gas不純物 およびpartycrumに関する精製器性能testの始動および検証 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
F01500 - SEMI F15 - 육불화황 추적 가스 및 가스 크로마토그래피를 사용한 인클로저 테스트 방법
SEMI F15 - 육불화황 추적 가스 및 가스 크로마토그래피를 사용한 인클로저 테스트 방법 할인 가격 Member Price : ₩113
F03400 - SEMI F34 - 액체화장품 제조품 라베링에 사용하는 가이드
SEMI F34 - 액체화장품 제조품 라베링에 사용하는 가이드 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
T01400 - SEMI T14 - Specification for Micro ID on 300 mm Silicon Wafers
SEMI T14 - Specification for Micro ID on 300 mm Silicon Wafers 할인 가격Member Price: ₩225
Non-Member Price: ₩571,000
P02900 - SEMI P29 - 減衰型位相シフトマスク（ハーフトーン型位相シフトマスク）およびマスクブランクスに特有な特性の仕様
SEMI P29 - 減衰型位相シフトマスク（ハーフトーン型位相シフトマスク）およびマスクブランクスに特有な特性の仕様 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
C10000 - SEMI C100 - Guide for Reporting Chemical Mechanical Planarization (CMP) Polishing Pads Hardness Used in Semiconductor Manufacturing
SEMI C100 - Guide for Reporting Chemical Mechanical Planarization (CMP) Polishing Pads Hardness Used in Semiconductor Manufacturing 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P01500 - SEMI P15 - 원자 흡수 분광법에 의한 포지티브 포토레지스트 금속 이온 프리(MIF) 현상액의 나트륨 및 칼륨 측정
SEMI P15 - 원자 흡수 분광법에 의한 포지티브 포토레지스트 금속 이온 프리(MIF) 현상액의 나트륨 및 칼륨 측정 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P03400 - SEMI P34 - 230mm 정사각형 포토마스크 기판 사양
SEMI P34 - 230mm 정사각형 포토마스크 기판 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P00200 - SEMI P2 - 경질 표면 포토마스크용 크롬 박막 사양
SEMI P2 - 경질 표면 포토마스크용 크롬 박막 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
C10100 - SEMI C101 - Test Method for Determining pH of Chemical Mechanical Planarization (CMP) Slurries and Related Chemicals
SEMI C101 - Test Method for Determining pH of Chemical Mechanical Planarization (CMP) Slurries and Related Chemicals 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P01200 - SEMI P12 - 유도 결합 플라즈마 방출 분광법(ICP)에 의한 포지티브 포토레지스트의 철, 아연, 칼슘, 마그네슘, 구리, 붕소, 알루미늄, 크롬, 망간 및 니켈 측정
SEMI P12 - 유도 결합 플라즈마 방출 분광법(ICP)에 의한 포지티브 포토레지스트의 철, 아연, 칼슘, 마그네슘, 구리, 붕소, 알루미늄, 크롬, 망간 및 니켈 측정 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P01500 - SEMI P15 - 原子吸光分光法によるよるポジティブフォトレジスト・메타루이온후리（MIF）現像液中のナトリウムとカリウムの測定
SEMI P15 - 原子吸光分光法によるよるポジティブフォトレジスト・메타루이온후리（MIF）現像液中のナトリウムとカリウムの測定 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
P04200 - SEMI P42 - 웨이퍼 노출 시스템으로의 자동 레시피 전송을 위한 레티클 데이터 사양
SEMI P42 - 웨이퍼 노출 시스템으로의 자동 레시피 전송을 위한 레티클 데이터 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
C00347 - SEMI C3.47 - 臭化水素（HBr），品質99.98%の仕様
SEMI C3.47 - 臭化水素（HBr），品質99.98%の仕様 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
G08100 - SEMI G81 - 맵데이타・아이템 사양
SEMI G81 - 맵데이타・아이템 사양 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M03600 - SEMI M36 - 低転位密度GaAs基板のetchpitt密度(EPD)測定方法
SEMI M36 - 低転位密度GaAs基板のetchpitt密度(EPD)測定方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
G08800 - SEMI G88 - 450mm 웨하용 테이프 프레임 사양
SEMI G88 - 450mm 웨하용 테이프 프레임 사양 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000