SEMI 3D16 - 반도체 패키징용 유리 기본 재료 사양

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D03000 - SEMI D30 - FPD 칼라 피르타의 광광성 교정 방법
SEMI D30 - FPD 칼라 피르타의 광광성 교정 방법 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M01000 - SEMI M10 - 가리움히 웨이하 하네에 見られる構造及び特徴の確認のための標準名称
SEMI M10 - 가리움히 웨이하 하네에 見られる構造及び特徴の確認のための標準名称 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
D08000 - SEMI D80 - 단기간에 높은 가스 차단성 플라스틱 필름의 수증기 투과율 측정을 위한 테스트 방법
SEMI D80 - 단기간에 높은 가스 차단성 플라스틱 필름의 수증기 투과율 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G00300 - SEMI G3 - 사이드 브레이징 라미네이트 사양
SEMI G3 - 사이드 브레이징 라미네이트 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
PV05000 - SEMI PV50 - 폴리실리콘 공급원료용 폴리에틸렌 포장재의 불순물 규격
SEMI PV50 - 폴리실리콘 공급원료용 폴리에틸렌 포장재의 불순물 규격 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F11500 - SEMI F115 - 초고순도 화학 물질 전달 시스템 및 부품의 젖은 표면에 존재하는 금속 원소 측정을 위한 테스트 방법
SEMI F115 - 초고순도 화학 물질 전달 시스템 및 부품의 젖은 표면에 존재하는 금속 원소 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G05300 - SEMI G53 - 금속 뚜껑/프리폼 어셈블리 사양
SEMI G53 - 금속 뚜껑/프리폼 어셈블리 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
전자 디자인 시장 데이터(EDMD) - 단판
전자 디자인 시장 데이터(EDMD) 단판 할인 가격Member Price: ₩2,750
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P01600 - SEMI P16 - 黒鉛炉原子吸光分光法による포지티비브포트레지스트・메타루이온후리(MIF)現像液中の錫の測定
SEMI P16 - 黒鉛炉原子吸光分光法による포지티비브포트레지스트・메타루이온후리(MIF)現像液中の錫の測定 할인 가격Member Price: ₩135
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M02600 - SEMI M26 - 웨이퍼 운송에 사용되는 100, 125, 150 및 200mm 웨이퍼 배송 상자 재사용 가이드
SEMI M26 - 웨이퍼 운송에 사용되는 100, 125, 150 및 200mm 웨이퍼 배송 상자 재사용 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G06400 - SEMI G64 - 全面めっきIC用 리드후레임(金，銀，銅，nickel，parajium/nickel，およびparajium)の仕様
SEMI G64 - 全面めっきIC用 리드후레임(金，銀，銅，nickel，parajium/nickel，およびparajium)の仕様 할인 가격Member Price: ₩135
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M07400 - SEMI M74 - 세로 450mm 메카니카르한드링 鏡面 ウェーハの仕様
SEMI M74 - 세로 450mm 메카니카르한드링 鏡面 ウェーハの仕様 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
P01600 - SEMI P16 - Graphite Furnace Atomic Absorption Spectroscopy에 의한 포지티브 포토레지스트 MIF(Metal Ion Free) 현상액의 주석 측정
SEMI P16 - Graphite Furnace Atomic Absorption Spectroscopy에 의한 포지티브 포토레지스트 MIF(Metal Ion Free) 현상액의 주석 측정 할인 가격Member Price: ₩113
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M01900 - SEMI M19 - 바르크・가리움히素単結晶基板の電気的性質(仕様)
SEMI M19 - 바르크・가리움히素単結晶基板の電気的性質(仕様) 할인 가격Member Price: ₩135
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MF065700 - SEMI MF657 - 비접촉 스캐닝에 의한 실리콘 웨이퍼의 휨 및 총 두께 변화 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF657 - 비접촉 스캐닝에 의한 실리콘 웨이퍼의 휨 및 총 두께 변화 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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G02300 - SEMI G23 - 半導体팍케이지의 内部導体路の인다크탄스의 試験방법
SEMI G23 - 半導体팍케이지의 内部導体路の인다크탄스의 試験방법 할인 가격Member Price: ₩135
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C09800 - SEMI C98 - 반도체 제조에 사용되는 화학적 기계적 평탄화(CMP) 입자 크기 분포(PSD) 측정 및 보고에 대한 안내서
SEMI C98 - 반도체 제조에 사용되는 화학적 기계적 평탄화(CMP) 입자 크기 분포(PSD) 측정 및 보고에 대한 안내서 할인 가격Member Price: ₩113
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M01900 - SEMI M19 - 벌크 갈륨 비소 단결정 기판의 전기적 특성 사양
SEMI M19 - 벌크 갈륨 비소 단결정 기판의 전기적 특성 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
D03400 - SEMI D34 - FPD 광조명 방식
SEMI D34 - FPD 광조명 방식 할인 가격Member Price: ₩135
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P00800 - SEMI P8 - 포토레지스트의 수분 측정을 위한 테스트 방법
SEMI P8 - 포토레지스트의 수분 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F03700 - SEMI F37 - 가스 供給 System構成部品の表面粗 さ parameterの算出方法
SEMI F37 - 가스 供給 System構成部品の表面粗 さ parameterの算出方法 할인 가격Member Price: ₩135
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G06200 - SEMI G62 - 銀めっきの試験方法
SEMI G62 - 銀めっきの試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
F06400 - SEMI F64 - 마스후로콘트로라노指示および実流量に対する圧力影響を測定する試験方法
SEMI F64 - 마스후로콘트로라노指示および実流量に対する圧力影響を測定する試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M02400 - SEMI M24 - 광택 처리된 단결정 실리콘 프리미엄 웨이퍼 사양
SEMI M24 - 광택 처리된 단결정 실리콘 프리미엄 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000