SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

フィルター

並び替え:

1625 製品

T00400 - SEMI T4 - 150 mm および 200 mm ポッド識別寸法の仕様
SEMI T4 - 150 mm および 200 mm ポッド識別寸法の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV04200 - SEMI PV42 - 複数のラインセグメントを使用した光切断技術による PV シリコンウェーハのうねりのインライン測定の試験方法
SEMI PV42 - 複数のラインセグメントを使用した光切断技術による PV シリコンウェーハのうねりのインライン測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
S00500 - SEMI S5 - ガスの流量制限装置のサイズ設定と識別に関する安全ガイドライン
SEMI S5 - ガスの流量制限装置のサイズ設定と識別に関する安全ガイドライン セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV07600 - SEMI PV76 - 低光強度有機太陽電池 (OPV) および色素増感太陽電池 (DSSC) およびペロブスカイト太陽電池 (PSC) の耐久性試験方法
SEMI PV76 - 低光強度有機太陽電池 (OPV) および色素増感太陽電池 (DSSC) およびペロブスカイト太陽電池 (PSC) の耐久性試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV03900 - SEMI PV39 - 暗視野赤外線イメージングによる PV シリコンウェーハの亀裂のインライン測定の試験方法
SEMI PV39 - 暗視野赤外線イメージングによる PV シリコンウェーハの亀裂のインライン測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV05900 - SEMI PV59 - 誘導炉での燃焼後の赤外線吸収によるシリコン粉末中の総炭素含有量の測定のための試験方法
SEMI PV59 - 誘導炉での燃焼後の赤外線吸収によるシリコン粉末中の総炭素含有量の測定のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV03100 - SEMI PV31 - PV 用途の透明導電性酸化物 (TCO) フィルムのスペクトル分解反射および透過ヘイズの試験方法
SEMI PV31 - PV 用途の透明導電性酸化物 (TCO) フィルムのスペクトル分解反射および透過ヘイズの試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV03200 - SEMI PV32 - PV シリコンブリック面および PV ウェーハエッジのマーキング仕様
SEMI PV32 - PV シリコンブリック面および PV ウェーハエッジのマーキング仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV00900 - SEMI PV9 - 短い照射パルス後のマイクロ波反射率の非接触測定による、PV シリコン材料における過剰な電荷キャリア減衰の試験方法
SEMI PV9 - 短い照射パルス後のマイクロ波反射率の非接触測定による、PV シリコン材料における過剰な電荷キャリア減衰の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
S02300 - SEMI S23 - 半導体製造装置で使用されるエネルギー、ユーティリティ、および材料の節約に関するガイド
SEMI S23 - 半導体製造装置で使用されるエネルギー、ユーティリティ、および材料の節約に関するガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
T01900 - SEMI T19 - デバイスマーキングの仕様
SEMI T19 - デバイスマーキングの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
S01200 - SEMI S12 - 製造装置の汚染除去に関する環境、健康、安全に関するガイドライン
SEMI S12 - 製造装置の汚染除去に関する環境、健康、安全に関するガイドライン セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
S00300 - SEMI S3 - プロセス用液体の加熱システムに関する安全ガイドライン
SEMI S3 - プロセス用液体の加熱システムに関する安全ガイドライン セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04400 - SEMI P44 - マスク ツールに固有の Open Artwork System Interchange Standard (OASIS ®) の仕様
SEMI P44 - マスク ツールに固有の Open Artwork System Interchange Standard (OASIS ®) の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF009500 - SEMI MF95 - 赤外分光分光光度計を使用した高濃度ドープシリコン基板上の低濃度ドープシリコンエピタキシャル層の厚さの試験方法
SEMI MF95 - 赤外分光分光光度計を使用した高濃度ドープシリコン基板上の低濃度ドープシリコンエピタキシャル層の厚さの試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV01700 - SEMI PV17 - 太陽光発電用途のバージンシリコン原料材料の仕様
SEMI PV17 - 太陽光発電用途のバージンシリコン原料材料の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV02000 - SEMI PV20 - 太陽光発電用途で使用される塩酸の仕様
SEMI PV20 - 太陽光発電用途で使用される塩酸の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV02700 - SEMI PV27 - 太陽光発電用途で使用される水酸化アンモニウムの仕様
SEMI PV27 - 太陽光発電用途で使用される水酸化アンモニウムの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV00700 - SEMI PV7 - 太陽光発電アプリケーションで使用されるバルク水素 (H2) のガイド
SEMI PV7 - 太陽光発電アプリケーションで使用されるバルク水素 (H2) のガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV01600 - SEMI PV16 - 太陽光発電用途で使用される硝酸の仕様
SEMI PV16 - 太陽光発電用途で使用される硝酸の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
S01400 - SEMI S14 - 半導体製造装置に対する火災リスクアセスメントと軽減のための安全ガイドライン
SEMI S14 - 半導体製造装置に対する火災リスクアセスメントと軽減のための安全ガイドライン セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
S01400 - SEMI S14 - 半導体製造装置の火災リスク評価と軽減に関する安全ガイドライン
SEMI S14 - 半導体製造装置の火災リスク評価と軽減に関する安全ガイドライン セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV04600 - SEMI PV46 - 正方形および疑似正方形 PV シリコンウェーハの横方向寸法特性のインライン測定の試験方法
SEMI PV46 - 正方形および疑似正方形 PV シリコンウェーハの横方向寸法特性のインライン測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
S00500 - SEMI S5 - ガス用流量制限デバイスのサイズ決定と特定のための安全ガイドライン
SEMI S5 - ガス用流量制限デバイスのサイズ決定と特定のための安全ガイドライン セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
View All