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G09600 - SEMI G96 - カンチレバーの曲げによるチップ（ダイ）強度の測定のための試験方法
SEMI G96 - カンチレバーの曲げによるチップ（ダイ）強度の測定のための試験方法 セール価格 Member Price : ¥113
MF139100 - SEMI MF1391 - 赤外線吸収によるシリコンの置換原子炭素含有量の試験方法
SEMI MF1391 - 赤外線吸収によるシリコンの置換原子炭素含有量の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G08900 - SEMI G89 - リードフレーム ストリップ サイズの仕様
SEMI G89 - リードフレーム ストリップ サイズの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF138800 - SEMI MF1388 - 金属酸化シリコン (MOS) コンデンサの静電容量時間測定によるシリコン材料の生成寿命と生成速度の試験方法
SEMI MF1388 - 金属酸化シリコン (MOS) コンデンサの静電容量時間測定によるシリコン材料の生成寿命と生成速度の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M00600 - SEMI M6 - 太陽光電池用シリコンウェーハの仕様
SEMI M6 - 太陽光電池用シリコンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥29,700
M03800 - SEMI M38 - 研磨再生シリコンウェーハの仕様
SEMI M38 - 研磨再生シリコンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G02400 - SEMI G24 - パッケージリードのリード間および負荷容量を測定するための試験方法
SEMI G24 - パッケージリードのリード間および負荷容量を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M06200 - SEMI M62 - シリコンエピタキシャルウェーハの仕様
SEMI M62 - シリコンエピタキシャルウェーハの仕様 セール価格 Member Price : ¥113
MF161700 - SEMI MF1617 - 二次イオン質量分析によるシリコンおよびEPI基板の表面のナトリウム、アルミニウム、カリウム、および鉄を測定するための試験方法
SEMI MF1617 - 二次イオン質量分析によるシリコンおよびEPI基板の表面のナトリウム、アルミニウム、カリウム、および鉄を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M05100 - SEMI M51 - ゲート酸化膜の完全性によるシリコンウェーハの特性評価のための試験方法
SEMI M51 - ゲート酸化膜の完全性によるシリコンウェーハの特性評価のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF039100 - SEMI MF391 - 定常状態の表面光電圧の測定による外部半導体の少数キャリア拡散長の試験方法
SEMI MF391 - 定常状態の表面光電圧の測定による外部半導体の少数キャリア拡散長の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF152800 - SEMI MF1528 - 二次イオン質量分析による高濃度ドープ N 型シリコン基板のホウ素汚染測定の試験方法
SEMI MF1528 - 二次イオン質量分析による高濃度ドープ N 型シリコン基板のホウ素汚染測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
HB00800 - SEMI HB8 - サファイア単結晶の方位を決定するための試験方法
SEMI HB8 - サファイア単結晶の方位を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F07000 - SEMI F70 - ガス供給システムの粒子寄与率を測定するための試験方法
SEMI F70 - ガス供給システムの粒子寄与率を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G05100 - SEMI G51 - プラスチック成形 (メートル法) クアッド フラット パック リードフレームの仕様
SEMI G51 - プラスチック成形 (メートル法) クアッド フラット パック リードフレームの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF207400 - SEMI MF2074 - シリコンおよびその他の半導体ウェーハの直径測定ガイド
SEMI MF2074 - シリコンおよびその他の半導体ウェーハの直径測定ガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F02000 - SEMI F20 - 汎用、高純度および超高純度の半導体製造用途で使用されるコンポーネント用の 316L ステンレス鋼の棒、鍛造品、押出形材、プレート、およびチューブの仕様
SEMI F20 - 汎用、高純度および超高純度の半導体製造用途で使用されるコンポーネント用の 316L ステンレス鋼の棒、鍛造品、押出形材、プレート、およびチューブの仕様 セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
MF177100 - SEMI MF1771 - 電圧ランプ技術によるゲート酸化膜の完全性を評価するための試験方法
SEMI MF1771 - 電圧ランプ技術によるゲート酸化膜の完全性を評価するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF172600 - SEMI MF1726 - シリコンウェーハの結晶学的完全性解析の実践
SEMI MF1726 - シリコンウェーハの結晶学的完全性解析の実践 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G09300 - SEMI G93 - ボール・グリッド・アレイ（BGA）パッケージ用はんだボールの測定方法
SEMI G93 - ボール・グリッド・アレイ（BGA）パッケージ用はんだボールの測定方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G04100 - SEMI G41 - デュアル ストリップ SOIC リードフレームの仕様
SEMI G41 - デュアル ストリップ SOIC リードフレームの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G06700 - SEMI G67 - シート材料からの粒子発生の測定のための試験方法
SEMI G67 - シート材料からの粒子発生の測定のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M06500 - SEMI M65 - 化合物半導体エピタキシャルウェーハに使用するサファイア基板の仕様
SEMI M65 - 化合物半導体エピタキシャルウェーハに使用するサファイア基板の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G09400 - SEMI G94 - 300 mm ウェーハ用コインスタック型テープフレーム輸送コンテナの仕様
SEMI G94 - 300 mm ウェーハ用コインスタック型テープフレーム輸送コンテナの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
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