SEMI 3D16 - 半導体パッケージ用ガラス基材の仕様

フィルター

並び替え:

1910 製品

M08400 - SEMI M84 - 窒化ガリウム・オン・シリコン用途向けの研磨単結晶シリコンウェーハの仕様
SEMI M84 - 窒化ガリウム・オン・シリコン用途向けの研磨単結晶シリコンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF198200 - SEMI MF1982 - 昇温脱離ガスクロマトグラフィーによるシリコンウェーハ表面の有機汚染物質の分析試験方法
SEMI MF1982 - 昇温脱離ガスクロマトグラフィーによるシリコンウェーハ表面の有機汚染物質の分析試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G07000 - SEMI G70 - プラスチックパッケージリードフレーム測定用の機器およびリードフレーム固定具の規格
SEMI G70 - プラスチックパッケージリードフレーム測定用の機器およびリードフレーム固定具の規格 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G02500 - SEMI G25 - パッケージ・リード抵抗の測定のための試験方法
SEMI G25 - パッケージ・リード抵抗の測定のための試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M07400 - SEMI M74 - 直径 450 mm の研磨ウェーハの機械的取り扱いの仕様
SEMI M74 - 直径 450 mm の研磨ウェーハの機械的取り扱いの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G06600 - SEMI G66 - 半導体プラスチック成形材料の吸水特性測定の試験方法
SEMI G66 - 半導体プラスチック成形材料の吸水特性測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF138900 - SEMI MF1389 - III-V 族不純物に対する単結晶シリコンのフォトルミネッセンス分析の試験方法
SEMI MF1389 - III-V 族不純物に対する単結晶シリコンのフォトルミネッセンス分析の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G04300 - SEMI G43 - 成形プラスチックパッケージのジャンクションからケースまでの熱抵抗測定の試験方法
SEMI G43 - 成形プラスチックパッケージのジャンクションからケースまでの熱抵抗測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G09600 - SEMI G96 - カンチレバーの曲げによるチップ（ダイ）強度の測定のための試験方法
SEMI G96 - カンチレバーの曲げによるチップ（ダイ）強度の測定のための試験方法 セール価格 Member Price : ¥113
MF139100 - SEMI MF1391 - 赤外線吸収によるシリコンの置換原子炭素含有量の試験方法
SEMI MF1391 - 赤外線吸収によるシリコンの置換原子炭素含有量の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF138800 - SEMI MF1388 - 金属酸化シリコン (MOS) コンデンサの静電容量時間測定によるシリコン材料の生成寿命と生成速度の試験方法
SEMI MF1388 - 金属酸化シリコン (MOS) コンデンサの静電容量時間測定によるシリコン材料の生成寿命と生成速度の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G08900 - SEMI G89 - リードフレーム ストリップ サイズの仕様
SEMI G89 - リードフレーム ストリップ サイズの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M06200 - SEMI M62 - シリコンエピタキシャルウェーハの仕様
SEMI M62 - シリコンエピタキシャルウェーハの仕様 セール価格 Member Price : ¥113
MF039100 - SEMI MF391 - 定常状態の表面光電圧の測定による外部半導体の少数キャリア拡散長の試験方法
SEMI MF391 - 定常状態の表面光電圧の測定による外部半導体の少数キャリア拡散長の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M00600 - SEMI M6 - 太陽光電池用シリコンウェーハの仕様
SEMI M6 - 太陽光電池用シリコンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥29,700
MF207400 - SEMI MF2074 - シリコンおよびその他の半導体ウェーハの直径測定ガイド
SEMI MF2074 - シリコンおよびその他の半導体ウェーハの直径測定ガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
HB00800 - SEMI HB8 - サファイア単結晶の方位を決定するための試験方法
SEMI HB8 - サファイア単結晶の方位を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F07000 - SEMI F70 - ガス供給システムの粒子寄与率を測定するための試験方法
SEMI F70 - ガス供給システムの粒子寄与率を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF152800 - SEMI MF1528 - 二次イオン質量分析による高濃度ドープ N 型シリコン基板のホウ素汚染測定の試験方法
SEMI MF1528 - 二次イオン質量分析による高濃度ドープ N 型シリコン基板のホウ素汚染測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G04100 - SEMI G41 - デュアル ストリップ SOIC リードフレームの仕様
SEMI G41 - デュアル ストリップ SOIC リードフレームの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF172600 - SEMI MF1726 - シリコンウェーハの結晶学的完全性解析の実践
SEMI MF1726 - シリコンウェーハの結晶学的完全性解析の実践 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G09300 - SEMI G93 - ボール・グリッド・アレイ（BGA）パッケージ用はんだボールの測定方法
SEMI G93 - ボール・グリッド・アレイ（BGA）パッケージ用はんだボールの測定方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
MF181100 - SEMI MF1811 - 表面プロファイルデータからパワースペクトル密度関数および関連仕上げパラメータを推定するためのガイド
SEMI MF1811 - 表面プロファイルデータからパワースペクトル密度関数および関連仕上げパラメータを推定するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M06500 - SEMI M65 - 化合物半導体エピタキシャルウェーハに使用するサファイア基板の仕様
SEMI M65 - 化合物半導体エピタキシャルウェーハに使用するサファイア基板の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100