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P03000 - SEMI P30 - 寸法測定用走査型電子顕微鏡（CD-SEM）の目録発行の実施要領
SEMI P30 - 寸法測定用走査型電子顕微鏡（CD-SEM）の目録発行の実施要領 할인 가격Member Price: ₩135
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G08500 - SEMI G85 - 맵데이타・포매트용 제품
SEMI G85 - 맵데이타・포매트용 제품 할인 가격Member Price: ₩135
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M06700 - SEMI M67 - 測定した厚さデータ配列からESFQR,ESFQD,ESBIR METRICS法を使ってウェーハの엣지근접형상状を決定するため의 作業方法
SEMI M67 - 測定した厚さデータ配列からESFQR,ESFQD,ESBIR METRICS法を使ってウェーハの엣지근접형상状を決定するため의 作業方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M04300 - SEMI M43 - 웨하나노포트그라피
SEMI M43 - 웨하나노포트그라피 할인 가격Member Price: ₩135
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M02900 - SEMI M29 - 300mm 배송 상자 사양
SEMI M29 - 300mm 배송 상자 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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D01700 - SEMI D17 - FPD갤러스 기반 장비용 카셋트 사양
SEMI D17 - FPD갤러스 기반 장비용 카셋트 사양 할인 가격Member Price: ₩135
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G06600 - SEMI G66 - 半導体用 프라스틱크모르딘그콘파운드의 吸湿特性の測定方法
SEMI G66 - 半導体用 프라스틱크모르딘그콘파운드의 吸湿特性の測定方法 할인 가격Member Price: ₩135
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G04200 - SEMI G42 - 半導体팍케이지노잘크션부와 周囲間の熱抵抗測定用標準熱抵抗測定基板の仕様
SEMI G42 - 半導体팍케이지노잘크션부와 周囲間の熱抵抗測定用標準熱抵抗測定基板の仕様 할인 가격Member Price: ₩135
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M03700 - SEMI M37 - 낮은 전위 밀도 인듐 인화물 웨이퍼에서 에칭 피트 밀도(EPD)를 측정하기 위한 테스트 방법
SEMI M37 - 낮은 전위 밀도 인듐 인화물 웨이퍼에서 에칭 피트 밀도(EPD)를 측정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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M03300 - SEMI M33 - TXRF(Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectroscopy)에 의한 실리콘 웨이퍼의 잔류 표면 오염 측정을 위한 테스트 방법
SEMI M33 - TXRF(Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectroscopy)에 의한 실리콘 웨이퍼의 잔류 표면 오염 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF039900 - SEMI MF399 - 헤테로피택셜 또는 폴리실리콘 층의 두께에 대한 테스트 방법
SEMI MF399 - 헤테로피택셜 또는 폴리실리콘 층의 두께에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
D03100 - SEMI D31 - FPD 사양 정의
SEMI D31 - FPD 사양 정의 할인 가격Member Price: ₩135
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MF053400 - SEMI MF534 - 실리콘 웨이퍼의 휨에 대한 테스트 방법
SEMI MF534 - 실리콘 웨이퍼의 휨에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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C00339 - SEMI C3.39 - NF3(三福化窒素) 99.98% 제품 사양
SEMI C3.39 - NF3(三福化窒素) 99.98% 제품 사양 할인 가격Member Price: ₩135
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M03900 - SEMI M39 - 半絶縁GaAs単結晶の抵抗率及びホール係数を測定しホーール移動度を決定する方法
SEMI M39 - 半絶縁GaAs単結晶の抵抗率及びホール係数を測定しホーール移動度を決定する方法 할인 가격Member Price: ₩135
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M03000 - SEMI M30 - 푸리에 변환 적외선 흡수 분광법에 의한 GaAs의 치환 원자 탄소 농도에 대한 표준 테스트 방법
SEMI M30 - 푸리에 변환 적외선 흡수 분광법에 의한 GaAs의 치환 원자 탄소 농도에 대한 표준 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P00600 - SEMI P6 - 포토마스크 등록 표시 사양
SEMI P6 - 포토마스크 등록 표시 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G06700 - SEMI G67 - シート材料から発生する粒子の測定の試験方法
SEMI G67 - シート材料から発生する粒子の測定の試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
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G07900 - SEMI G79 - 전체 디지털 타이밍 정확도 사양
SEMI G79 - 전체 디지털 타이밍 정확도 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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C04000 - SEMI C40 - 水酸化카리움45%溶液の仕様
SEMI C40 - 水酸化카리움45%溶液の仕様 할인 가격Member Price: ₩135
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P00600 - SEMI P6 - 포토마스크용 레지스트레이션마크
SEMI P6 - 포토마스크용 레지스트레이션마크 할인 가격Member Price: ₩135
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P01900 - SEMI P19 - 集積回路製造用 메트로로지파탄셀
SEMI P19 - 集積回路製造用 메트로로지파탄셀 할인 가격Member Price: ₩135
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P04200 - SEMI P42 - 웨하 빛광 시스템의 자동 레시피보타메 레치크루데이타의 교체
SEMI P42 - 웨하 빛광 시스템의 자동 레시피보타메 레치크루데이타의 교체 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
P03700 - SEMI P37 - 극자외선 리소그래피 기판 및 블랭크 사양
SEMI P37 - 극자외선 리소그래피 기판 및 블랭크 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
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