제품

필터

정렬 기준::

상품 1910개

MF172700 - SEMI MF1727 - 연마된 실리콘 웨이퍼에서 산화로 인한 결함 감지를 위한 실습
SEMI MF1727 - 연마된 실리콘 웨이퍼에서 산화로 인한 결함 감지를 위한 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF176300 - SEMI MF1763 - 선형 편광판의 콘트라스트 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1763 - 선형 편광판의 콘트라스트 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF177100 - SEMI MF1771 - 전압 램프 기술에 의한 게이트 산화물 무결성 평가를 위한 테스트 방법
SEMI MF1771 - 전압 램프 기술에 의한 게이트 산화물 무결성 평가를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF180900 - SEMI MF1809 - 실리콘의 구조적 결함을 묘사하기 위한 에칭 솔루션의 선택 및 사용 가이드
SEMI MF1809 - 실리콘의 구조적 결함을 묘사하기 위한 에칭 솔루션의 선택 및 사용 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF181000 - SEMI MF1810 - 실리콘 웨이퍼에서 우선적으로 에칭되거나 장식된 표면 결함을 계산하기 위한 테스트 방법
SEMI MF1810 - 실리콘 웨이퍼에서 우선적으로 에칭되거나 장식된 표면 결함을 계산하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF181100 - SEMI MF1811 - 표면 프로필 데이터에서 전력 스펙트럼 밀도 함수 및 관련 마감 매개변수를 추정하기 위한 안내서
SEMI MF1811 - 표면 프로필 데이터에서 전력 스펙트럼 밀도 함수 및 관련 마감 매개변수를 추정하기 위한 안내서 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF198200 - SEMI MF1982 - 열 탈착 가스 크로마토그래피에 의한 실리콘 웨이퍼 표면의 유기 오염 물질 분석을 위한 테스트 방법
SEMI MF1982 - 열 탈착 가스 크로마토그래피에 의한 실리콘 웨이퍼 표면의 유기 오염 물질 분석을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF207400 - SEMI MF2074 - 실리콘 및 기타 반도체 웨이퍼의 직경 측정 가이드
SEMI MF2074 - 실리콘 및 기타 반도체 웨이퍼의 직경 측정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF213900 - SEMI MF2139 - 2차 이온 질량분석법으로 실리콘 기판의 질소 농도를 측정하는 테스트 방법
SEMI MF2139 - 2차 이온 질량분석법으로 실리콘 기판의 질소 농도를 측정하는 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF216600 - SEMI MF2166 - 특수 참조 웨이퍼를 사용하여 비접촉 유전체 특성화 시스템 모니터링 방법
SEMI MF2166 - 특수 참조 웨이퍼를 사용하여 비접촉 유전체 특성화 시스템 모니터링 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
마이크로칩과 태양광 칩
마이크로칩과 태양광 칩 할인 가격Member Price:
Non-Member Price: ₩37,000
MS00100 - SEMI MS1 - 웨이퍼-웨이퍼 접합 정렬 대상 지정 가이드
SEMI MS1 - 웨이퍼-웨이퍼 접합 정렬 대상 지정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MS00200 - SEMI MS2 - 박막의 단차 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MS2 - 박막의 단차 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MS00300 - SEMI MS3 - MEMS 기술 용어집
SEMI MS3 - MEMS 기술 용어집 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MS00400 - SEMI MS4 - Test Method for Young's Modulus Measurements of Thin, Reflecting Films Based on the Frequency of Beams in Resonance
SEMI MS4 - Test Method for Young's Modulus Measurements of Thin, Reflecting Films Based on the Frequency of Beams in Resonance 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MS00500 - SEMI MS5 - Micro-Chevron 테스트 구조를 사용한 웨이퍼 결합 강도 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MS5 - Micro-Chevron 테스트 구조를 사용한 웨이퍼 결합 강도 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MS00600 - SEMI MS6 - 미세 유체 시스템 인터페이스용 설계 및 재료 가이드
SEMI MS6 - 미세 유체 시스템 인터페이스용 설계 및 재료 가이드 정상 가격₩451,000 KRW 할인 가격₩291,000 KRW
MS00700 - SEMI MS7 - 전자 장치 패키지에 대한 미세유체 인터페이스 사양
SEMI MS7 - 전자 장치 패키지에 대한 미세유체 인터페이스 사양 정상 가격₩451,000 KRW 할인 가격₩291,000 KRW
MS00800 - SEMI MS8 - MEMS(Microelectromechanical Systems) 패키지의 밀폐성 평가 가이드
SEMI MS8 - MEMS(Microelectromechanical Systems) 패키지의 밀폐성 평가 가이드 정상 가격₩451,000 KRW 할인 가격₩291,000 KRW
MS00900 - SEMI MS9 - 미세 유체 장치 간의 고밀도 영구 연결 사양
SEMI MS9 - 미세 유체 장치 간의 고밀도 영구 연결 사양 정상 가격₩451,000 KRW 할인 가격₩291,000 KRW
MS01000 - SEMI MS10 - MEMS 패키징 재료를 통한 유체 침투 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MS10 - MEMS 패키징 재료를 통한 유체 침투 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MS01100 - SEMI MS11 - Specification for Microfluidic Port and Pitch Dimensions
SEMI MS11 - Specification for Microfluidic Port and Pitch Dimensions 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MS01200 - SEMI MS12 - MEMS 장치 제조에 사용되는 실리콘 기판 사양
SEMI MS12 - MEMS 장치 제조에 사용되는 실리콘 기판 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MS01300 - SEMI MS13 - DRIE(Deep Reactive Ion Etching) 공정 특성화를 위한 테스트 패턴 사용 가이드
SEMI MS13 - DRIE(Deep Reactive Ion Etching) 공정 특성화를 위한 테스트 패턴 사용 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000