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MF039700 - SEMI MF397 - 2점 프로브를 사용한 실리콘 바의 비저항 테스트 방법
SEMI MF397 - 2점 프로브를 사용한 실리콘 바의 비저항 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF039800 - SEMI MF398 - 플라즈마 공진 최소의 파장 또는 파장 측정에 의한 반도체의 주요 캐리어 농도 테스트 방법
SEMI MF398 - 플라즈마 공진 최소의 파장 또는 파장 측정에 의한 반도체의 주요 캐리어 농도 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF039900 - SEMI MF399 - 헤테로피택셜 또는 폴리실리콘 층의 두께에 대한 테스트 방법
SEMI MF399 - 헤테로피택셜 또는 폴리실리콘 층의 두께에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF052300 - SEMI MF523 - 연마된 실리콘 웨이퍼 표면의 육안 검사 실습
SEMI MF523 - 연마된 실리콘 웨이퍼 표면의 육안 검사 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF052500 - SEMI MF525 - 확산 저항 프로브를 사용하여 실리콘 웨이퍼의 비저항 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF525 - 확산 저항 프로브를 사용하여 실리콘 웨이퍼의 비저항 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF053300 - SEMI MF533 - 실리콘 웨이퍼의 두께 및 두께 편차에 대한 테스트 방법
SEMI MF533 - 실리콘 웨이퍼의 두께 및 두께 편차에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF053400 - SEMI MF534 - 실리콘 웨이퍼의 휨에 대한 테스트 방법
SEMI MF534 - 실리콘 웨이퍼의 휨에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF057600 - SEMI MF576 - 엘립소메트리에 의한 실리콘 기판의 절연체 두께 및 굴절률 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF576 - 엘립소메트리에 의한 실리콘 기판의 절연체 두께 및 굴절률 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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MF065700 - SEMI MF657 - 비접촉 스캐닝에 의한 실리콘 웨이퍼의 휨 및 총 두께 변화 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF657 - 비접촉 스캐닝에 의한 실리콘 웨이퍼의 휨 및 총 두께 변화 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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MF067100 - SEMI MF671 - 실리콘 및 기타 전자 재료의 웨이퍼에서 평면 길이 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF671 - 실리콘 및 기타 전자 재료의 웨이퍼에서 평면 길이 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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MF067200 - SEMI MF672 - 확산 저항 프로브를 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면에 수직인 비저항 프로파일 측정 가이드
SEMI MF672 - 확산 저항 프로브를 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면에 수직인 비저항 프로파일 측정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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MF067300 - SEMI MF673 - 비접촉 와전류 게이지로 반도체 웨이퍼의 비저항 또는 반도체 필름의 시트 저항을 측정하기 위한 테스트 방법
SEMI MF673 - 비접촉 와전류 게이지로 반도체 웨이퍼의 비저항 또는 반도체 필름의 시트 저항을 측정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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MF067400 - SEMI MF674 - 확산 저항 측정을 위한 실리콘 준비 실습
SEMI MF674 - 확산 저항 측정을 위한 실리콘 준비 실습 할인 가격Member Price: ₩113
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MF072300 - SEMI MF723 - 붕소 도핑, 인 도핑 및 비소 도핑 실리콘에 대한 비저항과 도펀트 또는 캐리어 밀도 간 변환 실습
SEMI MF723 - 붕소 도핑, 인 도핑 및 비소 도핑 실리콘에 대한 비저항과 도펀트 또는 캐리어 밀도 간 변환 실습 할인 가격Member Price: ₩113
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MF072800 - SEMI MF728 - 치수 측정을 위한 광학 현미경 준비 실습
SEMI MF728 - 치수 측정을 위한 광학 현미경 준비 실습 할인 가격Member Price: ₩113
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MF084700 - SEMI MF847 - X-Ray 기법으로 단결정 실리콘 웨이퍼에서 플랫의 결정학적 방향을 측정하기 위한 테스트 방법
SEMI MF847 - X-Ray 기법으로 단결정 실리콘 웨이퍼에서 플랫의 결정학적 방향을 측정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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MF092800 - SEMI MF928 - 원형 반도체 웨이퍼 및 경질 디스크 기판의 에지 윤곽에 대한 테스트 방법
SEMI MF928 - 원형 반도체 웨이퍼 및 경질 디스크 기판의 에지 윤곽에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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MF095000 - SEMI MF950 - 기계적으로 가공된 실리콘 웨이퍼 표면의 결정 손상 깊이를 Angle Polished 및 Defect Etching으로 측정하는 테스트 방법
SEMI MF950 - 기계적으로 가공된 실리콘 웨이퍼 표면의 결정 손상 깊이를 Angle Polished 및 Defect Etching으로 측정하는 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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MF095100 - SEMI MF951 - 실리콘 웨이퍼의 방사형 침입형 산소 변화 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF951 - 실리콘 웨이퍼의 방사형 침입형 산소 변화 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF097800 - SEMI MF978 - 과도 커패시턴스 기술로 반도체 딥 레벨을 특성화하기 위한 테스트 방법
SEMI MF978 - 과도 커패시턴스 기술로 반도체 딥 레벨을 특성화하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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MF104800 - SEMI MF1048 - 반사 총 통합 산란 측정을 위한 테스트 방법MF104800 - SEMI MF1048 - 반사 총 통합 산란 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1048 - 반사 총 통합 산란 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF104900 - SEMI MF1049 - 실리콘 웨이퍼의 Shallow Etch Pit 검출 실습
SEMI MF1049 - 실리콘 웨이퍼의 Shallow Etch Pit 검출 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF115200 - SEMI MF1152 - 실리콘 웨이퍼의 노치 치수 테스트 방법
SEMI MF1152 - 실리콘 웨이퍼의 노치 치수 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF115300 - SEMI MF1153 - 커패시턴스-전압 측정에 의한 금속 산화물 실리콘(MOS) 구조의 특성화를 위한 테스트 방법
SEMI MF1153 - 커패시턴스-전압 측정에 의한 금속 산화물 실리콘(MOS) 구조의 특성화를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000