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M03900 - SEMI M39 - 半絶縁GaAs単結晶の抵抗率及びホール係数を測定しホーール移動度を決定する方法
SEMI M39 - 半絶縁GaAs単結晶の抵抗率及びホール係数を測定しホーール移動度を決定する方法 할인 가격Member Price: ₩135
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M04000 - SEMI M40 - 광택 웨이퍼의 평면 표면 거칠기 측정 가이드
SEMI M40 - 광택 웨이퍼의 평면 표면 거칠기 측정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩241,000
M04000 - SEMI M40 - 시리콘 웨하 화면의 라후네스 확정 가이드
SEMI M40 - 시리콘 웨하 화면의 라후네스 확정 가이드 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩288,000
M04100 - SEMI M41 - 전력 장치/IC용 SOI(Silicon-on-Insulator) 사양
SEMI M41 - 전력 장치/IC용 SOI(Silicon-on-Insulator) 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩241,000
M04100 - SEMI M41 - 전자 데바이스/IC용 시리콘・온・인슈레이타(SOI)の仕様
SEMI M41 - 전자 데바이스/IC용 시리콘・온・인슈레이타(SOI)の仕様 할인 가격Member Price: ₩135
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M04200 - SEMI M42 - 복합 반도체 에피택셜 웨이퍼 사양
SEMI M42 - 복합 반도체 에피택셜 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩241,000
M04200 - SEMI M42 - 화합물화합물체 에피타키샤르웨하노사
SEMI M42 - 화합물화합물체 에피타키샤르웨하노사 할인 가격Member Price: ₩135
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M04300 - SEMI M43 - 웨이퍼 나노토포그래피 보고 가이드
SEMI M43 - 웨이퍼 나노토포그래피 보고 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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M04300 - SEMI M43 - 웨하나노포트그라피
SEMI M43 - 웨하나노포트그라피 할인 가격Member Price: ₩135
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M04400 - SEMI M44 - 실리콘의 침입형 산소에 대한 변환 계수 가이드
SEMI M44 - 실리콘의 침입형 산소에 대한 변환 계수 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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M04400 - SEMI M44 - 시리콘중의 酸素の換算係数가이드
SEMI M44 - 시리콘중의 酸素の換算係数가이드 할인 가격Member Price: ₩135
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M04500 - SEMI M45 - 300 mm웨하십핑 시스템
SEMI M45 - 300 mm웨하십핑 시스템 할인 가격Member Price: ₩135
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M04500 - SEMI M45 - 300mm 웨이퍼 운송 시스템 사양
SEMI M45 - 300mm 웨이퍼 운송 시스템 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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M04600 - SEMI M46 - ECV 법에 따라 에피타키시야의 캘리 아 인 도 프로 파 일을 확신 하는 방법
SEMI M46 - ECV 법에 따라 에피타키시야의 캘리 아 인 도 프로 파 일을 확신 하는 방법 할인 가격Member Price: ₩135
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M04600 - SEMI M46 - ECV 프로파일링을 통해 에피택셜 층 구조에서 캐리어 농도를 측정하기 위한 테스트 방법
SEMI M46 - ECV 프로파일링을 통해 에피택셜 층 구조에서 캐리어 농도를 측정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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M04700 - SEMI M47 - CMOS LSI 애플리케이션용 SOI(Silicon-on-Insulator) 웨이퍼 사양
SEMI M47 - CMOS LSI 애플리케이션용 SOI(Silicon-on-Insulator) 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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M04800 - SEMI M48 - 패턴이 없는 실리콘 기판의 필름에 대한 화학-기계적 연마 공정 평가 가이드
SEMI M48 - 패턴이 없는 실리콘 기판의 필름에 대한 화학-기계적 연마 공정 평가 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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M04900 - SEMI M49 - 130nm에서 65nm까지의 최신 시리콘 웨하용 지오메트리 정정 시스템 정정의 가이드
SEMI M49 - 130nm에서 65nm까지의 최신 시리콘 웨하용 지오메트리 정정 시스템 정정의 가이드 할인 가격Member Price: ₩135
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M04900 - SEMI M49 - 130nm ~ 16nm 기술 세대를 위한 실리콘 웨이퍼용 형상 측정 시스템 지정 가이드
SEMI M49 - 130nm ~ 16nm 기술 세대를 위한 실리콘 웨이퍼용 형상 측정 시스템 지정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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M05000 - SEMI M50 - 오버레이 방법으로 표면 스캐닝 검사 시스템의 캡처율 및 오계수율을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI M50 - 오버레이 방법으로 표면 스캐닝 검사 시스템의 캡처율 및 오계수율을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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M05000 - SEMI M50 - 오버레이법에 による走査型表面検査system用捕獲率および偽計数率を決定するための試験方法
SEMI M50 - 오버레이법에 による走査型表面検査system用捕獲率および偽計数率を決定するための試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
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M05100 - SEMI M51 - Test Method for Characterizing Silicon Wafer by Gate Oxide Integrity - SEMI Dev 2
SEMI M51 - 게이트 산화물 무결성으로 실리콘 웨이퍼를 특성화하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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M05100 - SEMI M51 - SiO2의 시계열에 대한 시리콘 웨하 정보(TZDB)의 試験方法
SEMI M51 - SiO2의 시계열에 대한 시리콘 웨하 정보(TZDB)의 試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩288,000
M05200 - SEMI M52 - 130nm，90nm，65nm および45nm 技術世代 シリコンウェーハ用 走査型表面検査装置仕様のためのgaid
SEMI M52 - 130nm，90nm，65nm および45nm 技術世代 シリコンウェーハ用 走査型表面検査装置仕様のためのgaid 할인 가격Member Price: ₩135
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