Japan Store
제품
필터
상품 1910개
SEMI MF1188 - 짧은 기준선으로 적외선 흡수에 의한 실리콘의 격자간 산소 함량 테스트 방법
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1239 - 침입형 산소 환원 측정에 의한 실리콘 웨이퍼의 산소 석출 특성 시험 방법
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1366 - 2차 이온 질량 분석법으로 고농도 도핑된 실리콘 기판의 산소 농도 측정을 위한 테스트 방법
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1388 - MOS(Metal-Oxide-Silicon) 커패시터의 커패시턴스-시간 측정에 의한 실리콘 재료의 생성 수명 및 생성 속도에 대한 테스트 방법
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1389 - III-V 불순물에 대한 단결정 실리콘의 광발광 분석을 위한 테스트 방법
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1390 - 자동 비접촉 스캐닝으로 실리콘 웨이퍼의 휨 및 휨을 측정하는 테스트 방법
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1391 - 적외선 흡수에 의한 실리콘의 치환원자탄소 함량 시험방법
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1392 - 수은 프로브를 사용한 커패시턴스-전압 측정을 통해 실리콘 웨이퍼의 순 캐리어 밀도 프로파일을 결정하기 위한 테스트 방법
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1451 - 자동화된 비접촉 스캐닝에 의한 실리콘 웨이퍼 상의 소리 측정을 위한 테스트 방법
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1527 - 실리콘의 비저항 측정 기기의 교정 및 제어를 위한 인증된 기준 물질 및 기준 웨이퍼 적용 안내서
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1528 - 2차 이온 질량 분석법으로 고농도 도핑된 N형 실리콘 기판의 붕소 오염을 측정하는 테스트 방법
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1529 - 이중 구성 절차를 사용하는 인라인 4점 프로브에 의한 시트 저항 균일성 평가를 위한 테스트 방법
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1530 - 자동화된 비접촉 스캐닝에 의한 실리콘 웨이퍼의 편평도, 두께 및 전체 두께 편차 측정을 위한 테스트 방법
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1535 - 전자 등급 실리콘 웨이퍼의 캐리어 재결합 수명 테스트 방법
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1569 - 반도체 기술에 대한 합의 참조 자료 생성 가이드
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1617 - 2차 이온 질량 분석법으로 실리콘 및 EPI 기판의 표면 나트륨, 알루미늄, 칼륨 및 철 측정을 위한 테스트 방법
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1618 - 실리콘 웨이퍼 상의 박막 균일도 측정 실습
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1619 - 브루스터 각도에서 p-편광 방사 입사를 사용한 적외선 흡수 분광법에 의한 실리콘 웨이퍼의 격자간 산소 함량 측정을 위한 테스트 방법
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1630 - III-V 불순물에 대한 단결정 실리콘의 저온 FT-IR 분석을 위한 테스트 방법
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1708 - Melter-Zoner Spectroscopies에 의한 세분화된 폴리실리콘 평가 실습
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1723 - 플로트 존 결정 성장 및 분광법에 의한 다결정 실리콘 막대 평가 실습
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1724 - 산 추출-원자 흡수 분광법에 의한 다결정 실리콘의 표면 금속 오염 측정 방법
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1725 - 실리콘 잉곳의 결정학적 완전성 분석 실습
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000
SEMI MF1726 - 실리콘 웨이퍼의 결정학적 완전성 분석 실습
할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
Non-Member Price: ₩291,000