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M02100 - SEMI M21 - 데카르트 배열의 직사각형 요소에 주소 할당 가이드
SEMI M21 - 데카르트 배열의 직사각형 요소에 주소 할당 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M02100 - SEMI M21 - 카테시안(데카르트)아레이에 입는 형태의 엘레멘트베의 割当아드레스의 가이드
M02200 - SEMI M22 - 유전체 절연(DI) 웨이퍼 사양
SEMI M22 - 유전체 절연(DI) 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M02300 - SEMI M23 - 연마된 단결정 인듐 인화물 웨이퍼 사양
SEMI M23 - 연마된 단결정 인듐 인화물 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M02300 - SEMI M23 - 鏡面単結晶인지움린웨하노사
SEMI M23 - 鏡面単結晶인지움린웨하노사 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M02400 - SEMI M24 - 광택 처리된 단결정 실리콘 프리미엄 웨이퍼 사양
SEMI M24 - 광택 처리된 단결정 실리콘 프리미엄 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M02400 - SEMI M24 - 鏡面単結晶 프레미암시리콘웨하노사
SEMI M24 - 鏡面単結晶 프레미암시리콘웨하노사 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M02600 - SEMI M26 - 웨이퍼 운송에 사용되는 100, 125, 150 및 200mm 웨이퍼 배송 상자 재사용 가이드
M02600 - SEMI M26 - 웨하노 運搬에 사용 가능한 100 mm,125 mm,150 mm,200 mm웨하식복스의 再利용 가이드
M02900 - SEMI M29 - 300 mm쉽핑박스 사양
SEMI M29 - 300 mm쉽핑박스 사양 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M02900 - SEMI M29 - 300mm 배송 상자 사양
SEMI M29 - 300mm 배송 상자 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M03000 - SEMI M30 - 푸리에 변환 적외선 흡수 분광법에 의한 GaAs의 치환 원자 탄소 농도에 대한 표준 테스트 방법
M03100 - SEMI M31 - 300 mm웨하노구출용 프런트오픈・싱핑복스노기공
SEMI M31 - 300 mm웨하노구출용 프런트오픈・싱핑복스노기공 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M03100 - SEMI M31 - 300mm 웨이퍼 운송 및 배송에 사용되는 전면 개방 배송 상자의 기계적 특징 사양
M03200 - SEMI M32 - 통계 사양 가이드
SEMI M32 - 통계 사양 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M03200 - SEMI M32 - 최신 가이드
SEMI M32 - 최신 가이드 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M03300 - SEMI M33 - TXRF(Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectroscopy)에 의한 실리콘 웨이퍼의 잔류 표면 오염 측정을 위한 테스트 방법
M03400 - SEMI M34 - SIMOX 웨이퍼 지정 가이드
SEMI M34 - SIMOX 웨이퍼 지정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M03400 - SEMI M34 - SIMOX 웨하를 한정하는 방법
SEMI M34 - SIMOX 웨하를 한정하는 방법 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩271,000
M03500 - SEMI M35 - 자동 검사로 감지되는 실리콘 웨이퍼 표면 특징에 대한 사양 개발 가이드
M03500 - SEMI M35 - 自動検査により検出されるシリコンウェーハ表面特性の仕様を開発するためのgaid
M03600 - SEMI M36 - 낮은 전위 밀도 갈륨 비소 웨이퍼에서 에칭 피트 밀도(EPD)를 측정하기 위한 테스트 방법
M03600 - SEMI M36 - 低転位密度GaAs基板のetchpitt密度(EPD)測定方法
SEMI M36 - 低転位密度GaAs基板のetchpitt密度(EPD)測定方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M03700 - SEMI M37 - 낮은 전위 밀도 인듐 인화물 웨이퍼에서 에칭 피트 밀도(EPD)를 측정하기 위한 테스트 방법