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1625 製品
SEMI 3D1 - 幾何学的計測によるスルーシリコンの用語
セール価格Member Price: ¥113
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SEMI 3D2 - 3DS-IC アプリケーション用のガラスキャリアウェーハの仕様
セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
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SEMI 3D3 - テープフレーム上の 300 mm 薄型シリコンウェーハ用マルチウェーハ輸送および保管コンテナのガイド
セール価格Member Price: ¥150
Non-Member Price: ¥31,900
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SEMI 3D1 - スルーシリコンビア(TSV)の幾何学的計測のための用語
通常価格¥49,500 JPY
セール価格¥38,100 JPY
SEMI A1 - 生産機器スマート接続インターフェース (PESCI) の仕様
セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥28,100
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SEMI 3D4 - 貼り合わせたウェーハスタックの厚さ、総厚さ変動(TTV)、反り、反り/反り、および平坦度を測定するための計測ガイド
セール価格Member Price: ¥113
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SEMI FH6 - Terminology for Flexible Hybrid Electronics (FHE)
セール価格Member Price:
Non-Member Price: ¥31,900
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SEMI A1 - Specification for Production Equipment Smart Connection Interface (PESCI)
セール価格
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SEMI P39 - Specification for OASIS® – Open Artwork System Interchange Standard
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Non-Member Price: ¥62,700
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SEMI S9 - SEMI S22 に移行された半導体製造装置の電気設計検証テストのガイド
セール価格Member Price: ¥113
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SEMI S11 - 半導体製造装置のミニ環境に関する環境、安全、および健康に関するガイドライン
セール価格Member Price: ¥113
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SEMI S15 - 有毒ガスおよび可燃性ガス検知システムの評価に関する安全ガイドライン
セール価格Member Price: ¥113
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SEMI E38 - クラスター ツール モジュール通信 (CTMC)
セール価格Member Price: ¥113
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SEMI M22 - 誘電体絶縁 (DI) ウェーハの仕様
セール価格Member Price: ¥113
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SEMI F15 - パソコンの試験方法(六フッ化硫黄のトレーサガス)のSEMI S6への移行
セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
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SEMI F17 - 高純度高品質電解研磨 316L ステンレス鋼チューブ、コンポーネントチューブスタブ、およびチューブ製継手の仕様
セール価格Member Price: ¥113
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SEMI D83 - Test Method for Warm-Up Properties of Display Picture Quality
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SEMI HB14 - Test Method for Determining Geometrical Parameters of Patterns on Patterned Sapphire Substrate
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SEMI FH1 - Test Method of Line Impedance for Electronic Textiles
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SEMI FH2 - Test Method of Sheet Resistance for Woven Electronic Textiles
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SEMI M92 - Specification for 4H-SIC Homoepitaxial Wafer
セール価格¥31,900 JPY
から
SEMI PV100 - Test Method of Wind Uplift Resistance for Photovoltaic Modules Roof (BIPV)
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SEMI P49 - Specification for Experimental Curvilinear Multigon Extension to SEMI P39
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SEMI PV101 - Guide for Scrap Judgement of Photovoltaic Modules in Building
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