個別基準

ページ上部の検索フォームを使用して標準を検索するか、以下のボリューム、トピック、および言語別に参照します。

フィルター

並び替え:

1222 製品

M07800 - SEMI M78 - 大量生産における 130 nm ～ 22 nm 世代のパターン化されていないシリコン ウェーハのナノトポグラフィーを決定するためのガイド
SEMI M78 - 大量生産における 130 nm ～ 22 nm 世代のパターン化されていないシリコン ウェーハのナノトポグラフィーを決定するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G08300 - SEMI G83 - 製品パッケージのバーコードマーキングの仕様
SEMI G83 - 製品パッケージのバーコードマーキングの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M00800 - SEMI M8 - 研磨単結晶シリコンテストウェハの仕様
SEMI M8 - 研磨単結晶シリコンテストウェハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M03500 - SEMI M35 - 自動検査によって検出されるシリコンウェーハ表面特徴の仕様開発ガイド
SEMI M35 - 自動検査によって検出されるシリコンウェーハ表面特徴の仕様開発ガイド セール価格 Member Price : ¥113
MF037400 - SEMI MF374 - シングル構成手順によるインライン 4 点プローブを使用したシリコンエピタキシャル層、拡散層、ポリシリコン層、およびイオン注入層のシート抵抗の試験方法
SEMI MF374 - シングル構成手順によるインライン 4 点プローブを使用したシリコンエピタキシャル層、拡散層、ポリシリコン層、およびイオン注入層のシート抵抗の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M05500 - SEMI M55 - 研磨単結晶炭化ケイ素ウェハの仕様
SEMI M55 - 研磨単結晶炭化ケイ素ウェハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV04400 - SEMI PV44 - 太陽光発電モジュールのパッケージ保護技術の仕様
SEMI PV44 - 太陽光発電モジュールのパッケージ保護技術の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E05413 - SEMI E54.13 - Ethernet/IP(TM) 用のセンサー/アクチュエーター ネットワーク通信の仕様
SEMI E54.13 - Ethernet/IP(TM) 用のセンサー/アクチュエーター ネットワーク通信の仕様 セール価格 Member Price : ¥113
G05600 - SEMI G56 - 銀めっきの厚さを測定するための試験方法
SEMI G56 - 銀めっきの厚さを測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF139200 - SEMI MF1392 - 水銀プローブを使用した容量電圧測定によるシリコンウェーハの正味キャリア密度プロファイルを決定するための試験方法
SEMI MF1392 - 水銀プローブを使用した容量電圧測定によるシリコンウェーハの正味キャリア密度プロファイルを決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G08800 - SEMI G88 - 450 mm ウェーハ用テープフレームの仕様
SEMI G88 - 450 mm ウェーハ用テープフレームの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M05200 - SEMI M52 - 130 nm ～ 5 nm テクノロジー世代のシリコンウェーハ用走査表面検査システムの仕様ガイド
SEMI M52 - 130 nm ～ 5 nm テクノロジー世代のシリコンウェーハ用走査表面検査システムの仕様ガイド セール価格 Member Price : ¥113
G09300 - SEMI G93 - ボールグリッドアレイパッケージのはんだ球サイズの測定方法
SEMI G93 - ボールグリッドアレイパッケージのはんだ球サイズの測定方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G04200 - SEMI G42 - 半導体パッケージの接合部から周囲までの熱抵抗を測定するための熱試験ボードの標準化仕様
SEMI G42 - 半導体パッケージの接合部から周囲までの熱抵抗を測定するための熱試験ボードの標準化仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F02400 - SEMI F24 - グレード 10/0.2 不活性特殊ガスの粒子濃度の仕様
SEMI F24 - グレード 10/0.2 不活性特殊ガスの粒子濃度の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF004300 - SEMI MF43 - 半導体材料の抵抗率の試験方法
SEMI MF43 - 半導体材料の抵抗率の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G09000 - SEMI G90 - テストおよび包装プロセスに使用される 300 mm ウェーハコインスタック型輸送コンテナの仕様
SEMI G90 - テストおよび包装プロセスに使用される 300 mm ウェーハコインスタック型輸送コンテナの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF084700 - SEMI MF847 - X線技術による単結晶シリコンウェーハ上の平坦部の結晶方位を測定するための試験方法
SEMI MF847 - X線技術による単結晶シリコンウェーハ上の平坦部の結晶方位を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G06400 - SEMI G64 - フルメッキ集積回路リードフレームの仕様 (Au、Ag、Cu、Ni、Pd/Ni、Pd)
SEMI G64 - フルメッキ集積回路リードフレームの仕様 (Au、Ag、Cu、Ni、Pd/Ni、Pd) セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E04100 - SEMI E41 - 例外処理標準
SEMI E41 - 例外処理標準 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
PV03700 - SEMI PV37 - 太陽光発電用途で使用されるフッ素 (F2) のガイド
SEMI PV37 - 太陽光発電用途で使用されるフッ素 (F2) のガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M08000 - SEMI M80 - 450 mm ウェーハの輸送および出荷に使用される前開き輸送ボックスの仕様
SEMI M80 - 450 mm ウェーハの輸送および出荷に使用される前開き輸送ボックスの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F08100 - SEMI F81 - 半導体製造アプリケーションの流体分配システムにおけるガスタングステンアーク (GTA) 溶接の外観検査および合格に関する仕様
SEMI F81 - 半導体製造アプリケーションの流体分配システムにおけるガスタングステンアーク (GTA) 溶接の外観検査および合格に関する仕様 セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
F04000 - SEMI F40 - 化学試験用の液体化学物質分配コンポーネントとニートポリマーの準備の実践
SEMI F40 - 化学試験用の液体化学物質分配コンポーネントとニートポリマーの準備の実践 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
View All