SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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G10400 - SEMI G104 - 웨이퍼 레벨 패키징 및 패널 레벨 패키징용 캡슐화 재료의 습윤성 사양
SEMI G104 - 웨이퍼 레벨 패키징 및 패널 레벨 패키징용 캡슐화 재료의 습윤성 사양 할인 가격Member Price:
Non-Member Price: ₩239,000
T02400 - SEMI T24 - 패널 레벨 패키징(PLP) 애플리케이션의 유리 캐리어 특성에 대한 ID 마킹 사양
SEMI T24 - 패널 레벨 패키징(PLP) 애플리케이션의 유리 캐리어 특성에 대한 ID 마킹 사양 할인 가격Member Price:
Non-Member Price: ₩239,000
F12000 - SEMI F120 - 부식성 가스 시스템에 사용되는 스테인리스강의 전기화학적 임계 피팅 전압 테스트를 위한 테스트 방법
SEMI F120 - 부식성 가스 시스템에 사용되는 스테인리스강의 전기화학적 임계 피팅 전압 테스트를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
E13700 - SEMI E137 - 半导体制造设备总装、包装、运输、拆箱和搬运指南
SEMI E137 - 半导体制造设备总装、包装、运输、拆箱和搬运指南 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
E18000 - SEMI E180 - 通过ICP-MS测量半导体晶圆加工过程中关键腔室部件表面金属污染的试验方法
SEMI E180 - 通过ICP-MS测量半导体晶圆加工过程中关键腔室部件表面金属污染的试验方法 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
T01600 - SEMI T16-0310(재승인 0322) - 극자외선 리소그래피 마스크의 자동 식별을 위한 데이터 매트릭스 기호 사용 사양
SEMI T16-0310(재승인 0322) - 극자외선 리소그래피 마스크의 자동 식별을 위한 데이터 매트릭스 기호 사용 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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F02000 - SEMI F20 - 用于通用、高纯和超高纯半导体制造组件的316L不锈钢棒材、锻材、挤压型材、板材和管材的规范
SEMI F20 - 用于通用、高纯和超高纯半导体制造组件的316L不锈钢棒材、锻材、挤压型材、板材和管材的规范 할인 가격Member Price: ₩225
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M09100 - SEMI M91 - X선 토포그래피로 4H-SIC에서 스레딩 나사 전위 밀도 측정을 위한 테스트 방법
SEMI M91 - X선 토포그래피로 4H-SIC에서 스레딩 나사 전위 밀도 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
E18800 - SEMI E188 - Specification for Malware Free Equipment Integration
SEMI E188 - Specification for Malware Free Equipment Integration 할인 가격Member Price: ₩113
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T00700 - SEMI T7-0516 (Reapproved 0422) - Specification for Back Surface Marking of Double-Side Polished Wafers with a Two-Dimensional Matrix Code Symbol
SEMI T7-0516 (Reapproved 0422) - Specification for Back Surface Marking of Double-Side Polished Wafers with a Two-Dimensional Matrix Code Symbol 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩211,000
C10400 - SEMI C104 - Guide for Reporting Performance Parameters of the Polymer Windows for Chemical Mechanical Planarization (CMP) Pads Used in Semiconductor Manufacturing
SEMI C104 - Guide for Reporting Performance Parameters of the Polymer Windows for Chemical Mechanical Planarization (CMP) Pads Used in Semiconductor Manufacturing 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
MS01400 - SEMI MS14 - Guide for Critical Parameters of Gas Sensors
SEMI MS14 - Guide for Critical Parameters of Gas Sensors 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
F11800 - SEMI F118 - Test Method for Determination of Moisture Dry-Down Characteristics of Gas Delivery Components
SEMI F118 - Test Method for Determination of Moisture Dry-Down Characteristics of Gas Delivery Components 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
PV09700 - SEMI PV97 - Specification for Silicon Powder Used in Polysilicon Production
SEMI PV97 - Specification for Silicon Powder Used in Polysilicon Production 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
E18200 - SEMI E182 - 패널 레벨 패키징용 패널 FOUP 로드포트 사양
SEMI E182 - 패널 레벨 패키징용 패널 FOUP 로드포트 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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F11400 - SEMI F114 - 초고순도 화학 물질 전달 시스템 및 구성요소의 젖은 표면에 존재하는 유기 오염 물질 측정을 위한 테스트 방법
SEMI F114 - 초고순도 화학 물질 전달 시스템 및 구성요소의 젖은 표면에 존재하는 유기 오염 물질 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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E17800 - SEMI E178 - EDA 동결 버전 가이드
SEMI E178 - EDA 동결 버전 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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D03200 - SEMI D32 - 방향 모서리 통합을 통해 유리 FPD 기판의 정보 관리 개선을 위한 사양
SEMI D32 - 방향 모서리 통합을 통해 유리 FPD 기판의 정보 관리 개선을 위한 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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D01300 - SEMI D13 - FPD 컬러 필터 어셈블리에 대한 용어
SEMI D13 - FPD 컬러 필터 어셈블리에 대한 용어 할인 가격Member Price: ₩113
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D03500 - SEMI D35 - 冷陰極型蛍光管(CCFL) 특수성노정적정제법
SEMI D35 - 冷陰極型蛍光管(CCFL) 특수성노정적정제법 할인 가격Member Price: ₩135
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D04100 - SEMI D41 - FPD 이미지 품질 검사에서 SEMI MURA 측정 방법
SEMI D41 - FPD 이미지 품질 검사에서 SEMI MURA 측정 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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D04700 - SEMI D47 - 구부러진 냉음극 형광 램프의 측정을 위한 테스트 방법
SEMI D47 - 구부러진 냉음극 형광 램프의 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
D01500 - SEMI D15 - FPD 유리 기판 표면 굴곡 측정 방법
SEMI D15 - FPD 유리 기판 표면 굴곡 측정 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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D04300 - SEMI D43 - FPD 제조를 위한 AMHS의 기계적 진동 테스트 방법
SEMI D43 - FPD 제조를 위한 AMHS의 기계적 진동 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
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