SEMI 3D8 - 3DS-IC TBDB(Temporary Bond-Debond) 공정에서 300mm 캐리어 웨이퍼로 사용하기 위한 실리콘 웨이퍼 설명 가이드

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M00100 - SEMI M1 - 광택 단결정 실리콘 웨이퍼 사양
SEMI M1 - 광택 단결정 실리콘 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩225
Non-Member Price: ₩571,000
M05300 - SEMI M53 - 패턴이 없는 반도체 웨이퍼 표면에 단분산성 기준 구체의 인증 증착을 사용하여 스캐닝 표면 검사 시스템을 교정하기 위한 실습
M04900 - SEMI M49 - 130nm ~ 16nm 기술 세대를 위한 실리콘 웨이퍼용 형상 측정 시스템 지정 가이드
MF067300 - SEMI MF673 - 비접촉 와전류 게이지로 반도체 웨이퍼의 비저항 또는 반도체 필름의 시트 저항을 측정하기 위한 테스트 방법
M00900 - SEMI M9 - 연마된 단결정 갈륨 비소 웨이퍼 사양
SEMI M9 - 연마된 단결정 갈륨 비소 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M05900 - SEMI M59 - 실리콘 기술 용어
SEMI M59 - 실리콘 기술 용어 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
F05600 - SEMI F56 - 질량 흐름 컨트롤러에 대한 정상 상태 공급 전압 효과를 결정하기 위한 테스트 방법
MF139000 - SEMI MF1390 - 자동 비접촉 스캐닝으로 실리콘 웨이퍼의 휨 및 휨을 측정하는 테스트 방법
M07100 - SEMI M71 - CMOS LSI용 SOI(Silicon-on-Insulator) 웨이퍼 사양
SEMI M71 - CMOS LSI용 SOI(Silicon-on-Insulator) 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF052500 - SEMI MF525 - 확산 저항 프로브를 사용하여 실리콘 웨이퍼의 비저항 측정을 위한 테스트 방법
M01300 - SEMI M13 - 실리콘 웨이퍼의 영숫자 마킹 사양
SEMI M13 - 실리콘 웨이퍼의 영숫자 마킹 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G07700 - SEMI G77 - 300mm 웨이퍼용 프레임 카세트 사양
SEMI G77 - 300mm 웨이퍼용 프레임 카세트 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G01000 - SEMI G10 - 플라스틱 패키지 리드프레임의 기계적 측정을 위한 표준 방법
SEMI G10 - 플라스틱 패키지 리드프레임의 기계적 측정을 위한 표준 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF008100 - SEMI MF81 - 실리콘 웨이퍼의 방사형 비저항 변화 측정을 위한 테스트 방법
MF153000 - SEMI MF1530 - 자동화된 비접촉 스캐닝에 의한 실리콘 웨이퍼의 편평도, 두께 및 전체 두께 편차 측정을 위한 테스트 방법