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G02400 - SEMI G24 - 팍케이지・리드間の容量および付加容量の測定のための試験方法
SEMI G24 - 팍케이지・리드間の容量および付加容量の測定のための試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
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F06100 - SEMI F61 - 반도체 초순수 시스템의 설계 및 작동 가이드
SEMI F61 - 반도체 초순수 시스템의 설계 및 작동 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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MF104800 - SEMI MF1048 - 반사 총 통합 산란 측정을 위한 테스트 방법MF104800 - SEMI MF1048 - 반사 총 통합 산란 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1048 - 반사 총 통합 산란 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06600 - SEMI M66 - MIS 플랫 밴드 전압 절연체 두께 기법을 사용하여 산화물 및 고유전율 게이트 스택에서 유효 일함수를 추출하는 테스트 방법
SEMI M66 - MIS 플랫 밴드 전압 절연체 두께 기법을 사용하여 산화물 및 고유전율 게이트 스택에서 유효 일함수를 추출하는 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M07300 - SEMI M73 - 측정된 웨이퍼 에지 프로파일에서 관련 특성을 추출하기 위한 테스트 방법
SEMI M73 - 측정된 웨이퍼 에지 프로파일에서 관련 특성을 추출하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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MF115200 - SEMI MF1152 - 실리콘 웨이퍼의 노치 치수 테스트 방법
SEMI MF1152 - 실리콘 웨이퍼의 노치 치수 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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MF072800 - SEMI MF728 - 치수 측정을 위한 광학 현미경 준비 실습
SEMI MF728 - 치수 측정을 위한 광학 현미경 준비 실습 할인 가격Member Price: ₩113
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M06000 - SEMI M60 - SiO2의 종시계를 위한 시리콘 웨하 웨어러블의 経時絶縁破壊特性の試験方法
SEMI M60 - SiO2의 종시계를 위한 시리콘 웨하 웨어러블의 経時絶縁破壊特性の試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
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M04600 - SEMI M46 - ECV 법에 따라 에피타키시야의 캘리 아 인 도 프로 파 일을 확신 하는 방법
SEMI M46 - ECV 법에 따라 에피타키시야의 캘리 아 인 도 프로 파 일을 확신 하는 방법 할인 가격Member Price: ₩135
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MF152900 - SEMI MF1529 - 이중 구성 절차를 사용하는 인라인 4점 프로브에 의한 시트 저항 균일성 평가를 위한 테스트 방법
SEMI MF1529 - 이중 구성 절차를 사용하는 인라인 4점 프로브에 의한 시트 저항 균일성 평가를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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G04500 - SEMI G45 - 열경화성 몰딩 컴파운드의 플래시 특성 실습
SEMI G45 - 열경화성 몰딩 컴파운드의 플래시 특성 실습 할인 가격Member Price: ₩113
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F03400 - SEMI F34 - 액체 화학 파이프 라벨링 가이드
SEMI F34 - 액체 화학 파이프 라벨링 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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MF153500 - SEMI MF1535 - 전자 등급 실리콘 웨이퍼의 캐리어 재결합 수명 테스트 방법
SEMI MF1535 - 전자 등급 실리콘 웨이퍼의 캐리어 재결합 수명 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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M04200 - SEMI M42 - 복합 반도체 에피택셜 웨이퍼 사양
SEMI M42 - 복합 반도체 에피택셜 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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MF152700 - SEMI MF1527 - 실리콘의 비저항 측정 기기의 교정 및 제어를 위한 인증된 기준 물질 및 기준 웨이퍼 적용 안내서
SEMI MF1527 - 실리콘의 비저항 측정 기기의 교정 및 제어를 위한 인증된 기준 물질 및 기준 웨이퍼 적용 안내서 할인 가격Member Price: ₩113
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MF172700 - SEMI MF1727 - 연마된 실리콘 웨이퍼에서 산화로 인한 결함 감지를 위한 실습
SEMI MF1727 - 연마된 실리콘 웨이퍼에서 산화로 인한 결함 감지를 위한 실습 할인 가격Member Price: ₩113
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MF011000 - SEMI MF110 - 각도 래핑 및 염색 기법에 의한 실리콘의 에피택셜 또는 확산층 두께 테스트 방법
SEMI MF110 - 각도 래핑 및 염색 기법에 의한 실리콘의 에피택셜 또는 확산층 두께 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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M06800 - SEMI M68 - 測定した高さデータ配列から曲率法ZDDを使ってウェーハのedge近傍形状を決定するため의 作業方法
SEMI M68 - 測定した高さデータ配列から曲率法ZDDを使ってウェーハのedge近傍形状を決定するため의 作業方法 할인 가격Member Price: ₩135
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M01200 - SEMI M12 - 웨이퍼 전면의 일련의 영숫자 마킹 사양
SEMI M12 - 웨이퍼 전면의 일련의 영숫자 마킹 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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M01700 - SEMI M17 - 범용 웨이퍼 그리드용 가이드
SEMI M17 - 범용 웨이퍼 그리드용 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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M05400 - SEMI M54 - 반절연(SI) GaAs 재료 매개변수 가이드
SEMI M54 - 반절연(SI) GaAs 재료 매개변수 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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MF008400 - SEMI MF84 - 인라인 4점 프로브로 실리콘 웨이퍼의 비저항을 측정하는 테스트 방법
SEMI MF84 - 인라인 4점 프로브로 실리콘 웨이퍼의 비저항을 측정하는 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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G01100 - SEMI G11 - RAM Follower 겔 시간 및 열경화 성형 화합물의 스파이럴 흐름 실습
SEMI G11 - RAM Follower 겔 시간 및 열경화 성형 화합물의 스파이럴 흐름 실습 할인 가격Member Price: ₩113
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F07800 - SEMI F78 - 반도체 제조 응용 분야에서 유체 분배 시스템의 가스 텅스텐 아크(GTA) 용접 실습
SEMI F78 - 반도체 제조 응용 분야에서 유체 분배 시스템의 가스 텅스텐 아크(GTA) 용접 실습 할인 가격Member Price: ₩225
Non-Member Price: ₩572,000
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