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G02700 - SEMI G27 - Specification for Leadframes for Plastic Leaded Chip Carrier (PLCC) Packages
SEMI G27 - Specification for Leadframes for Plastic Leaded Chip Carrier (PLCC) Packages 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩226,000
P01400 - SEMI P14 - 黒鉛炉原子吸光分光法による포지티브포트레지스트中の錫の測定
SEMI P14 - 黒鉛炉原子吸光分光法による포지티브포트레지스트中の錫の測定 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
P01900 - SEMI P19 - 집적 회로 제조용 계측 패턴 셀 사양
SEMI P19 - 집적 회로 제조용 계측 패턴 셀 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P01400 - SEMI P14 - 흑연로 원자 흡수 분광법에 의한 포지티브 포토레지스트의 주석 측정
SEMI P14 - 흑연로 원자 흡수 분광법에 의한 포지티브 포토레지스트의 주석 측정 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
3D01900 - SEMI 3D19 - 얇은 칩 핸들링에 사용되는 접착 트레이의 접착 강도 테스트 방법
SEMI 3D19 - 얇은 칩 핸들링에 사용되는 접착 트레이의 접착 강도 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P02300 - SEMI P23 - 프로그램 欠陥 마스크 および 마스크 欠陥検査 시스템의 感度分析 ベンチマーク手順についてのgaidline
SEMI P23 - 프로그램 欠陥 마스크 および 마스크 欠陥検査 시스템의 感度分析 ベンチマーク手順についてのgaidline 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
MS00800 - SEMI MS8 - MEMS(Microelectromechanical Systems) 패키지의 밀폐성 평가 가이드
SEMI MS8 - MEMS(Microelectromechanical Systems) 패키지의 밀폐성 평가 가이드 정상 가격₩451,000 KRW 할인 가격₩290,000 KRW
M03700 - SEMI M37 - 低転位密度Inp基板のetchpitt密度(EPD)測定方法
SEMI M37 - 低転位密度Inp基板のetchpitt密度(EPD)測定方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
P04700 - SEMI P47 - 선 가장자리 거칠기 및 선폭 거칠기 평가를 위한 테스트 방법
SEMI P47 - 선 가장자리 거칠기 및 선폭 거칠기 평가를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G02600 - SEMI G26 - Specification for Hermetic Slam Chip Carrier Lids
SEMI G26 - Specification for Hermetic Slam Chip Carrier Lids 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩226,000
G08500 - SEMI G85 - 맵데이타・포매트용 제품
SEMI G85 - 맵데이타・포매트용 제품 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
P03000 - SEMI P30 - 寸法測定用走査型電子顕微鏡（CD-SEM）の目録発行の実施要領
SEMI P30 - 寸法測定用走査型電子顕微鏡（CD-SEM）の目録発行の実施要領 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M03700 - SEMI M37 - 낮은 전위 밀도 인듐 인화물 웨이퍼에서 에칭 피트 밀도(EPD)를 측정하기 위한 테스트 방법
SEMI M37 - 낮은 전위 밀도 인듐 인화물 웨이퍼에서 에칭 피트 밀도(EPD)를 측정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G00500 - SEMI G5 - 仕様 세라믹크칩캐리아(CCC)
SEMI G5 - 仕様 세라믹크칩캐리아(CCC) 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩290,000
P03700 - SEMI P37 - 극자외선 리소그래피 기판 및 블랭크 사양
SEMI P37 - 극자외선 리소그래피 기판 및 블랭크 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
C10300 - SEMI C103 - 반도체 제조에 사용되는 화학적 기계적 평탄화(CMP) 컨디셔닝 디스크의 성능 매개변수 보고 가이드
SEMI C103 - 반도체 제조에 사용되는 화학적 기계적 평탄화(CMP) 컨디셔닝 디스크의 성능 매개변수 보고 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P00600 - SEMI P6 - 포토마스크용 레지스트레이션마크
SEMI P6 - 포토마스크용 레지스트레이션마크 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
P01700 - SEMI P17 - 유도 결합 플라즈마 방출 분광법(ICP)에 의한 포지티브 포토레지스트 금속 이온 프리(MIF) 현상액의 철, 아연, 칼슘, 마그네슘, 구리, 붕소, 알루미늄, 크롬, 망간 및 니켈 측정
SEMI P17 - 유도 결합 플라즈마 방출 분광법(ICP)에 의한 포지티브 포토레지스트 금속 이온 프리(MIF) 현상액의 철, 아연, 칼슘, 마그네슘, 구리, 붕소, 알루미늄, 크롬, 망간 및 니켈 측정 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P00600 - SEMI P6 - 포토마스크 등록 표시 사양
SEMI P6 - 포토마스크 등록 표시 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P04200 - SEMI P42 - 웨하 빛광 시스템의 자동 레시피보타메 레치크루데이타의 교체
SEMI P42 - 웨하 빛광 시스템의 자동 레시피보타메 레치크루데이타의 교체 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M03900 - SEMI M39 - 半絶縁GaAs単結晶の抵抗率及びホール係数を測定しホーール移動度を決定する方法
SEMI M39 - 半絶縁GaAs単結晶の抵抗率及びホール係数を測定しホーール移動度を決定する方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M01400 - SEMI M14 - 반 절연 갈륨 비소 단결정의 이온 주입 및 활성화 공정 사양
SEMI M14 - 반 절연 갈륨 비소 단결정의 이온 주입 및 활성화 공정 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P02700 - SEMI P27 - 기판의 레지스트 두께 측정을 위한 파라미터 체크리스트
SEMI P27 - 기판의 레지스트 두께 측정을 위한 파라미터 체크리스트 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M02600 - SEMI M26 - 웨하노 運搬에 사용 가능한 100 mm，125 mm，150 mm，200 mm웨하식복스의 再利용 가이드
SEMI M26 - 웨하노 運搬에 사용 가능한 100 mm，125 mm，150 mm，200 mm웨하식복스의 再利용 가이드 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
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