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D07900 - SEMI D79 - 플렉서블 디스플레이의 로컬 및 전체 깜박임 테스트 방법
SEMI D79 - 플렉서블 디스플레이의 로컬 및 전체 깜박임 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
D08000 - SEMI D80 - 단기간에 높은 가스 차단성 플라스틱 필름의 수증기 투과율 측정을 위한 테스트 방법
G00300 - SEMI G3 - 사이드 브레이징 라미네이트 사양
SEMI G3 - 사이드 브레이징 라미네이트 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F11500 - SEMI F115 - 초고순도 화학 물질 전달 시스템 및 부품의 젖은 표면에 존재하는 금속 원소 측정을 위한 테스트 방법
G05300 - SEMI G53 - 금속 뚜껑/프리폼 어셈블리 사양
SEMI G53 - 금속 뚜껑/프리폼 어셈블리 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P01600 - SEMI P16 - 黒鉛炉原子吸光分光法による포지티비브포트레지스트・메타루이온후리(MIF)現像液中の錫の測定
P01600 - SEMI P16 - Graphite Furnace Atomic Absorption Spectroscopy에 의한 포지티브 포토레지스트 MIF(Metal Ion Free) 현상액의 주석 측정
M01900 - SEMI M19 - 바르크・가리움히素単結晶基板の電気的性質(仕様)
SEMI M19 - 바르크・가리움히素単結晶基板の電気的性質(仕様) 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
C09800 - SEMI C98 - 반도체 제조에 사용되는 화학적 기계적 평탄화(CMP) 입자 크기 분포(PSD) 측정 및 보고에 대한 안내서
M01900 - SEMI M19 - 벌크 갈륨 비소 단결정 기판의 전기적 특성 사양
SEMI M19 - 벌크 갈륨 비소 단결정 기판의 전기적 특성 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P00800 - SEMI P8 - 포토레지스트의 수분 측정을 위한 테스트 방법
SEMI P8 - 포토레지스트의 수분 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G04800 - SEMI G48 - Specification for Measurement Method for Molded Plastic Package Tooling
SEMI G48 - Specification for Measurement Method for Molded Plastic Package Tooling 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩226,000
T01400 - SEMI T14 - Specification for Micro ID on 300 mm Silicon Wafers
SEMI T14 - Specification for Micro ID on 300 mm Silicon Wafers 할인 가격Member Price: ₩225
Non-Member Price: ₩571,000
C10000 - SEMI C100 - Guide for Reporting Chemical Mechanical Planarization (CMP) Polishing Pads Hardness Used in Semiconductor Manufacturing
P01500 - SEMI P15 - 원자 흡수 분광법에 의한 포지티브 포토레지스트 금속 이온 프리(MIF) 현상액의 나트륨 및 칼륨 측정
P03400 - SEMI P34 - 230mm 정사각형 포토마스크 기판 사양
SEMI P34 - 230mm 정사각형 포토마스크 기판 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
C10100 - SEMI C101 - Test Method for Determining pH of Chemical Mechanical Planarization (CMP) Slurries and Related Chemicals
P00200 - SEMI P2 - 경질 표면 포토마스크용 크롬 박막 사양
SEMI P2 - 경질 표면 포토마스크용 크롬 박막 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P01200 - SEMI P12 - 유도 결합 플라즈마 방출 분광법(ICP)에 의한 포지티브 포토레지스트의 철, 아연, 칼슘, 마그네슘, 구리, 붕소, 알루미늄, 크롬, 망간 및 니켈 측정
P01500 - SEMI P15 - 原子吸光分光法によるよるポジティブフォトレジスト・메타루이온후리(MIF)現像液中のナトリウムとカリウムの測定
P04200 - SEMI P42 - 웨이퍼 노출 시스템으로의 자동 레시피 전송을 위한 레티클 데이터 사양
M03600 - SEMI M36 - 低転位密度GaAs基板のetchpitt密度(EPD)測定方法
SEMI M36 - 低転位密度GaAs基板のetchpitt密度(EPD)測定方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
G07600 - SEMI G76 - 테이프 캐리어 패키지(TCP)에 사용되는 폴리이미드 기반 접착 테이프 사양
T01300 - SEMI T13 - Specification for Device Tracking: Concepts, Behavior, and Services
SEMI T13 - Specification for Device Tracking: Concepts, Behavior, and Services 할인 가격Member Price: ₩225
Non-Member Price: ₩571,000
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