SEMI 3D16 - 반도체 패키징용 유리 기본 재료 사양

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C10400 - SEMI C104 - Guide for Reporting Performance Parameters of the Polymer Windows for Chemical Mechanical Planarization (CMP) Pads Used in Semiconductor Manufacturing
SEMI C104 - Guide for Reporting Performance Parameters of the Polymer Windows for Chemical Mechanical Planarization (CMP) Pads Used in Semiconductor Manufacturing 할인 가격Member Price: ₩113
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F07700 - SEMI F77 - 腐食性のgassysteme 사용 される合金表面の気化学的臨界孔食温度のtest方法
SEMI F77 - 腐食性のgassysteme 사용 される合金表面の気化学的臨界孔食温度のtest方法 할인 가격Member Price: ₩135
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P00300 - SEMI P3 - 경질 표면 포토플레이트용 포토레지스트/E-빔 레지스트 사양
SEMI P3 - 경질 표면 포토플레이트용 포토레지스트/E-빔 레지스트 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P02000 - SEMI P20 - EBレジストパラメータノカタログ公表のgaidline(提案)
SEMI P20 - EBレジストパラメータノカタログ公表のgaidline(提案) 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
G04400 - SEMI G44 - 세라믹 패키지를 금속으로 봉인하는 유리용 리드 마감 사양(액티브 장치만 해당)
SEMI G44 - 세라믹 패키지를 금속으로 봉인하는 유리용 리드 마감 사양(액티브 장치만 해당) 할인 가격Member Price: ₩113
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P01100 - SEMI P11 - アルカリ現像溶液に対する全規定度の測定のtest方法
SEMI P11 - アルカリ現像溶液に対する全規定度の測定のtest方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M07600 - SEMI M76 - 개발용 450mm 직경 연마 단결정 실리콘 웨이퍼용 사양
SEMI M76 - 개발용 450mm 직경 연마 단결정 실리콘 웨이퍼용 사양 정상 가격₩451,000 KRW 할인 가격₩290,000 KRW
M02300 - SEMI M23 - 鏡面単結晶인지움린웨하노사
SEMI M23 - 鏡面単結晶인지움린웨하노사 할인 가격Member Price: ₩135
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M03800 - SEMI M38 - 면리크레임시리콘웨하노사
SEMI M38 - 면리크레임시리콘웨하노사 할인 가격Member Price: ₩135
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M05600 - SEMI M56 - 計量装置の測定変動と偏りに起因する費用成分の作業法
SEMI M56 - 計量装置の測定変動と偏りに起因する費用成分の作業法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
P03400 - SEMI P34 - 230mm 각형 포트마스크기판 부품
SEMI P34 - 230mm 각형 포트마스크기판 부품 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
MS00900 - SEMI MS9 - 미세 유체 장치 간의 고밀도 영구 연결 사양
SEMI MS9 - 미세 유체 장치 간의 고밀도 영구 연결 사양 정상 가격₩451,000 KRW 할인 가격₩290,000 KRW
G03300 - SEMI G33 - Specification for Pressed Ceramic Pin Grid Array Packages
SEMI G33 - Specification for Pressed Ceramic Pin Grid Array Packages 할인 가격Member Price: ₩113
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M07300 - SEMI M73 - 확정된 웨이하엣지프로파일로부터 정보를 얻을 수 있는 특수성을 가진 테스트 방법
SEMI M73 - 확정된 웨이하엣지프로파일로부터 정보를 얻을 수 있는 특수성을 가진 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩135
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M01500 - SEMI M15 - 반 절연 갈륨 비소 웨이퍼에 대한 광택 웨이퍼 결함 한계 표
SEMI M15 - 반 절연 갈륨 비소 웨이퍼에 대한 광택 웨이퍼 결함 한계 표 할인 가격Member Price: ₩113
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C00357 - SEMI C3.57 - 실린다중전전자의 그레이드二酸化炭素,CO2の仕様
SEMI C3.57 - 실린다중전전자의 그레이드二酸化炭素,CO2の仕様 할인 가격Member Price: ₩135
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M07900 - SEMI M79 - 太陽電池用円盤状100mm鏡面研磨単結晶ゲルマニウムウェーハの仕様
SEMI M79 - 太陽電池用円盤状100mm鏡面研磨単結晶ゲルマニウムウェーハの仕様 할인 가격Member Price: ₩135
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M04900 - SEMI M49 - 130nm에서 65nm까지의 최신 시리콘 웨하용 지오메트리 정정 시스템 정정의 가이드
SEMI M49 - 130nm에서 65nm까지의 최신 시리콘 웨하용 지오메트리 정정 시스템 정정의 가이드 할인 가격Member Price: ₩135
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G06800 - SEMI G68 - 空気環境における半導体팍케이지노잘크션부토케이스間の熱抵抗測定の試験方法
SEMI G68 - 空気環境における半導体팍케이지노잘크션부토케이스間の熱抵抗測定の試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
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G00800 - SEMI G8 - 金めっきの試験方法
SEMI G8 - 金めっきの試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
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M01200 - SEMI M12 - 웨하 화면의 連続 영어 표기의 仕様
SEMI M12 - 웨하 화면의 連続 영어 표기의 仕様 할인 가격Member Price: ₩135
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F06200 - SEMI F62 - 周囲 およびgas 温度の影響에서 masfro-contro-ra性能特性を決定する試験方法
SEMI F62 - 周囲 およびgas 温度の影響에서 masfro-contro-ra性能特性を決定する試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
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D02200 - SEMI D22 - 平面顯示螢幕(FPD) 彩色濾光片總成顏色透光度計算之測試法
SEMI D22 - 平面顯示螢幕(FPD) 彩色濾光片總成顏色透光度計算之測試法 할인 가격Member Price: ₩113
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P04600 - SEMI P46 - XML에 의한 포토마스크의 CD(Critical Dimension) 측정 정보 데이터 사양
SEMI P46 - XML에 의한 포토마스크의 CD(Critical Dimension) 측정 정보 데이터 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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